电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统技术方案

本发明专利技术提供了一种电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统，通过向电源芯片提供一电压稳定的电源,使电源芯片在电源下正常工作，并测量电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；提供一射频模块，使射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将射频模块靠近电源芯片，测量射频模块靠近电源芯片过程中电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；根据电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定电源芯片的抗干扰性，本发明专利技术测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。

Anti interference test method and system of power supply chip

The invention provides an anti-interference test method and a system for a power supply chip. By providing a voltage stable power supply to the power supply chip, the power supply chip can work normally under the power supply, and the first voltage waveform curve of the output voltage of the power supply chip is measured; an RF module is provided, which makes the RF module work under the preset frequency and its maximum rated power, and the RF module Close to the power chip, measure the second voltage waveform curve of the output voltage of the power chip when the RF module is close to the power chip; determine the anti-interference of the power chip according to the first voltage waveform curve and the second voltage waveform curve of the power chip, the test method of the invention is simple, and can evaluate the anti-interference of the power chip without increasing the cost.

【技术实现步骤摘要】
电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统
本专利技术属于电池
，具体涉及一种电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统。
技术介绍
对通信行业来说，电源芯片经常会影响到射频的正常工作，同样，射频在工作时也会影响到电源芯片的正常工作。而电源芯片的不稳定性会直接导致整个系统无法正常工作，因此在选择电源芯片的时候需要格外注意，尤其要考虑是否会受到射频天线的影响，导致输出电压不稳的情况发生。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述问题而进行的，目的在于提供一种测试方法简单、能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本的电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统。本专利技术提供了一种电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：向电源芯片提供一电压稳定的电源,使所述电源芯片在所述电源下正常工作，并测量所述电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；提供一射频模块，使所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将所述射频模块靠近所述电源芯片，测量所述射频模块靠近所述电源芯片过程中所述电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性。进一步，在本专利技术提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。进一步，在本专利技术提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：向电源芯片提供一电压稳定的电源包括：将所述电源芯片安装于电源芯片测试板上，所述电源芯片测试板与一外接电源连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。进一步，在本专利技术提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：通过示波器测量所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线。进一步，在本专利技术提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性，包括：根据所述第一电压波形曲线和所述第二电压波形曲线，判断所述电源芯片的输出电压的上下波动是否在第一预设电压之内，若是，则所述射频芯片对所述电源芯片不存在干扰；否则所述射频芯片对所述电源芯片存在干扰。进一步，在本专利技术提供的电源芯片的抗干扰性测试方法中，还可以具有这样的特征：所述第一预设电压根据与所述电源芯片连接的后端芯片的工作电压范围确定。本专利技术提供了一种电源芯片的抗干扰性测试系统，其特征在于，包括：测量电路，用于向电源芯片提供一电压稳定的电源，使所述电源芯片在所述电源下正常工作；射频模块，所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，用于向所述电源芯片提供射频信号源；以及示波器，与所述电源芯片连接，用于测量所述电源芯片正常工作时的第一电压波形曲线和所述射频模块靠近所述电源芯片过程中的第二电压波形曲线。进一步，在本专利技术提供的电源芯片的抗干扰性测试系统中，还可以具有这样的特征：所述测量电路包括：电源芯片测试板以及外接电源，所述电源芯片安装在所述电源芯片测试板上，所述外接电源与所述电源芯片测试板连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。进一步，在本专利技术提供的电源芯片的抗干扰性测试系统中，还可以具有这样的特征：所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。本专利技术的优点如下：根据本专利技术所涉及的电源芯片的抗干扰性测试方法，射频模块在最大功率下工作时，将射频模块靠近正常工作的电源芯片，用示波器测量电源芯片的输出电压的电压波动曲线，根据示波器显示的电压波动曲线来判断电源芯片的抗干扰性，本专利技术测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。本专利技术所涉及的电源芯片的抗干扰性测试系统，装置简单，测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。附图说明图1是本专利技术中电源芯片的抗干扰性测试方法的流程图；图2是电源芯片未受干扰和受到干扰后的电压曲线图；图3是本专利技术中电源芯片的抗干扰性测试系统的结构图。其中，图2中纵坐标代表电压，横坐标代表时间，波形1为正常的电压输出波形，波形2为输出电压受到干扰的电压波形。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，以下实施例结合附图对本专利技术的电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统作具体阐述。如图1所示，电源芯片的抗干扰性测试方法包括以下步骤：向电源芯片提供一电压稳定的电源,使电源芯片在电源下正常工作，并测量电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线。第一电压波形曲线为电源芯片未被干扰时的电压波形曲线。电源芯片正常工作不被干扰时，电源芯片的输出电压是一个稳定的状态，会一直稳定在一个恒定的值，上下波动基本上维持在50MV以内，波形是一个稳定的，纹波很小的电压波形，如图2中波形1。在本实施例中，向电源芯片提供一电压稳定的电源包括：将电源芯片安装于电源芯片测试板上，电源芯片测试板与一外接电源连接，外接电源通过电源芯片测试板向电源芯片供电。具体地，电源芯片测试板为DEMO板，外电源为直流电电源。电源芯片测试板中的电源芯片可以更换为需要测量的电源芯片。提供一射频模块，使射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将射频模块靠近电源芯片，测量射频模块靠近电源芯片过程中电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线。第二电压波形曲线为受到射频模块干扰的电压波形曲线。当电源芯片外部没有负载且电源受到外部干扰时，其输出电压有较大的电压波动，受到干扰的波形是一个有剧烈抖动的电压波形，纹波较大，如图2中波形2。在本实施例中，射频模块包括天线；在射频模块靠近电源芯片的过程中，射频模块的天线端指向电源芯片。在本实施例中，通过示波器测量电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线。具体地，采用电源芯片测试板时，用示波器测量电源芯片测试板的电源芯片的输出电容端获得电源芯片的输出电压的电压波形曲线。根据电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定电源芯片的抗干扰性。具体包括：根据第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，判断所述电源芯片的输出电压的上下波动是否在第一预设电压之内，若是，则射频芯片对电源芯片不存在干扰；否则射频芯片对电源芯片存在干扰。第一预设电压根据与电源芯片连接的后端芯片的工作电压范围确定。一般电源系统后端的芯片都会有一个正常工作的电压范围，例如1.8V-3.8V，当超出这一个电压范围，后端芯片就无法正常工作，因此，电源芯片受到干扰电压发生波动时，该波动是否会影响到电源芯片正常工作取决于后端芯片的工作电压范围，所以上述第一预设电压为电源系统后端芯片的工作电压范围，超过该范围，则说明电源芯片受到干扰，没有超过该范围，则说明该干扰不影响电源芯片正常工作。根据电压波形波动的大小来判断电源芯片的抗干扰能力的强弱。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/n向电源芯片提供一电压稳定的电源,使所述电源芯片在所述电源下正常工作，并测量所述电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；/n提供一射频模块，使所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将所述射频模块靠近所述电源芯片，测量所述射频模块靠近所述电源芯片过程中所述电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；/n根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性。/n

【技术特征摘要】
1.一种电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
向电源芯片提供一电压稳定的电源,使所述电源芯片在所述电源下正常工作，并测量所述电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；
提供一射频模块，使所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将所述射频模块靠近所述电源芯片，测量所述射频模块靠近所述电源芯片过程中所述电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；
根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性。


2.根据权利要求1所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
所述射频模块包括天线；在所述射频模块靠近电源芯片的过程中，所述射频模块的天线端指向所述电源芯片。


3.根据权利要求1所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
向电源芯片提供一电压稳定的电源包括：将所述电源芯片安装于电源芯片测试板上，所述电源芯片测试板与一外接电源连接，所述外接电源通过所述电源芯片测试板向所述电源芯片供电。


4.根据权利要求1-3任一权利要求所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
通过示波器测量所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线。


5.根据权利要求4所述的电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于：
根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性，包括：
根据所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺耀辅，
申请(专利权)人：上海移为通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31