存储设备健康度检测方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本申请实施例提供一种存储设备健康度检测方法、装置及存储介质。该方法包括：获取待检测存储设备的特征参数，待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，特征参数包括总线接口、存储单元和控制单元中至少两部分的特征参数，特征参数用于表征导致对应部分失效的原因；根据特征参数及健康度衡量模型，确定待检测存储设备的健康度，该健康度衡量模型为根据特征参数预先建立的模型。通过本申请实施例可以提高存储设备的健康度的评估准确度。

Methods, devices and storage media for health inspection of storage equipment

The embodiment of the application provides a storage device health detection method, a device and a storage medium. The method includes: acquiring the characteristic parameters of the storage device to be tested, which include the bus interface, storage unit and control unit. The characteristic parameters include the characteristic parameters of at least two parts in the bus interface, storage unit and control unit. The characteristic parameters are used to represent the cause of the failure of the corresponding part. According to the characteristic parameters and health measurement model, the storage device to be tested is determined Measure the health of the storage device. The health measurement model is based on the characteristic parameters. The evaluation accuracy of the health degree of the storage device can be improved through the embodiment of the application.

【技术实现步骤摘要】
存储设备健康度检测方法、装置及存储介质
本申请实施例涉及闪存技术，尤其涉及一种存储设备健康度检测方法、装置及存储介质。
技术介绍
随着闪存技术的不断发展，嵌入式多媒体卡(embededmultimediacard，eMMC)和通用闪存存储器(universalflashstorage，UFS)等存储设备应用而生，并因其速度快、延迟小、功耗低和良好的多任务处理能力等优点在嵌入式智能终端中得到了广泛的应用。在实际应用中，为了保证如上所述存储设备的良品率，需要寻找一种检测其健康度的方案，以保证存储设备的高度可用性。现有方案虽可基于存储设备中存储单元的写入量来评估其健康度，但准确度较低。
技术实现思路
本申请实施例提供一种存储设备健康度检测方法、装置及存储介质，以提高存储设备的健康度的评估准确度。为了实现上述目的，本申请实施例提供如下技术方案：第一方面，本申请实施例提供一种存储设备健康度检测方法，包括：获取待检测存储设备的特征参数，其中待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，该特征参数包括总线接口、存本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储设备健康度检测方法，其特征在于，包括：/n获取待检测存储设备的特征参数，所述待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，所述特征参数包括所述总线接口、所述存储单元和所述控制单元中至少两部分的特征参数，所述特征参数用于表征导致对应部分失效的原因；/n根据所述特征参数及健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度，所述健康度衡量模型为根据所述特征参数预先建立的模型。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储设备健康度检测方法，其特征在于，包括：
获取待检测存储设备的特征参数，所述待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，所述特征参数包括所述总线接口、所述存储单元和所述控制单元中至少两部分的特征参数，所述特征参数用于表征导致对应部分失效的原因；
根据所述特征参数及健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度，所述健康度衡量模型为根据所述特征参数预先建立的模型。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储单元的特征参数包括以下参数中的至少一个：
运行坏块数、出厂坏块数、原始比特错误率RBER和不可修复的错误比特率UBER。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述控制单元的特征参数包括以下参数中的至少一个：
温度预警时间、所述控制单元处理失败次数和异常状态处理次数。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述总线接口的特征参数包括以下参数中的至少一个：
数据传输错误次数和数据校验失败次数。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征参数及健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度，包括：
根据所述特征参数，确定所述待检测存储设备中对应部分的磨损指标，所述磨损指标用于表征磨损程度；
根据所述磨损指标和所述健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征参数，确定所述待检测存储设备中对应部分的磨损指标，包括以下至少两项：
根据所述总线接口的特征参数，确定所述总线接口的磨损指标R1，
根据所述控制单元的特征参数，确定所述控制单元的磨损指标R2，
根据所述存储单元的特征参数，确定所述存储单元的磨损指标R3，
其中，a1、b1和c1的值是由训练模型R＝aebt+c基于总线接口的特征参数训练得到；a2、b2和c2的值是由训练模型R＝aebt+c基于控制单元的特征参数训练得到，t表示时间；RBER表示原始比特错误数，Numab表示总比特读出数。


7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述根据所述磨损指标和所述健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度，包括：
根据所述总线接口的磨损指标、所述控制单元的磨损指标和所述存储单元的磨损指标中至少两项，以及所述健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度。


8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述特征参数及健康度衡量模型，确定所述待检测存储设备的健康度之后，还包括：
根据所述待检测存储设备的健康度，对所述待检测存储设备进行筛选；
或者，根据所述待检测存储设备的健康度，提醒用户进行数据迁移或备份。


9.一种存储设备健康度检测装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取待检测存储设备的特征参数，所述待检测存储设备包括总线接口、存储单元和控制单元，所述特征参数包括所述总线接口、所述存储单元和所述控制单元中至少两部分的特征参数，所述特征参...

【专利技术属性】
技术研发人员：周亚雄，罗雁云，陈武，吴非，王顺卓，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44