高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及的一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，包括调节机构和测试机构，所述调节机构与测试机构滑动连接，所述调节机构用于控制测试机构来回移动，所述测试机构用于将待料定位装置中的产品吸取转移并对其定位检测。本实用新型专利技术一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，其测试稳定性好、测试数据准确度高，使用寿命长，测试压力、距离可调，克服了传统测试设备所存在的缺陷，从而有效提高生产效率、降低生产成本。

High end packaging QFN tray type single semi-automatic test equipment test device

The utility model relates to a high-end packaged QFN tray type single semi-automatic testing equipment testing device, which comprises a regulating mechanism and a testing mechanism, the regulating mechanism is slidably connected with the testing mechanism, the regulating mechanism is used to control the back and forth movement of the testing mechanism, the testing mechanism is used to absorb and transfer the products in the positioning device to be used for materials and detect its positioning. The utility model relates to a high-end packaged QFN tray type single semi-automatic test equipment test device, which has good test stability, high test data accuracy, long service life, adjustable test pressure and distance, overcomes the defects of traditional test equipment, thus effectively improving production efficiency and reducing production cost.

【技术实现步骤摘要】
高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置
本技术涉及一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，适用于BGA/CSP/QFN/QFP等要求特性高的封装产品的测试分选，属于高端封装

技术介绍
高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备主要是由许多的机械零件配合气动组件、电器元件和测试系统等组成之机电一体化设备，其程控由PLC编写而成。该设备主要包括供收料装置、三轴移动装置、待料定位装置、测试装置等多个局部装置组装而成。高端封装的产品对测试的压力要求和电性要求较高，传统的测试设备封装产品没有产品定位、接触高度、压力大小控制装置等，导致其测试稳定性差、测试数据准确度低，且针对此产品所用的测试座价格相当昂贵、使用寿命短，导致其生产成本也较高。
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述不足，提供一种用于组装高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备的高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，其具有定位精准，测试压力、距离可调，测试稳定性好的优点。本技术的目的是这样实现的：一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，包括调节机构和测试机构，所述调节机构与测试机构滑动连接，所述调节机构用于控制测试机构来回移动，所述测试机构用于将待料定位装置中的产品吸取转移并对其定位检测。更进一步的，其用于组装一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备，所述高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备还包括底座，所述底座上设置有供收料装置、三轴移动装置和待料定位装置，所述供收料装置用于存放未检测及检测之后的产品，所述三轴移动装置用于将未检测的产品送至待料定位装置中及将检测之后的产品送至供收料装置中，所述待料定位装置用于对未检测的产品进行定位暂存。与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，其测试稳定性好、测试数据准确度高，使用寿命长，测试压力、距离可调，克服了传统测试设备所存在的缺陷，从而有效提高生产效率、降低生产成本。附图说明图1为本技术一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备的结构示意图。图2为供收料装置的结构示意图。图3为三轴移动装置300的结构示意图。图4为图3中横向移位机构的结构示意图。图5为图4的爆炸图。图6为图3中纵向移位机构的结构示意图。图7为图6的爆炸图。图8为图3中竖向移位机构的结构示意图。图9为图8的爆炸图。图10为待料定位装置400的结构示意图。图11为测试装置的结构示意图。图12为图10中调节机构的结构示意图。图13为图12的爆炸图。图14为图10中测试机构的结构示意图。图15为图14的爆炸图。其中：底座100供收料装置200、托盘201、活动支撑角码202、固定支撑角码203、气缸204、供收料装置传感器205；三轴移动装置300横向移位机构301、横向移位机构横梁301.1、横向移位机构支撑板301.2、U型限位板301.3、横向移位机构电机301.4、横向移位机构支撑座301.5、横向移位机构第一直线导轨301.6、横向移位机构第二直线导轨301.7、横向移位机构转动轴301.8、横向移位机构从动轮301.9、横向移位机构第一滑块301.10、横向移位机构第二滑块301.11、横向移位机构连接块301.12、横向移位机构托块301.13、横向移位机构电机固定座301.14、横向移位机构主动轮301.15、横向移位机构限位柱301.16，横向移位机构连接板301.17、横向移位机构传感器301.18纵向移位机构302、纵向移位机构第一直线导轨302.1、纵向移位机构第二直线导轨302.2、U型走线槽302.3、纵向移位机构第一支撑板302.4、纵向移位机构第二支撑板302.5、纵向移位机构盖板302.6、纵向移位机构电机302.7、纵向移位机构托台302.8、纵向移位机构支撑座302.9、纵向移位机构支架302.10、纵向移位机构第一滑块302.11、纵向移位机构第一固定板302.12、纵向移位机构第二滑块302.13、纵向移位机构第二固定板302.14、纵向移位机构感应片302.15、纵向移位机构连接块组件302.16、纵向移位机构主动轮302.17、纵向移位机构转动轴302.18、纵向移位机构支撑柱302.19、纵向移位机构从动轮302.20、纵向移位机构同步带302.21、纵向移位机构限位柱302.22、纵向移位机构传感器302.23竖向移位机构303、竖向移位机构支撑板303.1、竖向移位机构电机303.2、竖向移位机构直线导轨303.3、竖向移位机构升降杆303.4、竖向移位机构支撑座303.5、竖向移位机构升降座303.6、竖向移位机构滑块303.7、竖向移位机构导向块303.8、竖向移位机构限位块303.9、竖向移位机构吸嘴主体303.10、竖向移位机构吸嘴头303.11、竖向移位机构感应片303.12、竖向移位机构传感器303.13、竖向移位机构主动轮303.14、竖向移位机构转动轴303.15、竖向移位机构从动轮303.16、竖向移位机构同步带303.17、竖向移位机构托块303.18、竖向移位机构连接块303.19、待料定位装置400、待料固定座401、待料定位柱402、待料传感器403测试装置500调节机构501、调节机构电机501.1、调节机构丝杆501.2、调节机构第一直线导轨501.3、调节机构第二直线导轨501.4、侧板501.5、顶板501.6、后板501.7、中间连接板501.8、调节机构从动轮501.9、调节机构主动轮501.10、调节机构同步带501.11、调节机构第一滑块501.12、调节机构第二滑块501.13、调节机构螺帽座501.14、调节机构传感501.15测试机构502、测试机构支撑板502.1、测试机构丝杆502.2、测试机构电机502.3、测试机构电机固定座502.4、测试机构连接座502.5、测试机构直线导轨502.6、测试机构滑块502.7、联轴器502.8、测试机构丝杆支撑座502.9、测试机构第一固定座502.10、测试机构螺帽座502.11、测试机构第二固定座502.12、L型连接板502.13、加强板502.14、中间连接块502.15、气囊502.16、旋转定心块502.17、真空过渡块502.18、吸取定位块502.19、锁紧件502.20、导向套502.21、测试定位座502.22、测试限位板502.23、测试定位柱502.24、测试机构感应片502.25、测试机构传感器502.26离子风扇600。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，其特征在于：包括调节机构(501)和测试机构(502)，所述调节机构(501)与测试机构(502)滑动连接，所述调节机构(501)用于控制测试机构(502)来回移动，所述测试机构(502)用于将待料定位装置(400)中的产品吸取转移并对其定位检测。/n

【技术特征摘要】
1.一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，其特征在于：包括调节机构(501)和测试机构(502)，所述调节机构(501)与测试机构(502)滑动连接，所述调节机构(501)用于控制测试机构(502)来回移动，所述测试机构(502)用于将待料定位装置(400)中的产品吸取转移并对其定位检测。


2.根据权利要求1所述的一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，其特征在于：所述调节机构(501)包括调节机构支撑框架、调节机构电机(501.1)、横向布置的调节机构丝杆(501.2)、横向布置的调节机构第一直线导轨(501.3)和横向布置的调节机构第二直线导轨(501.4)，所述调节机构第一直线导轨(501.3)与调节机构第二直线导轨(501.4)设置于调节机构支撑框架内，所述调节机构第一直线导轨(501.3)位于调节机构第二直线导轨(501.4)的上方，所述调节机构第一直线导轨(501.3)上设置有调节机构第一滑块(501.12)，所述调节机构第二直线导轨(501.4)上设置有调节机构第二滑块(501.13)，所述调节机构丝杆(501.2)位于调节机构第一直线导轨(501.3)和调节机构第二直线导轨(501.4)之间，所述调节机构丝杆(501.2)上套装有调节机构螺帽座(501.14)，所述调节机构丝杆(501.2)的一端连接有调节机构从动轮(501.9)，所述调节机构电机(501.1)位于调节机构支撑框架的一侧，所述调节机构电机(501.1)的输出端连接有调节机构主动轮(501.10)，所述调节机构主动轮(501.10)与调节机构从动轮(501.9)之间套装有调节机构同步带(501.11)。


3.根据权利要求2所述的一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，其特征在于：所述调节机构支撑框架包括两块左右对称布置的侧板(501.5)、顶板(501.6)和后板(501.7)，所述两块侧板(501.5)的底部与底座(100)固定连接，所述顶板(501.6)的左右两端分别与两块侧板(501.5)的顶部固定连接，所述后板的左右两端分别与两块侧板(501.5)的后侧面固定连接，所述调节机构第一直线导轨(501.3)通过中间连接板(501.8)安装于后板(501.7)的上段，所述调节机构第二直线导轨(501.4)安装于底座(100)上，且位于两块侧板(501.5)的前段之间，所述调节机构丝杆(501.2)连接于两块侧板(501.5)的中段之间。


4.根据权利要求1所述的一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备测试装置，其特征在于：所述测试机构(502)包括竖向布置的测试机构支撑板(502.1)、竖向布置的测试机构丝杆(502.2)、测试机构电机(502.3)、测试机构电机固定座(502.4)、测试机构连接座(502.5)、两个竖向布置的测试机构直线导轨(502.6)，所述测试机构电机(502.3)通过测试机构电机固定座(502.4)安装于测试机构支撑板(502.1)的前上方，所述测试机构电机固定座(502.4)的底面的后段与测试机构支撑板(502.1)的顶部固定连接，所述两个测试机构直线导轨(502.6)对称布置于测试机构支撑板(502.1)的前侧面的左右两段，所述测试机构直线导轨(502.6)上设置有测试机构滑块(502.7)，所述测试机构连接座(502.5)的后侧面与两个测试机构滑块(502.7)固定连接，所述测试机构丝杆(502.2)设置于两个测试机构直线导轨(502...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈慧峰，顾超，伏道俊，
申请(专利权)人：江阴新基电子设备有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32