【技术实现步骤摘要】
一种光路调试装置以及太赫兹光谱仪
本技术属于太赫兹光路调试设备
，具体涉及一种光路调试装置以及太赫兹光谱仪。
技术介绍
太赫兹辐射在电磁波谱上位于微波和红外之间，属于远红外波段，太赫兹是一种新的、有很多独特优点的辐射源。太赫兹技术是一个非常重要的交叉前沿领域，给技术创新、国民经济发展和国家安全提供了一个非常诱人的机遇。目前，利用太赫兹光谱对于物质结构的探索技术已经日趋成熟，其中就包括太赫兹光谱仪的应用，由于太赫兹光谱仪的样品仓具有一定的光路要求，即通过抛物面镜反射出来的左右对射的两路光线需要重合，现有技术中，通常采用在样品仓中间位置设置一个光斑重合点来观察两路对射光是否重合，很难保证两路光完全重合。
技术实现思路
为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种光路调试装置，用于调试第一作业光线和第二作业光线的重合，包括光路形成组件以及光路调试组件，所述光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件，所述第一反射件和所述第二反射件均位于所述光路限制板同一板侧，所述光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔，所述第一通光孔供所述第一作业光线穿过并...
【技术保护点】
1.一种光路调试装置，用于调试第一作业光线和第二作业光线的重合，其特征在于，包括光路形成组件以及光路调试组件，所述光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件，所述第一反射件和所述第二反射件均位于所述光路限制板同一板侧，所述光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔，所述第一通光孔供所述第一作业光线穿过并射至所述第一反射光线，所述第一反射件用于将所述第一作业光线反射至所述第二反射件，所述第二反射件用于将所述第二作业光线反射至所述第一反射件，所述第一反射件还用于将经所述第二反射件反射的所述第二作业光线反射至所述第一通光孔，所述第二反射件还用于将经所述第...
【技术特征摘要】
1.一种光路调试装置，用于调试第一作业光线和第二作业光线的重合，其特征在于，包括光路形成组件以及光路调试组件，所述光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件，所述第一反射件和所述第二反射件均位于所述光路限制板同一板侧，所述光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔，所述第一通光孔供所述第一作业光线穿过并射至所述第一反射光线，所述第一反射件用于将所述第一作业光线反射至所述第二反射件，所述第二反射件用于将所述第二作业光线反射至所述第一反射件，所述第一反射件还用于将经所述第二反射件反射的所述第二作业光线反射至所述第一通光孔，所述第二反射件还用于将经所述第一反射件反射的所述第一作业光线反射至所述第二通光孔，所述光路调试组件包括第一调光件、第二调光件、第一观察片和第二观察片，所述第一调光件位于所述第一反射件和第二反射件之间，所述第一调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第一调光孔，所述第二调光件位于所述第一调光件和所述第二反射件之间，所述第二调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第二调光孔，所述第一观察片用于在调试所述第二作业光线时位于所述第一反射件和所述第一调光件之间，而在调试所述第一作业光线时则从所述第一反射件和所述第一调光件之间抽离，所述第二观察片用于在调试所述第一作业光线时位于所述第二反射件和所述第二调光件之间，而在调试所述第二...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵洪美，丁庆，
申请(专利权)人：深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司，华讯方舟科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44
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