一种光路调试装置以及太赫兹光谱仪制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种光路调试装置以及太赫兹光谱仪，用于调试第一作业光线与第二作业光线的重合，包括光路形成组件以及光路调试组件，光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件，光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔，光路调试组件包括第一调光件、第二调光件、第一观察片和第二观察片，通过调整第一反射件、第二反射件分别与第一作业光线、第二作业光线的入射角度，并且通过第一观察片与第二观察片上是否具有光斑从而确认第一作业光线与第二作业光线是否重合，提高了判断两路对光光线是否重合的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种光路调试装置以及太赫兹光谱仪
本技术属于太赫兹光路调试设备
，具体涉及一种光路调试装置以及太赫兹光谱仪。
技术介绍
太赫兹辐射在电磁波谱上位于微波和红外之间，属于远红外波段，太赫兹是一种新的、有很多独特优点的辐射源。太赫兹技术是一个非常重要的交叉前沿领域，给技术创新、国民经济发展和国家安全提供了一个非常诱人的机遇。目前，利用太赫兹光谱对于物质结构的探索技术已经日趋成熟，其中就包括太赫兹光谱仪的应用，由于太赫兹光谱仪的样品仓具有一定的光路要求，即通过抛物面镜反射出来的左右对射的两路光线需要重合，现有技术中，通常采用在样品仓中间位置设置一个光斑重合点来观察两路对射光是否重合，很难保证两路光完全重合。
技术实现思路
为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种光路调试装置，用于调试第一作业光线和第二作业光线的重合，包括光路形成组件以及光路调试组件，所述光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件，所述第一反射件和所述第二反射件均位于所述光路限制板同一板侧，所述光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔，所述第一通光孔供所述第一作业光线穿过并射至所述第一反射光线，所述第一反射件用于将所述第一作业光线反射至所述第二反射件，所述第二反射件用于将所述第二作业光线反射至所述第一反射件，所述第一反射件还用于将经所述第二反射件反射的所述第二作业光线反射至所述第一通光孔，所述第二反射件还用于将经所述第一反射件反射的所述第一作业光线反射至所述第二通光孔，所述光路调试组件包括第一调光件、第二调光件、第一观察片和第二观察片，所述第一调光件位于所述第一反射件和第二反射件之间，所述第一调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第一调光孔，所述第二调光件位于所述第一调光件和所述第二反射件之间，所述第二调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第二调光孔，所述第一观察片在调试所述第二作业光线时位于所述第一反射件和所述第一调光件之间，而在调试所述第一作业光线时则从所述第一反射件和所述第一调光件之间抽离，所述第二观察片在调试所述第一作业光线时位于所述第二反射件和所述第二调光件之间，而在调试所述第二作业光线时则从所述第二反射件和所述第二调光件之间抽离。进一步地，所述光路形成组件还包括与所述光路限制板相对设置的安装固定板，所述光路调试组件、所述第一反光件和所述第二反光件均位于所述光路限制板和所述安装固定板之间，所述第一调光件和所述第二调光件均抵接至所述光路限制板，所述第一调光件和所述第二调光件均抵接至所述安装固定板。进一步地，所述光路限制板与所述安装固定板平行设置。进一步地，光路形成组件还包括一个用于连接所述光路限制板和所述安装固定板的光路形成连接板。进一步地，光路形成连接板设有两个，所述光路调试组件、所述第一反光件和所述第二反光件均位于两所述光路形成连接板之间。进一步地，所述光路限制板、所述安装固定板与各所述光路形成连接板一体结构。进一步地，所述光路调试组件还包括至少一个用于连接所述第一调光件和所述第二调光件的光路调试连接板。进一步地，所述光路调试连接板设有两个。进一步地，所述第一通光孔和所述第二通光孔的开设方向垂直于所述光路限制板的板面，所述第一调光孔和所述第二调光孔的开设方向平行于所述光路限制板的板面。本技术还提供一种太赫兹光谱仪，包括上述的光路调试装置。本技术提供的的有益效果在于：本技术提供的光路调试装置，通过在第一调光件与第二调光件中分别设置第一调光孔和第二调光孔，并且通过观察第一观察片和第二观察片上是否都具有光斑而判断第一作业光线和第二作业光线是否重合，与现有技术相比提高了判断两路对光光线是否重合的准确性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的光路调节装置的结构示意图；图2为本技术实施例提供的矩形框体的结构示意图。其中，图中各附图标记：具体实施方式为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。请参阅图1，现对本技术提供的进行说明。本技术实施例提供的光路调试装置，用于调试第一作业光线30和第二作业光线40的重合，其特征在于，包括光路形成组件10以及光路调试组件20，所述光路形成组件10包括光路限制板11、第一反射件12和第二反射件13，所述第一反射件12和所述第二反射件13均位于所述光路限制板11同一板侧，所述光路限制板11于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔110和第二通光孔111，所述第一通光孔110供所述第一作业光线30穿过并射至所述第一反射件12，所述第一反射件12用于将所述第一作业光线30反射至所述第二反射件13，所述第二反射件13用于将所述第二作业光线40反射至所述第一反射件12，所述第一反射件12还用于将经所述第二反射件13反射的所述第二作业光线40反射至所述第一通光孔110，所述第二反射件13还用于将经所述第一反射件12反射的所述第一作业光线30反射至所述第二通光孔111，所述光路调试组件20包括第一调光件21、第二调光件22、第一观察片23和第二观察片24，所述第一调光件21位于所述第一反射件12和第二反射件13之间，所述第一调光件21开设有供经所述第一反射件12反射的所述第一作业光线30穿过并且还供经所述第二反射件13反射的所述第二作业光线40穿过的第一调光孔210，所述第二调光件22位于所述第一调光件21和所述第二反射件13之间，所述第二调光件22开设有供经所述第一反射件12反射的所述第一作业光线30穿过并且还供经所述第二反射件13反射的所述第二作业光线40穿过的第二调光孔220，所述第一观察片23用于在调试所述第二作业光线40时位于所述第一反射件12和所述第一调光件21之间，而在调试所述第一作业光线30时则从所述第一反射件12和所述第一调光件21之间抽离，所述第二观察片24用于在调试所述第一作业光线30时位于所述第二反射件13和所述第二调光件22之间，而在调试所述第二作业光线40时则从所述第二反射件13和所述第二调光件22之间抽本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光路调试装置，用于调试第一作业光线和第二作业光线的重合，其特征在于，包括光路形成组件以及光路调试组件，所述光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件，所述第一反射件和所述第二反射件均位于所述光路限制板同一板侧，所述光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔，所述第一通光孔供所述第一作业光线穿过并射至所述第一反射光线，所述第一反射件用于将所述第一作业光线反射至所述第二反射件，所述第二反射件用于将所述第二作业光线反射至所述第一反射件，所述第一反射件还用于将经所述第二反射件反射的所述第二作业光线反射至所述第一通光孔，所述第二反射件还用于将经所述第一反射件反射的所述第一作业光线反射至所述第二通光孔，所述光路调试组件包括第一调光件、第二调光件、第一观察片和第二观察片，所述第一调光件位于所述第一反射件和第二反射件之间，所述第一调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第一调光孔，所述第二调光件位于所述第一调光件和所述第二反射件之间，所述第二调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第二调光孔，所述第一观察片用于在调试所述第二作业光线时位于所述第一反射件和所述第一调光件之间，而在调试所述第一作业光线时则从所述第一反射件和所述第一调光件之间抽离，所述第二观察片用于在调试所述第一作业光线时位于所述第二反射件和所述第二调光件之间，而在调试所述第二作业光线时则从所述第二反射件和所述第二调光件之间抽离。...

【技术特征摘要】
1.一种光路调试装置，用于调试第一作业光线和第二作业光线的重合，其特征在于，包括光路形成组件以及光路调试组件，所述光路形成组件包括光路限制板、第一反射件和第二反射件，所述第一反射件和所述第二反射件均位于所述光路限制板同一板侧，所述光路限制板于其任一板面开设有均贯通设置第一通光孔和第二通光孔，所述第一通光孔供所述第一作业光线穿过并射至所述第一反射光线，所述第一反射件用于将所述第一作业光线反射至所述第二反射件，所述第二反射件用于将所述第二作业光线反射至所述第一反射件，所述第一反射件还用于将经所述第二反射件反射的所述第二作业光线反射至所述第一通光孔，所述第二反射件还用于将经所述第一反射件反射的所述第一作业光线反射至所述第二通光孔，所述光路调试组件包括第一调光件、第二调光件、第一观察片和第二观察片，所述第一调光件位于所述第一反射件和第二反射件之间，所述第一调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第一调光孔，所述第二调光件位于所述第一调光件和所述第二反射件之间，所述第二调光件开设有供经所述第一反射件反射的所述第一作业光线穿过并且还供经所述第二反射件反射的所述第二作业光线穿过的第二调光孔，所述第一观察片用于在调试所述第二作业光线时位于所述第一反射件和所述第一调光件之间，而在调试所述第一作业光线时则从所述第一反射件和所述第一调光件之间抽离，所述第二观察片用于在调试所述第一作业光线时位于所述第二反射件和所述第二调光件之间，而在调试所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵洪美，丁庆，
申请(专利权)人：深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司，华讯方舟科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44