生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的方法和系统技术方案

在此公开一种生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的方法和系统。所述方法包括：在产品测试过程期间，在第一校准点测量测试产品的第一温度并测量晶体振荡器的第一频率误差；在产品测试过程期间，在第二校准点测量测试产品的第二温度并测量晶体振荡器的第二频率误差；从第一温度、第一频率误差、第二温度和第二频率误差估计两个参数；基于所述两个参数确定晶体模型的三阶多项式。

A method and system for generating crystal models of test products including crystal oscillators

【技术实现步骤摘要】
生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的方法和系统本申请要求于2018年4月26日提交到美国专利商标局的分配的序列号为62/663,110的美国临时专利申请和于2018年10月16日提交到美国专利商标局的分配的序列号为16/161,985的美国专利申请的优先权，所述专利申请的全部内容通过引用包含于此。
本公开总体涉及一种用于石英晶体振荡器的校准的方法和系统。
技术介绍
通信系统通常需要比未校正的石英晶体更好的具有精确稳定的频率的晶体振荡器。晶体振荡器是使用压电材料的振动晶体的机械共振来创建具有特定频率的电信号的电子振荡器电路。使用的压电谐振器的最常见类型是石英晶体，所以包含石英晶体的振荡器电路可被称为晶体振荡器。温度、湿度、压力和振动的环境改变可改变石英晶体的谐振频率。为了克服这种环境改变以减少/改善晶体振荡器的频率变化，诸如温度补偿晶体振荡器(TCXO)和数字补偿晶体振荡器(DCXO)的典型解决方案被利用。TCXO使用通过由温度传感器生成的模拟电压指示的模拟频率校正来调节电压可变电容器。DCXO使用数字控制的电容器组来指示频率校正。由于石英晶体制造公差的限制，针对每个单独的晶体所需的补偿不同。通常，通过在晶体振荡器生产工厂中的温度下运行装置来调节每个TCXO。这样的过程相对缓慢且昂贵，TCXO的成本大约是未经补偿的晶体振荡器的两倍。TCXO还会使用相对更多的物理区域。
技术实现思路
根据一个实施例，提供一种生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的方法。所述方法包括：在产品测试过程期间，在第一校准点测量测试产品的第一温度并测量晶体振荡器的第一频率误差；在产品测试过程期间，在第二校准点测量测试产品的第二温度并测量晶体振荡器的第二频率误差；从第一温度、第一频率误差、第二温度和第二频率误差估计两个参数；基于所述两个参数确定晶体模型的三阶多项式。第一频率误差和第二频率误差由测试产品的全球导航卫星系统(GNSS)测量。当GNSS在产品测试过程期间正在被测试时，由GNSS测量第一频率误差。第二温度大于在产品测试过程期间产生的由测试产品的自发热引起的第一温度。第一温度和第二温度使用与晶体振荡器位于相同位置的温度传感器来测量。晶体振荡器是数字补偿晶体振荡器(DCXO)。使用固定矩阵估计所述两个参数。所述三阶多项式是以下形式：f＝C0+∑m(b1m+b2m×θ)×(T-T0)m，其中，C0和θ是估计的两个参数，b是固定矩阵。根据一个实施例，提供一种用于生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的系统。所述系统包括：温度传感器，被配置为：在产品测试过程期间，在第一校准点测量测试产品的第一温度，并在产品测试过程期间，在第二校准点测量测试产品的第二温度；频率误差测量器，被配置为：在产品测试过程期间，在第一校准点测量晶体振荡器的第一频率误差，并在产品测试过程期间，在第二校准点测量晶体振荡器的第二频率误差；以及处理器，配置为：从第一温度、第一频率误差、第二温度和第二频率误差估计两个参数，基于所述两个参数确定晶体模型的三阶多项式。频率误差测量器包括测试产品的全球导航卫星系统(GNSS)。当GNSS在产品测试过程期间正在被测试时，由GNSS测量第一频率误差。第二温度大于在产品测试过程期间产生的由测试产品的自发热引起的第一温度。温度传感器与晶体振荡器位于相同的位置。晶体振荡器是数字补偿晶体振荡器(DCXO)。使用固定矩阵估计所述两个参数。所述三阶多项式是以下形式：f＝C0+∑m(b1m+b2m×θ)×(T-T0)m，其中，C0和θ是估计的两个参数，b是固定矩阵。根据一个实施例，提供一种用于测试包括晶体振荡器的电子产品的方法。所述方法包括：在第一校准点，测量电子产品的第一温度并测量晶体振荡器的第一频率误差；在第二校准点，测量电子产品的第二温度并测量晶体振荡器的第二频率误差；通过以下方式生成晶体振荡器的晶体模型：从第一温度、第一频率误差、第二温度和第二频率误差估计两个参数，并基于所述两个参数确定晶体模型的三阶多项式。当电子产品的全球导航卫星系统(GNSS)在电子产品测试期间正在被测试时，由GNSS测量第一频率误差。第二温度大于在电子产品测试期间产生的由电子产品的自发热引起的第一温度。所述三阶多项式是以下形式：f＝C0+∑m(b1m+b2m×θ)×(T-T0)m，其中，C0和θ是估计的两个参数，b是固定矩阵。附图说明通过下面结合附图进行的详细描述，本公开的特定实施例的以上和其他方面、特征和优点将更清楚，其中：图1是根据实施例的工厂校准系统的示图；图2是根据实施例的工厂初始校准的流程图；图3是示出根据实施例的初始构建精度的曲线图；图4是根据实施例的产品测试过程的示图；图5是示出根据实施例的测试产品的性能的曲线图；图6是示出根据实施例的测试产品的性能的曲线图；图7是根据实施例的用于生成晶体模型的流程图；图8是根据一个实施例的网络环境中的电子装置的框图。具体实施方式在下文中，参考附图详细描述本公开的实施例。应注意，尽管相同的元件在不同的附图中示出，但是它们将由相同的参考标号指定。在下面的描述中，仅提供诸如详细的配置和组件的具体细节来帮助全面理解本公开的实施例。因此，对于本领域技术人员来说应清楚的是，在不脱离本公开的范围的情况下，可对在此描述的实施例进行各种改变和修改。此外，为了清楚和简明，公知的功能和结构的描述被省略。下面描述的术语是考虑到本公开中的功能而定义的术语，并且可根据用户、用户的意图或习惯而不同。因此，应基于贯穿本说明书的内容来确定术语的定义。本公开可具有各种修改和各种实施例，其中，以下参照附图详细描述实施例。然而，应理解，本公开不限于所述实施例，而是包括本公开的范围内的所有修改、等同物和替代物。虽然包括诸如第一、第二等的序数的术语可用于描述各种元件，但结构元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将一个元件与另一元件区分开来。例如，在不脱离本公开的范围的情况下，第一结构元件可被称为第二结构元件。类似地，第二结构元件也可被称为第一结构元件。如在此使用的，术语“和/或”包括一个或多个关联项的任意组合和所有组合。在此使用的术语仅用于描述本公开的各种实施例，但并不意图限制本公开。除非上下文明确另有指示，否则单数形式也意在包括复数形式。在本公开中，应理解，术语“包括”或“具有”指示存在特征、数量、步骤、操作、结构元件、部件或它们的组合，并不排除一个或多个其他特征、数量、步骤、操作、结构元件、部件或它们的组合的存在或添加的可能性。除非不同地定义，否则在此使用的所有术语具有与本公开所属领域的技术人员所理解的含义相同的含义。除非在本公开中明确定义，否则诸如在通用词典中定义的术语将被解释为具有与相关领域中的上下文含义相同的含义，并不被解释为具有理想或过于正式的含义。根据一个实施例的电子装置可以是各种类型的电子装置之一。例如，电子装置可包括便携式通信装置(例如，智能电话)、计算机、便携式多媒体装置、便携式医疗装置、相机、可穿戴装置或家用电器。根据本公开的一个实施例，电子装置不限于上述装置。本公开中使用的术语不意在限制本公开，而是意在包括对应的实施例的各种改变、等同物或替换物。关于附图的描述，类似的参考标号可用于表示类似或相关的元件。除非相关上下文另有明确本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的方法，包括：在产品测试过程期间，在第一校准点测量测试产品的第一温度并测量晶体振荡器的第一频率误差；在产品测试过程期间，在第二校准点测量测试产品的第二温度并测量晶体振荡器的第二频率误差；从第一温度、第一频率误差、第二温度和第二频率误差估计两个参数；基于所述两个参数确定晶体模型的三阶多项式。

【技术特征摘要】
2018.04.26 US 62/663,110;2018.10.16 US 16/161,9851.一种生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的方法，包括：在产品测试过程期间，在第一校准点测量测试产品的第一温度并测量晶体振荡器的第一频率误差；在产品测试过程期间，在第二校准点测量测试产品的第二温度并测量晶体振荡器的第二频率误差；从第一温度、第一频率误差、第二温度和第二频率误差估计两个参数；基于所述两个参数确定晶体模型的三阶多项式。2.根据权利要求1所述的方法，其中，第一频率误差和第二频率误差由测试产品的全球导航卫星系统测量。3.根据权利要求2所述的方法，其中，当全球导航卫星系统在产品测试过程期间正在被测试时，由全球导航卫星系统测量第一频率误差。4.根据权利要求1所述的方法，其中，第二温度大于第一温度，其中，在产品测试过程期间由测试产品的自发热产生第一温度和第二温度。5.根据权利要求1所述的方法，其中，第一温度和第二温度使用与晶体振荡器位于相同位置的温度传感器来测量。6.根据权利要求1所述的方法，其中，晶体振荡器是数字补偿晶体振荡器。7.根据权利要求1所述的方法，其中，使用固定矩阵估计所述两个参数。8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述三阶多项式是以下形式：f＝C0+∑m(b1m+b2m×θ)×(T-T0)m，其中，C0和θ是估计的两个参数，b1m和b2m是固定矩阵，m是多项式的阶数，T0是参考温度，f是晶体频率，T是测试产品的温度。9.一种用于生成包括晶体振荡器的测试产品的晶体模型的系统，包括：温度传感器，被配置为：在产品测试过程期间，在第一校准点测量测试产品的第一温度，并在产品测试过程期间，在第二校准点测量测试产品的第二温度；频率误差测量器，被配置为：在产品测试过程期间，在第一校准点测量晶体振荡器的第一频率误差，并在产品测试过程期间，在第二校准点测量晶体振荡器的第二频率误差；以及处理器，配置为：从第一温...

【专利技术属性】
技术研发人员：丹尼尔·巴比趣，李旷敏，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR