一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法技术方案

本发明专利技术提供一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法，通过多个下位机控制对应测试设备同步执行对多个待测试雷达的测试动作，一个主机控制多个对应于各个暗箱的下位机同时运行，实现了一台电脑操控多个暗箱的并行测试，大幅度缩短测试时间、提高产品的测试效率、生产效率以及设备的自动化程度；通过设置与一套远场测试项目的最大需求尺寸相匹配的暗箱，将所有需求尺寸较大的测试项目集中到同一暗箱，优化了远场测试效果；通过将多个暗箱竖立组合排列，减少了设备占地面积、提高空间利用率；通过设置水平定位面板，可根据待测试雷达的类型而切换到不同频段的测试设备进行测试，实现了暗箱尺寸兼容、不同型号的产线兼容，减少了产线投入成本。

【技术实现步骤摘要】
一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法
本专利技术涉及雷达制造
，尤其涉及一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法。
技术介绍
车载毫米波雷达在我国是近几年兴起的前沿产业，应用前景广阔，具备汽车碰撞预警、自动紧急制动、自适应巡航、盲点检测、变道辅助等辅助功能，使得汽车驾驶变得更安全、更智能。完整的毫米波雷达测试一般需要包括：角度标定、全向功率测试、灵敏度测试、增益测试、目标场景模拟测试等，测试内容繁多。而国内现有的毫米波雷达测试设备测试功能单一，若要进行全面的功能测试，需要针对不同的测试功能需要购买不同的测试设备，成本高昂，并且整个测试过程耗时长、效率低下，且因为生产厂家的不一致，在组合测试系统时，不仅接线复杂，还会存在串口不兼容、尺寸不兼容的问题。并且，在进行雷达产品功能及性能测试时，按照毫米波雷达产品的远场测试标准，若存在来回收发机制，产品与仪器的天线间距需要符合2D/λ(D为天线尺寸，λ为微波波长)。按目前雷达产品的现状，暗箱尺寸一般要求在4米以上，否则测试效果不佳。而现有的相关产线的毫米波雷达整机测试或天线测试基本都是小暗箱设置，不仅不符合雷达产品远场测试标准，而且所测试的产品也比较单一，无法做到兼容多频段多类型的产品测试，例如24GHz测试设备无法进行77GHz产品的测试。另外，根据信号测量与场景模拟的要求，在测试系统搭建过程中，还分别需要接入频谱仪和模拟器，但是，由于频谱仪和模拟器不仅价格高昂且设备电气结构复杂，不利于测试设备的大规模生产与测试系统的搭建。
技术实现思路
本专利技术提供一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法，解决的技术问题为：现有毫米波雷达测试效率低、耗时长，测试暗箱尺寸较大，占地面积广，产线功能单一、兼容性差，测试设备昂贵导致测试成本高。为解决以上技术问题，本专利技术提供一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统，包括中央控制模块及与其独立电性连接的PLC上下料模组以及暗箱模组：所述中央控制模块，用于根据预设程序控制所述PLC上下料模组进行运输及上下料动作；所述PLC上下料模组，用于在所述中央控制模块的控制下输送多个待测试雷达同步到达所述暗箱模组的不同暗箱，执行所述多个待测试雷达的上料动作；所述中央控制模块，还用于根据所述预设程序在所述PLC上下料模组完成上料动作后，控制所述暗箱模组进行测试动作；所述暗箱模组，用于在所述中央控制模块的控制下同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作，并向所述中央控制模块反馈测试结果；所述PLC上下料模组，还用于在所述暗箱模组执行一次并行测试后，在所述中央控制模块的控制下，执行对所述多个待测试雷达的下料动作，并输送所述多个待测试雷达同步到达下一个工位。优选地，所述暗箱模组至少包括两个并列排布的暗箱，一个所述暗箱对应一个所述待测试雷达、一套测试项目、一套测试设备；其中一个所述暗箱的尺寸与一套远场测试项目的最大需求尺寸相匹配；所述一套远场测试项目包括所有的远场测试项目。所述中央控制模块包括对应于所述测试设备的下位机，以及连接所有下位机的主机，所述主机还连接所述PLC上下料模组；所述下位机用于在所述主机的控制下同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作，并向所述主机反馈测试结果。所述远场测试项目包括角度标定，对应的测试设备包括至少两个固定在水平定位板上不同位置的角反射器，对应于不同发射频率的所述待测试雷达；当所述待测试毫米波雷达到达暗箱的检测工位时，相应的下位机控制所述水平定位面板上频率相对应的所述角反射器正对所述待测试雷达。优选地，一套近场测试项目包括射频测试，对应的测试设备至少包括：与对应下位机电性连接的模拟器、与所述模拟器电性连接的射频开关，以及，至少两组固定在所述水平定位板上不同位置的射频天线，对应于不同发射频率的所述待测试雷达；以及连接在每组所述射频天线与所述射频开关之间的变频器，对应于不同发射频率的所述待测试雷达；当所述待测试毫米波雷达到达暗箱的检测工位时，相应的下位机控制所述水平定位面板上频率相对应的所述射频天线正对所述待测试雷达，以及控制所述射频开关切换连接到正对所述待测试雷达的变频器，驱动所述变频器工作。安装在所述暗箱上的所述水平定位面板上及所述暗箱的内壁上还固定有吸波材料；当所述待测试雷达到达暗箱的检测工位时，对应的下位机控制所述水平定位面板上的所述吸波材料正对所述待测试雷达，使得所述待测试雷达被所述吸波材料围绕，并控制所述测试设备不工作，所述待测试雷达执行虚警和底噪测试；所述吸波材料兼容0～100GHZ频率的电磁波。所述PLC上下料模组的运输及上下料动作通过电机传动的传送链或传送带执行，或者通过机械手执行；优选地，所述多个待测试雷达为24GHz、77GHz或79GHz的毫米波雷达。本专利技术还提供一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试方法，具体步骤如下：S1、输送多个待测试雷达同步到达不同暗箱，执行所述多个待测试雷达的上料动作；S2、所述不同暗箱同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作，并记录测试结果；S3、执行对所述多个待测试雷达的下料动作，并输送所述多个待测试雷达同步到达下一个工位。优选地，在所述步骤S2中，所述不同暗箱分工完成的所述测试动作包括近场测试和远场测试，还包括其中一个所述暗箱中执行的虚警和底噪测试；其中，所述远场测试均在一个所述暗箱中完成；所述远场测试包括角度标定；所述近场测试包括射频测试；所述射频测试包括频率、功率、带宽、带外辐射测试，以及增益、灵敏度测试，以及收发隔离度、目标模拟测试。优选地，所述多个待测试雷达为24GHz、77GHz或79GHz的毫米波雷达。本专利技术提供一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统与方法，通过多个下位机控制对应测试设备同步执行对多个待测试雷达的测试动作，一个主机控制多个对应于各个暗箱的下位机同时运行，实现了一台电脑操控多个暗箱的并行测试，大幅度缩短测试时间、提高产品的测试效率、生产效率以及设备的自动化程度；通过设置与一套远场测试项目的最大需求尺寸相匹配的暗箱，将所有需求尺寸较大的测试项目集中到同一暗箱，优化了远场测试效果；通过将多个暗箱竖立组合排列，减少了设备占地面积、提高空间利用率；通过设置水平定位面板，可根据待测试雷达的类型而切换到不同频段(如24GHz、77GHz或79GHz)的测试设备进行测试，并选择0～100GHz的吸波材料，实现了暗箱尺寸兼容、不同型号的产线兼容，减少了产线投入成本；还通过接入模拟器，自主模拟目标信号，利用虚拟的软件程序代替实际仪器进行信号分析，有效地简化电气连接结构、降低设备组装难度、大幅度地减少成本投入。附图说明图1是本专利技术实施例提供的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统立体结构图；图2是本专利技术实施例提供的图1的暗室布局示意图；图3是本专利技术实施例提供的射频测试设备的连接关系示意图；图4是本专利技术实施例提供的水平定位面板的结构示意图；图5是本专利技术实施例提供的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试方法的工作流程图；图6是本专利技术实施例提供的系统及方法的工作流程图；其中：上下料工作台0，中央控制模块1，主机11、第一下位机12、第二下位机13；PLC上下料模组2，载具21；暗箱模组3，第一暗箱31、第二暗箱32；水平定位板4；角反射器5，24GHZ角反射器51、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统，其特征在于，包括中央控制模块及与其独立电性连接的PLC上下料模组以及暗箱模组：所述中央控制模块，用于根据预设程序控制所述PLC上下料模组进行运输及上下料动作；所述PLC上下料模组，用于在所述中央控制模块的控制下输送多个待测试雷达同步到达所述暗箱模组的不同暗箱，执行所述多个待测试雷达的上料动作；所述中央控制模块，还用于根据所述预设程序在所述PLC上下料模组完成上料动作后，控制所述暗箱模组进行测试动作；所述暗箱模组，用于在所述中央控制模块的控制下同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作，并向所述中央控制模块反馈测试结果；所述PLC上下料模组，还用于在所述暗箱模组执行一次并行测试后，在所述中央控制模块的控制下，执行对所述多个待测试雷达的下料动作，并输送所述多个待测试雷达同步到达下一个工位。

【技术特征摘要】
1.一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统，其特征在于，包括中央控制模块及与其独立电性连接的PLC上下料模组以及暗箱模组：所述中央控制模块，用于根据预设程序控制所述PLC上下料模组进行运输及上下料动作；所述PLC上下料模组，用于在所述中央控制模块的控制下输送多个待测试雷达同步到达所述暗箱模组的不同暗箱，执行所述多个待测试雷达的上料动作；所述中央控制模块，还用于根据所述预设程序在所述PLC上下料模组完成上料动作后，控制所述暗箱模组进行测试动作；所述暗箱模组，用于在所述中央控制模块的控制下同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作，并向所述中央控制模块反馈测试结果；所述PLC上下料模组，还用于在所述暗箱模组执行一次并行测试后，在所述中央控制模块的控制下，执行对所述多个待测试雷达的下料动作，并输送所述多个待测试雷达同步到达下一个工位。2.如权利要求1所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统，其特征在于：所述暗箱模组至少包括两个并列排布的暗箱，一个所述暗箱对应一个所述待测试雷达、一套测试项目、一套测试设备；其中一个所述暗箱的尺寸与一套远场测试项目的最大需求尺寸相匹配；所述一套远场测试项目包括所有的远场测试项目。3.如权利要求2所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统，其特征在于：所述中央控制模块包括对应于所述测试设备的下位机，以及连接所有下位机的主机，所述主机还连接所述PLC上下料模组；所述下位机用于在所述主机的控制下同步执行对所述多个待测试雷达的测试动作，并向所述主机反馈测试结果。4.如权利要求3所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统，其特征在于，所述远场测试项目包括角度标定，对应的测试设备包括至少两个固定在水平定位板上不同位置的角反射器，对应于不同发射频率的所述待测试雷达；当所述待测试毫米波雷达到达暗箱的检测工位时，相应的下位机控制所述水平定位面板上频率相对应的所述角反射器正对所述待测试雷达。5.如权利要求3所述的一种毫米波雷达的多暗箱并行兼容测试系统，其特征在于，一套近场测试项目包括射频测试，对应的测试设备至少包括：与对应下位机电性连接的模拟器、与所述模拟器电性连接的射频开关，以及，至少两组固定在...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄晓彬，
申请(专利权)人：惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44