一种水稻株高测量尺制造技术

技术编号:22349117 阅读:42 留言:0更新日期:2019-10-19 18:01
本实用新型专利技术涉及农业用工具,一种水稻株高测量尺,其中第一长度标尺的正面具有第一长度刻度,第一长度刻度的零刻度位于第一长度标尺正面底部,第一长度刻度的末尾刻度与第一长度标尺的正面顶部平齐,第一长度标尺的背面具有滑槽,且滑槽顶端开放,所述第二长度标尺嵌入到滑槽内,所述第二长度标尺的正面具有第二长度刻度,第二长度刻度沿第二长度标尺尺身向下排列,所述第二长度标尺的背面具有滑道,该滑道内具有滑块,且滑块可沿滑道上下移动,所述对比尺第一端铰接在滑块上;所述滑块开设有螺纹孔,所述对比尺的第一端通过螺钉和滑块铰接,所述螺钉与对比尺接触段为光杆。该测量尺的可以广泛引用与各种阶段水稻株高的测量。

A measuring ruler for plant height of rice

【技术实现步骤摘要】
一种水稻株高测量尺
本技术涉及农业用工具,特别是一种水稻株高测量用的长度标尺。
技术介绍
株高是指植株根颈部到顶部之间的距离,其中顶部是指主茎顶部。株高是植物形态学调查工作中最基本的指标之一,其定义为从植株基部至主茎顶部即主茎生长点之间的距离。植物中,主要的植物学分类类型包括单子叶植物、双子叶植物等。现有技术中测量水稻株高通常用软尺,但因水稻叶子遮挡,软尺测量水稻株高不准确。
技术实现思路
为解决上述问题,本技术提供一种水稻株高测量尺,该测量尺的可以广泛引用与各种阶段水稻株高的测量。为实现上述目的,本技术采用的技术方案是:一种水稻株高测量尺,包括第一长度标尺、第二长度标尺和对比尺,其中所述第一长度标尺的正面具有第一长度刻度,第一长度刻度的零刻度位于第一长度标尺正面底部,第一长度刻度的末尾刻度与第一长度标尺的正面顶部平齐,第一长度标尺的背面具有滑槽,且滑槽顶端开放,所述第二长度标尺嵌入到滑槽内,并可沿滑槽顶端开放位置滑出,所述第二长度标尺的正面具有第二长度刻度,且第二长度刻度的起始刻度位于第二长度标尺的顶部,第二长度刻度沿第二长度标尺尺身向下排列,所述第二长度标尺的背面具有滑道,该滑道内具有滑块,且滑块可沿滑道上下移动,所述对比尺第一端铰接在滑块上;所述滑块开设有螺纹孔,所述对比尺的第一端通过螺钉和滑块铰接,所述螺钉与对比尺接触段为光杆。作为优选的,所述第一长度刻度和第二长度刻度均为100cm,单位刻度为1cm。作为优选的,所述滑块与滑道接触的表面为橡胶面,以增加滑块在滑道内的滑动阻尼。作为优选的,所述滑槽的横截面为“T”形,所述第二长度标尺的主体的横截面为“T”形。作为优选的,所述对比尺转动方向上,对比尺主体延伸长度的下侧面与对比尺第一端面之间的夹角为下转角,该下转角为圆角;所述滑道侧面具有档条,该档条两端与滑道两端平齐,所述对比尺主体的第一端面与档条的配合,使对比尺主体的极限转动位置为水平延伸。使用本技术的有益效果是:本测量尺通过第一长度标尺和第二长度标尺可相对伸缩,使得本长度标尺方便携带,并可在需要时伸缩以因对各种水稻的株高测量。同时对比尺可转动,使得对比尺携带时可收回到第二长度标尺背面,需要测量时再展开。本测量尺巧妙的利用下转角的圆弧结构,使得对比尺展开的极限位置为与第一长度标尺和第二长度标尺垂直的位置,使得测量水稻株高准确。附图说明图1为本技术水稻株高测量尺的使用状态图。图2为本技术水稻株高测量尺的另一实施例的使用状态图。图3为本技术水稻株高测量尺的背面结构示意图。图4为本技术水稻株高测量尺的剖面图结构示意图。图5为本技术水稻株高测量尺的比对尺的结构示意图。附图标记包括:100-第一长度标尺,110-第一长度刻度,200-第二长度标尺,210-第二长度刻度,220-滑道,230-档条,300-对比尺,310-对比尺主体,311-下转角,320-滑块,330-螺钉。具体实施方式为使本技术方案的目的、技术方案和优点更加清楚明了,下面结合具体实施方式,对本技术方案进一步详细说明。应该理解,这些描述只是示例性的,而不是要限制本技术方案的范围。如图1-图5所示,本实施例提供一种水稻株高测量尺,包括第一长度标尺100、第二长度标尺200和对比尺300,其中第一长度标尺100的正面具有第一长度刻度110,第一长度刻度110的零刻度位于第一长度标尺100正面底部,第一长度刻度110的末尾刻度与第一长度标尺100的正面顶部平齐,第一长度标尺100的背面具有滑槽,且滑槽顶端开放,第二长度标尺200嵌入到滑槽内,并可沿滑槽顶端开放位置滑出,第二长度标尺200的正面具有第二长度刻度210,且第二长度刻度210的起始刻度位于第二长度标尺200的顶部,第二长度刻度210沿第二长度标尺200尺身向下排列,第二长度标尺200的背面具有滑道220,该滑道220内具有滑块320,且滑块320可沿滑道220上下移动,对比尺300第一端铰接在滑块320上;滑块320开设有螺纹孔,对比尺300的第一端通过螺钉330和滑块320铰接,螺钉330与对比尺300接触段为光杆。如图1所示,本在长度标尺缩回到第一长度标尺100内部的滑槽内时,对比尺主体310仍然可以旋转出。如图2所示,在第二长度标尺200从第一长度标尺100的滑槽内伸出时,对应策略长度超过1米的水稻时,此时滑块320应移动到滑道220的顶部,对应读取第一长度标尺100顶端,即第一长度刻度110末尾刻度对应在第二长度刻度210的位置的读数,即为水稻的准确株高。在本实施例中,在对比尺主体310移动到第二长度标尺200的顶部并展开状态时,对比尺主体310和第二长度标尺200垂直,且下端面与第二长度标尺200顶部刻度对齐,如图2所示,且读数为138cm,对应水稻株高为138cm。第一长度刻度110和第二长度刻度210均为100cm,单位刻度为1cm。在其他实施例中,第一长度刻度110和第二长度刻度210可采用其他数值,优选的,第一长度刻度110末尾数值大于第二长度刻度210的末尾数值。滑块320与滑道220接触的表面为橡胶面,以增加滑块320在滑道220内的滑动阻尼。移动滑块320到合适的位置后,释放滑块320,滑块320也不会从滑道220内滑落。滑槽的横截面为“T”形,第二长度标尺200的主体的横截面为“T”形,滑槽的横截面和第二长度标尺200的主体的横截面形状,起到一定的导向作用,避免因对比尺300展开产生的力矩使第一长度标尺100和第二长度标尺200的相对滑动不顺畅。如图5所示,在对比尺主体310展开状态时,对比尺300转动方向上,对比尺主体310延伸长度的下侧面与对比尺300第一端面之间的夹角为下转角311,该下转角311为圆角;滑道220侧面具有档条230,该档条230两端与滑道220两端平齐,对比尺主体310的第一端面与档条230的配合,使对比尺主体310的极限转动位置为水平延伸。对比尺主体310延伸长度的上侧面与对比尺300第一端面之间的夹角为上转角,该上转角为直角。本测量尺通过第一长度标尺100和第二长度标尺200可相对伸缩,使得本长度标尺方便携带,并可在需要时伸缩以因对各种水稻的株高测量。同时对比尺300可转动,使得对比尺300携带时可收回到第二长度标尺200背面,需要测量时再展开。本测量尺巧妙的利用下转角311的圆弧结构,使得对比尺300展开的极限位置为与第一长度标尺100和第二长度标尺200垂直的位置,使得测量水稻株高准确。本测量尺即可测量小株高的水稻,又可测量较大株高的水稻,同时,本测量尺方便写到,弯曲展开后可准确读数,方便使用。以上内容仅为本技术的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本
技术实现思路
的思想,在具体实施方式及应用范围上可以作出许多变化,只要这些变化未脱离本技术的构思,均属于本专利的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种水稻株高测量尺,其特征在于:包括第一长度标尺、第二长度标尺和对比尺,其中所述第一长度标尺的正面具有第一长度刻度,第一长度刻度的零刻度位于第一长度标尺正面底部,第一长度刻度的末尾刻度与第一长度标尺的正面顶部平齐,第一长度标尺的背面具有滑槽,且滑槽顶端开放,所述第二长度标尺嵌入到滑槽内并可沿滑槽顶端开放位置滑出,所述第二长度标尺的正面具有第二长度刻度,且第二长度刻度的起始刻度位于第二长度标尺的顶部,第二长度刻度沿第二长度标尺尺身向下排列,所述第二长度标尺的背面具有滑道,该滑道内具有滑块,且滑块可沿滑道上下移动,所述对比尺第一端铰接在滑块上;所述滑块开设有螺纹孔,所述对比尺的第一端通过螺钉和滑块铰接,所述螺钉与对比尺接触段为光杆。

【技术特征摘要】
1.一种水稻株高测量尺,其特征在于:包括第一长度标尺、第二长度标尺和对比尺,其中所述第一长度标尺的正面具有第一长度刻度,第一长度刻度的零刻度位于第一长度标尺正面底部,第一长度刻度的末尾刻度与第一长度标尺的正面顶部平齐,第一长度标尺的背面具有滑槽,且滑槽顶端开放,所述第二长度标尺嵌入到滑槽内并可沿滑槽顶端开放位置滑出,所述第二长度标尺的正面具有第二长度刻度,且第二长度刻度的起始刻度位于第二长度标尺的顶部,第二长度刻度沿第二长度标尺尺身向下排列,所述第二长度标尺的背面具有滑道,该滑道内具有滑块,且滑块可沿滑道上下移动,所述对比尺第一端铰接在滑块上;所述滑块开设有螺纹孔,所述对比尺的第一端通过螺钉和滑块铰接,所述螺钉与对比尺接触段为...

【专利技术属性】
技术研发人员:于艳敏闫平武洪涛张书利徐振华杨忠良刘海英吴立成
申请(专利权)人:黑龙江省农业科学院耕作栽培研究所
类型:新型
国别省市:黑龙江,23

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