一种新型薄膜测厚仪测头制造技术

本实用新型专利技术涉及测量技术领域，具体是一种新型薄膜测厚仪测头。一种新型薄膜测厚仪测头，包括壳体、驱动机构、测量机构、支架，所述驱动机构设置于所述壳体内部，所述驱动机构包括步进电机、凸轮机构，所述测量机构包括下测砧、电感测头，所述步进电机连接所述凸轮机构，所述凸轮机构包括凸轮、移动支架、滑竿，所述凸轮通过偏心轴设置于所述支架上，所述滑竿数量为两根，所述滑竿竖直设置，所述滑竿上方设有滑竿固定板连接，所述滑竿通过滑竿套与所述移动支架滑动连接，所述移动支架底部通过滑筒法兰固定连接有滑筒，所述滑筒贯穿所述壳体底部，所述滑筒下方设有电感测头。本实用新型专利技术可调节测量时的压强及平行度，实现准确测量。

【技术实现步骤摘要】
一种新型薄膜测厚仪测头
本技术涉及测量
，具体是一种新型薄膜测厚仪测头。
技术介绍
现有的厚度测量方法很多，大体分为接触式测量和非接触式测量。接触式测量就是直接用带有测头的测量体对待测体进行接触，测出厚度，如螺旋测微计、数字百分表、千分表等，接触式测量大多数都是机械式的测量。非接触性的测量一般都是采用光学原理进行测量的。但是，有很多材料，由于反光或者透光的影响，给非接触性的测量带来了困难，所以，还需要进行机械测量。软包材料在受压时会出现不可忽视的压缩形变，因此，测试时一定要严格遵守标准对试样接触面积及压强的要求。不同的标准对于测试面积、所施压强有不同的要求.同种原理的机械式测厚仪检测同一试样产生的不同测试结果，其主要原因就是测量过程中对试样所施加的压强不同所造成的，因为设备的开发是遵照标准进行的。常用的简易测厚仪就是螺旋测微器，但是它所施加在试样上的压力不易量化，而且测薄膜和测纸张时施力都一样，不符合相关测试标准的要求。常见测量薄膜厚度的测量头有两种：平面型测量头和球面型测量头。前者可以使试样的被测区域均匀受力，而后者易于实现上测量点与下测量面的平行，但测量面积和压强无法控制和量化。
技术实现思路
鉴于现有技术中存在的不足和缺陷，本技术的目的在于提供一种新型薄膜测厚仪测头，本技术可同时实现测量时的压强调节及平行度调节，实现准确测量。为了解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种新型薄膜测厚仪测头，包括壳体、驱动机构、测量机构、支架，所述驱动机构设置于所述壳体内部，所述驱动机构包括步进电机、凸轮机构，所述测量机构包括下测砧、电感测头，所述步进电机连接所述凸轮机构，所述凸轮机构包括凸轮、移动支架、滑竿，所述凸轮通过偏心轴设置于所述支架上，所述滑竿数量为两根，所述滑竿竖直设置，所述滑竿上方设有滑竿固定板连接，所述滑竿通过滑竿套与所述移动支架滑动连接，所述移动支架底部通过滑筒法兰固定连接有滑筒，所述滑筒贯穿所述壳体底部，所述滑筒下方设有电感测头，所述下测砧设置于所述电感测头下方。实现电感测头上下移动测量。优选的，所述壳体底部设有底座，所述下测砧设置于所述底座上，所述底座底部设有支撑足，所述支撑足包括固定足与可调足，所述可调足设置于所述下测砧端，所述可调足包括调节地脚、锁紧螺母。通过调节可调足实现下测砧与电感测头之间平行度的调节。优选的，所述滑筒与所述壳体接触处设有滑套，所述滑套与所述壳体固定连接。避免滑筒在竖直方向移动时位置偏移。优选的，所述滑套底部设有电感测头固定套，所述电感测头固定套设置于所述电感测头外部，所述电感测头外部还设有电感测头保护套。实现对电感测头的固定与保护。优选的，所述电感测头固定套与所述电感测头之间设有电感测头调节座，所述电感测头调节座数量为三个。通过电感测头调节座调节电感测头压强的调节。优选地，所述壳体一侧设有显示屏，所述显示屏与所述控制器电连接。与现有技术相比，本技术具有的有益效果为：1.本技术可调节测量时对薄膜的压强，从而达到准确的测量结果。2.本技术可通过可调足调节电感测头与下测砧之间的平行度，从而实现准确测量。3.本技术通过控制步进电机带动凸轮机构运动，进而实现电感测头的上下移动。附图说明下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步的说明：图1为本技术结构示意图；图2为本技术D-D剖视图。图中：1、凸轮机构，2、电感测头，3、下测砧，4、滑套，5、滑筒，6、电感测头固定套，7、可调足，8、调节地脚，9、锁紧螺母，10、电感测头保护套，11、滑筒法兰，12、滑竿，13、移动支架，14、支架，15、固定足，16、步进电机，17、凸轮，18、驱动器，19、显示屏，20、控制器，21、壳体，22、偏心轴，23、滑竿固定板，24、滑竿套，25、底座，26、电感测头调节座。值得注意的是，在本技术的描述中，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。具体实施方式为了本技术的技术方案和有益效果更加清楚明白，下面结合附图和具体实施例对本技术进行进一步的详细说明，如图1、图2所示，一种新型薄膜测厚仪测头，包括壳体21、驱动机构、测量机构、支架14，所述驱动机构设置于所述壳体21内部，所述驱动机构包括步进电机16、凸轮机构1，所述测量机构包括下测砧3、电感测头2，所述步进电机16连接所述凸轮机构1，所述凸轮机构1包括凸轮17、移动支架13、滑竿12，所述凸轮17通过偏心轴22设置于所述支架14上，所述滑竿12数量为两根，所述滑竿12竖直设置，所述滑竿12上方设有滑竿固定板23连接，所述滑竿12通过滑竿套24与所述移动支架13滑动连接，所述移动支架13底部通过滑筒法兰11固定连接有滑筒5，所述滑筒5贯穿所述壳体21底部，所述滑筒5与所述壳体21接触部设有滑套4，所述滑筒5下方设有电感测头2，所述下测砧3设置于所述电感测头2下方，所述壳体21底部设有底座25，所述下测砧3设置于所述底座25上，所述底座25底部设有支撑足，所述支撑足包括固定足15与可调足7，所述可调足7设置于所述下测砧3端，所述可调足7包括调节地脚8、锁紧螺母9，通过调节可调足7实现下测砧3与电感测头2之间平行度的调节，所述滑套4底部设有电感测头固定套6，所述电感测头固定套6设置于所述电感测头2外部，所述电感测头2外部还设有电感测头保护套10，实现对电感测头2的固定与保护。所述电感测头固定套6与所述电感测头2之间设有电感测头调节座26，所述电感测头调节座26数量为三个，通过电感测头调节，26调节电感测头压强的调节。本技术工作时，先通过调节可调足7将下测砧3与电感测头2之间平行度，待调节好后，显示屏19与控制器20电连接，控制器20与驱动器18电连接，驱动器18与步进电机16电连接，通过显示屏19和控制器20控制驱动器18，驱动器18控制步进电机16转动，步进电机16的输出端连接偏心轴22进而带动凸轮17转动，通过凸轮17转动带动移动支架13沿滑竿12上下运动，进而带动滑筒5和电感测头2上下运动进行测量。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅用于理解本技术，并不用于限定本技术，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型薄膜测厚仪测头，其特征在于，包括壳体、驱动机构、测量机构、支架，所述驱动机构设置于所述壳体内部，所述驱动机构包括步进电机、凸轮机构，所述测量机构包括下测砧、电感测头，所述步进电机连接所述凸轮机构，所述凸轮机构包括凸轮、移动支架、滑竿，所述凸轮通过偏心轴设置于所述支架上，所述滑竿数量为两根，所述滑竿竖直设置，所述滑竿上方设有滑竿固定板连接，所述滑竿通过滑竿套与所述移动支架滑动连接，所述移动支架底部通过滑筒法兰固定连接有滑筒，所述滑筒贯穿所述壳体底部，所述滑筒下方设有电感测头，所述下测砧设置于所述电感测头下方。

【技术特征摘要】
1.一种新型薄膜测厚仪测头，其特征在于，包括壳体、驱动机构、测量机构、支架，所述驱动机构设置于所述壳体内部，所述驱动机构包括步进电机、凸轮机构，所述测量机构包括下测砧、电感测头，所述步进电机连接所述凸轮机构，所述凸轮机构包括凸轮、移动支架、滑竿，所述凸轮通过偏心轴设置于所述支架上，所述滑竿数量为两根，所述滑竿竖直设置，所述滑竿上方设有滑竿固定板连接，所述滑竿通过滑竿套与所述移动支架滑动连接，所述移动支架底部通过滑筒法兰固定连接有滑筒，所述滑筒贯穿所述壳体底部，所述滑筒下方设有电感测头，所述下测砧设置于所述电感测头下方。2.根据权利要求1所述的一种新型薄膜测厚仪测头，其特征在于，所述壳体底部设有底座，所述下测砧设置于所述底座上，所述底座底部设有...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亚彬，张国仁，
申请(专利权)人：山东德瑞克仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：山东,37