本实用新型专利技术揭示了应用于显示屏的亮度测试装置，包括暗房箱体及测光单元，暗房箱体包括一个用于放置显示器的放置面壁、及一个用于装载测光单元的装载面壁，暗房箱体的底面上设有位于装载面壁一端的下沉台面，并且下沉台面上设有水平设置的且与装载面壁相平行的滑轨，测光单元包括测光仪、滑动设置于滑轨上的基座、及位于测光仪与基座之间的升降机构。本实用新型专利技术的测光仪具备垂直向及水平向可调节位移，能实现对显示屏的任意点调节检测，且下沉台面的设计确保无测光死角，测量数据全面。暗房箱体的设计确保了暗房检测的避光性，无杂光影响，确保测试精度。整体设计巧妙，易于实施及推广应用。
Brightness Testing Device Applied to Display Screen
【技术实现步骤摘要】
应用于显示屏的亮度测试装置
本技术涉及一种测光设备，尤其涉及应用于显示屏的暗房作业亮度测试装置，属于亮度测试装置的
技术介绍
显示屏亮度测试常用的成像式亮度计和遮光筒式亮度计；成像式亮度计就是我们常见的彩色亮度计和色彩辉度计。常常用在LED显示屏的亮度测试，它只能测试LED显示屏较小区域的亮度值。采用CCD的像素灰度测量系统；主要原理是利用CCD采集LED显示屏的图像，再用图像处理技术对图像进行处理，提取LED显示屏的每个像素的灰度值。从而对出LED显示屏的每个像素的相对亮度值采用CCD技术的亮度计。利用CCD采集LED显示屏灰数据，它改善了前面两种亮度计无法测量大面积亮度源的缺陷，实时性好，可获取信息量大，可得到LED显示屏的每个像素成像在CCD上的灰度值。但这个灰度值不能和实际亮度值对等，甚至和亮度值缺乏严格的线性关系。传统的机载液晶显示器光学特性测量主要采用人工点对点的方式，测量过程中分光辐射亮度计、模拟光源和机载液晶显示器的相对位置是通过人来控制的。另外，由于光学特性中的最小亮度测量需要在暗环境下进行，在没有独立的暗室时，一般先用不透光遮布将机载液晶显示器和测量设备同时掩盖，遮布没有支点支撑，测量过程中容易遮住机载液晶显示器显示面，导致测量数据不准确。
技术实现思路
本技术的目的是解决上述现有技术的不足，针对传统亮度测试需要人工点对点及暗室作业导致测量数据不准确的问题，提出应用于显示屏的亮度测试装置。为了达到上述目的，本技术所采用的技术方案为：应用于显示屏的亮度测试装置，包括暗房箱体及位于暗房箱体内的测光单元，所述暗房箱体包括两个相对的枢轴盖合面壁，其中一个为用于放置显示器的放置面壁，另一个为用于装载测光单元的装载面壁，所述暗房箱体的底面上设有位于所述装载面壁一端的下沉台面，并且所述下沉台面上设有水平设置的且与所述装载面壁相平行的滑轨，所述测光单元包括测光仪、滑动设置于所述滑轨上的基座、及位于所述测光仪与所述基座之间的升降机构。优选地，所述升降机构为升降气缸或铰接升降架。优选地，所述基座内设有用于驱动所述基座水平向位移的水平驱动源、及用于驱动所述升降机构升降的垂直驱动源。优选地，所述暗房箱体为六面体暗房箱。优选地，所述暗房箱体的底部设有移动支架。本技术的有益效果主要体现在：1.测光仪具备垂直向及水平向可调节位移，能实现对显示屏的任意点调节检测，且下沉台面的设计确保无测光死角，测量数据全面。2.暗房箱体的设计确保了暗房检测的避光性，无杂光影响，确保测试精度。3.整体设计巧妙，易于实施及推广应用。附图说明图1是本技术应用于显示屏的亮度测试装置的结构示意图。具体实施方式本技术提供应用于显示屏的亮度测试装置。以下结合附图对本技术技术方案进行详细描述，以使其更易于理解和掌握。应用于显示屏的亮度测试装置，如图1所示，包括暗房箱体1及位于暗房箱体1内的测光单元2，暗房箱体1包括两个相对的枢轴盖合面壁，其中一个为用于放置显示器的放置面壁3，另一个为用于调节测光单元2位移的装载面壁4。具体地说明，通过打开放置面壁3可进行显示器放置及搬离，而装载面壁4一方面用于在暗房箱体1中放置测光单元2，另一方面用于手动模式下的手动调节位移。放置面壁3和装载面壁4可为枢轴配接式气缸门。需要说明的是，暗房箱体1内存在供显示器通电及通信的缆线设计，而缆线为穿过暗房箱体1的，并且缆线与箱体壁之间的配接孔具备遮光设计，确保检测状态下暗房箱体1内为全避光封闭状态。本案中，暗房箱体1的底面上设有位于装载面壁4一端的下沉台面5，并且下沉台面5上设有水平设置的且与装载面壁4相平行的滑轨6。测光单元2包括测光仪7、滑动设置于滑轨6上的基座8、及位于测光仪7与基座8之间的升降机构9。具体地说明，通过基座8与升降机构9的滑动及升降位移，能调节测光仪7与显示器显示屏之间的相对测量点，从而满足针对显示屏任意点的相对位置调整，而下沉台面5的设计能确保不会存在调节死角，满足全屏采点的需求。本案中的升降机构9可以为升降气缸或铰接升降架。当然，其他能实现测光仪7升降位移的结构也在本案的保护范围之内。优选实施例中，基座8内设有用于驱动基座水平向位移的水平驱动源、及用于驱动升降机构9升降的垂直驱动源。具体地说明，可以通过设置自动驱动机构实现对测光仪7的自动驱动，满足自动全屏扫描的需求。更具体地说明，基座8内存在步进电机，步进电机的驱动端与滑轨6相摩擦配接，通过步进电机的正向旋转或反向旋转驱动基座8在滑轨6上的水平向往复位移，而升降机构9为升降气缸或由电机驱动的升降丝杆，从而能实现自动升降。在一个最优实施例中，采用控制器对测光仪7的位移进行编程控制，使得测光仪7对显示器的显示屏进行全屏扫描，当然，此运用中，显示器是具备固定位移的。本案中的暗房箱体1为六面体暗房箱，结构规整，易于制造。而暗房箱体1的底部设有移动支架10，该移动支架10便于亮度测试装置的运载。通过以上描述可以发现，本技术应用于显示屏的亮度测试装置，测光仪具备垂直向及水平向可调节位移，能实现对显示屏的任意点调节检测，且下沉台面的设计确保无测光死角，测量数据全面。暗房箱体的设计确保了暗房检测的避光性，无杂光影响，确保测试精度。整体设计巧妙，易于实施及推广应用。以上对本技术的技术方案进行了充分描述，需要说明的是，本技术的具体实施方式并不受上述描述的限制，本领域的普通技术人员依据本技术的精神实质在结构、方法或功能等方面采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案，均落在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.应用于显示屏的亮度测试装置，其特征在于：包括暗房箱体及位于暗房箱体内的测光单元，所述暗房箱体包括两个相对的枢轴盖合面壁，其中一个为用于放置显示器的放置面壁，另一个为用于装载测光单元的装载面壁，所述暗房箱体的底面上设有位于所述装载面壁一端的下沉台面，并且所述下沉台面上设有水平设置的且与所述装载面壁相平行的滑轨，所述测光单元包括测光仪、滑动设置于所述滑轨上的基座、及位于所述测光仪与所述基座之间的升降机构。
【技术特征摘要】
1.应用于显示屏的亮度测试装置，其特征在于：包括暗房箱体及位于暗房箱体内的测光单元，所述暗房箱体包括两个相对的枢轴盖合面壁，其中一个为用于放置显示器的放置面壁，另一个为用于装载测光单元的装载面壁，所述暗房箱体的底面上设有位于所述装载面壁一端的下沉台面，并且所述下沉台面上设有水平设置的且与所述装载面壁相平行的滑轨，所述测光单元包括测光仪、滑动设置于所述滑轨上的基座、及位于所述测光仪与所述基座之间的升降机构。2.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄晶，雷军，张子龙，周晨希，徐纯洁，蒋霜菊，
申请(专利权)人：苏州长风航空电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32
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