存储系统性能评估装置、方法、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本实施例提出一种存储系统性能评估装置、方法、电子设备及存储介质，涉及系统性能评估领域。该装置应用于EDA电子设计自动化仿真验证平台。该装置的收发模块用于将获取的测试数据发送至待测模块以及参考模块，收发模块还用于获取待测模块根据预设规则处理测试数据得到的实际测试数据。参考模块用于根据预设规则处理测试数据，得到期望测试数据。判断模块用于判断实际测试数据与期望测试数据是否一致，判断模块还用于在实际测试数据与期望测试数据一致时，确定待测模块功能正常。由于判断模块可以根据期望测试数据以及实际测试数据判断待测模块的功能是否正常，实现了对待测模块功能的评估，并且成本低、自动化、可靠性高、应用灵活。

Performance Evaluation Device, Method, Electronic Equipment and Storage Media of Storage System

【技术实现步骤摘要】
存储系统性能评估装置、方法、电子设备及存储介质
本申请涉及系统性能评估领域，具体而言，涉及一种存储系统性能评估装置、方法、电子设备及存储介质。
技术介绍
随着SOC(SystemOnChip，系统级芯片)芯片中处理器、业务模块运算速率的大幅度提升，其内部的DRAM(DynamicRandomAccessMemory，动态随机存取存储器)存储子系统的性能好坏成为影响SOC系统性能的重要因素。因此，怎样对DRAM存储子系统进行性能评估成为DRAM存储子系统的设计和整芯片架构的开发中非常重要的一环。当前，通常采用FPGA(Field－ProgrammableGateArray，现场可编程门阵列)原型验证的方式对DRAM存储子系统进行性能评估，但是，由于FPGA速率较低，FPGA原型验证中的等比降频方案对DRAM存储子系统性能的评估并不适用，并且会放大诸如动态刷新等对DRAM存储子系统性能的影响程度。另外，采用Emulator平台对DRAM存储子系统进行性能评估，虽然能够提升工作速率，但是存在价格昂贵的缺点。
技术实现思路
本申请的目的在于提供一种存储系统性能评估装置、方法、电子设备及存储介质，其实现了对待测模块功能的评估，并且具备成本低、自动化、可靠性高以及应用灵活的优点。为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：第一方面，本申请实施例提供一种存储系统性能评估装置，应用于EDA电子设计自动化仿真验证平台。所述装置包括收发模块、参考模块以及判断模块。所述收发模块用于将获取的测试数据发送至待测模块以及所述参考模块，所述收发模块还用于获取所述待测模块根据预设规则处理所述测试数据得到的实际测试数据，以及用于将所述实际测试数据发送至所述判断模块。所述参考模块用于根据所述预设规则处理所述测试数据，得到期望测试数据，以及用于将所述期望测试数据发送至所述判断模块。所述判断模块用于判断所述实际测试数据与所述期望测试数据是否一致，所述判断模块还用于在所述实际测试数据与所述期望测试数据一致时，确定所述待测模块功能正常。第二方面，本申请实施例提供一种存储系统性能评估方法，应用于EDA电子设计自动化仿真验证平台，所述方法包括：将获取的测试数据发送至待测模块；获取所述待测模块根据预设规则处理所述测试数据得到的实际测试数据；根据所述预设规则处理所述测试数据，得到期望测试数据；判断所述实际测试数据与所述期望测试数据是否一致；若所述实际测试数据与所述期望测试数据一致，则确定所述待测模块功能正常。第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，所述电子设备包括存储器以及处理器，所述存储器用于存储一个或多个程序。当一个或多个程序被处理器执行时，实现上述的存储系统性能评估方法。第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的存储系统性能评估方法。相对于现有技术，本申请实施例所提供的一种存储系统性能评估装置、方法、电子设备及存储介质。该装置应用于EDA电子设计自动化仿真验证平台。所述装置包括收发模块、参考模块以及判断模块。所述收发模块用于将获取的测试数据发送至待测模块以及所述参考模块，所述收发模块还用于获取所述待测模块根据预设规则处理所述测试数据得到的实际测试数据，以及用于将所述实际测试数据发送至所述判断模块。所述参考模块用于根据所述预设规则处理所述测试数据，得到期望测试数据，以及用于将所述期望测试数据发送至所述判断模块。所述判断模块用于判断所述实际测试数据与所述期望测试数据是否一致，所述判断模块还用于在所述实际测试数据与所述期望测试数据一致时，确定所述待测模块功能正常。由于参考模块以及待测模块均根据同一个预设规则处理测试数据，判断模块可以根据参考模块输出的期望测试数据以及待测模块输出的实际测试数据判断待测模块的功能是否正常，进而实现了对待测模块功能的评估，并且具备成本低、自动化、可靠性高以及应用灵活的优点。为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它相关的附图。图1为本申请实施例提供的一种存储系统性能评估装置的方框示意图。图2为本专利技术实施例提供的另一种存储系统性能评估装置的方框示意图。图3为本申请实施例提供的又一种存储系统性能评估装置的方框示意图。图4为本申请实施例提供的再一种存储系统性能评估装置的方框示意图。图5为本申请实施例提供的一种数据传输时序的示意图。图6为本申请实施例提供的一种存储系统性能评估方法的流程示意图。图7为本申请实施例提供的一种电子设备的示意性结构框图。图中：100-存储系统性能评估装置；110-收发模块；120-参考模块；130-判断模块；200-待测模块；300-电子设备；301-存储器；302-处理器；303-通信接口。具体实施方式为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。在本申请的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。请参阅图1，为本申请实施例提供的一种存储系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储系统性能评估装置，其特征在于，应用于EDA电子设计自动化仿真验证平台，所述装置包括收发模块、参考模块以及判断模块；所述收发模块用于将获取的测试数据发送至待测模块以及所述参考模块；所述收发模块还用于获取所述待测模块根据预设规则处理所述测试数据得到的实际测试数据，以及用于将所述实际测试数据发送至所述判断模块；所述参考模块用于根据所述预设规则处理所述测试数据，得到期望测试数据，以及用于将所述期望测试数据发送至所述判断模块；所述判断模块用于判断所述实际测试数据与所述期望测试数据是否一致；所述判断模块还用于在所述实际测试数据与所述期望测试数据一致时，确定所述待测模块功能正常。

【技术特征摘要】
1.一种存储系统性能评估装置，其特征在于，应用于EDA电子设计自动化仿真验证平台，所述装置包括收发模块、参考模块以及判断模块；所述收发模块用于将获取的测试数据发送至待测模块以及所述参考模块；所述收发模块还用于获取所述待测模块根据预设规则处理所述测试数据得到的实际测试数据，以及用于将所述实际测试数据发送至所述判断模块；所述参考模块用于根据所述预设规则处理所述测试数据，得到期望测试数据，以及用于将所述期望测试数据发送至所述判断模块；所述判断模块用于判断所述实际测试数据与所述期望测试数据是否一致；所述判断模块还用于在所述实际测试数据与所述期望测试数据一致时，确定所述待测模块功能正常。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述判断模块用于在所述实际测试数据与所述期望测试数据一致时，根据所述实际测试数据的有效传输数据量以及传输时间计算数据传输效率，其中，所述数据传输效率表征所述待测模块的性能。3.根据权利要求2所述的存储系统性能评估装置，其特征在于，所述判断模块用于判断所述数据传输效率是否达到预设优化值；所述判断模块用于在所述数据传输效率达到所述预设优化值时，确定所述待测模块的性能提升；所述判断模块还用于在所述数据传输效率未达到所述预设优化值时，确定所述待测模块的性能未提升。4.根据权利要求1所述的存储系统性能评估装置，其特征在于，所述收发模块用于获取所述测试数据，并根据预设的格式转换规则将所述测试数据转换为时序信号，并将所述时序信号发送至所述待测模块；其中，所述测试数据包括第一格式生成数据以及第二格式生成数据，所述第一格式生成数据包括预设长度的随机数据，所述第二格式生成数据包括递增数据以及全0和/或全1的数据。5.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：王颖，
申请(专利权)人：江苏芯盛智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32