检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法技术方案

本发明专利技术涉及检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法。检测设备包括：测量线圈，布置在被配置为接收通过磁场供应的电力的电力接收线圈附近；测量部，被配置为测量测量线圈的电压作为测量线圈电压；以及异物检测部，被配置为基于测量线圈电压获得电力接收线圈和测量线圈的至少一个的电气特性值，并且如果电气特性值低于预定的下限阈值，则在磁场中检测到异物。

Testing equipment, power supply system and methods of controlling testing equipment

【技术实现步骤摘要】
检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法本申请为申请日为2014年5月9日、申请号为201410196126.0、专利技术名称为“检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法”的分案申请。相关申请的交叉引用本申请要求于2013年5月16日提交的日本在先专利申请JP2013-103629的权益，将其全部内容通过引用结合于此。
本公开涉及一种检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法。更具体地，本公开涉及一种检测磁场中的异物的检测设备、电力供应系统以及控制检测设备的方法。
技术介绍
近几年，以电非接触的方式向诸如移动手机、移动音乐播放器等的CE(消费电子)装置供电的电力供应系统已经引起了人们的关注。这些电力供应系统称为非接触电力供应系统、非接触电力输送系统、无线电供应系统等。利用这些系统，可以通过简单的方法向二次侧装置充电，例如，在一次侧装置(诸如电力供应装置等)上放置二次侧装置，诸如电子装置。就是说，电子装置和电力供应装置之间的终端连接变得没有必要。作为一种以该方式执行非接触电力供应的方法，电磁感应方法已被熟知。而且，最近，使用利用共振现象的被称为磁场共振法(或磁供振法)的非接触本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测设备，包括：测量线圈，布置在被配置为接收通过磁场供应的电力的电力接收线圈的附近；测量部，被配置为测量所述测量线圈的电压以作为测量线圈电压；以及异物检测部，被配置为基于所述测量线圈电压获得所述电力接收线圈和所述测量线圈中的至少一个的电气特性值，并且如果所述电气特性值低于预定的下限阈值，则在所述磁场中检测到异物。

【技术特征摘要】
2013.05.16 JP 2013-1036291.一种检测设备，包括：测量线圈，布置在被配置为接收通过磁场供应的电力的电力接收线圈的附近；测量部，被配置为测量所述测量线圈的电压以作为测量线圈电压；以及异物检测部，被配置为基于所述测量线圈电压获得所述电力接收线圈和所述测量线圈中的至少一个的电气特性值，并且如果所述电气特性值低于预定的下限阈值，则在所述磁场中检测到异物。2.根据权利要求1所述的检测设备，其中，如果所述电气特性值低于所述下限阈值，或者如果所述电气特性值高于比所述下限阈值大的上限阈值，则所述异物检测部被配置为检测到所述异物。3.根据权利要求2所述的检测设备，其中，所述上限阈值高于作为在不存在异物时的所述电气特性值的参考值，并且所述下限阈值是低于所述参考值的值。4.根据权利要求1所述的检测设备，其中，所述测量部被配置为进一步测量所述电力接收线圈的电压和电流，以及所述异物检测部被配置为从所述测量线圈电压以及所述电力接收线圈的所述电压和所述电流中获得所述电力接收线圈的阻抗以作为所述电气特性值。5.根据权利要求1所述的检测设备，其中，所述测量部被配置为进一步测量所述电力接收线圈的电压以作为电力接收线圈电压，并且所述异物检测部被配置为获得所述测量线圈电压与所述电力接收线圈电压的电压比以作为所述电气特性值。6.根据权利要求5所述的检测设备，其中，所述测量部被配置为进一步测量所述电力接收线圈的电压以作为电力接收线圈电压，所述电力接收线圈被配置为依次接收彼此具有不同的电力量的第一电力和第二电力，并且所述异物检测部被配置为获得在接收所述第一电力时所获得的所述电压比与在接收所述第二电力时所获得的所述电压比之间的差值以作为所述电气特性值。7.根据权利要求1所述的检测设备，其中，所述测量线圈被配置为具有比所述电力接收线圈的线圈表面积小的线圈表面积。8.根据权利要求7所述的检测设备，其中，所述测量线圈被布置在所...

【专利技术属性】
技术研发人员：大前宇一郎，木屋川内保，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本,JP