一种双脊波导法液晶介电测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种双脊波导法液晶介电测试装置，包括波导腔体、矢量网路分析仪、同轴传输线、脊波导同轴转换器、耦合孔、双脊波导腔端板、聚四氟乙烯管和连接孔，所述波导腔体上表面固定有脊波导同轴转换器，所述脊波导同轴转换器上连接有同轴传输线，所述双脊波导腔端板之间形成耦合孔，所述聚四氟乙烯管穿插在波导腔体竖向中轴线处内部，所述连接孔设置在波导腔体上。该双脊波导法液晶介电测试装置用脊波导测量液晶材料在加磁场作用下介电参数的变化，具有测试液晶的样品的体积小可节约成本，可靠性高，频带较宽，可调谐范围大，该测试设备不仅方便更换液晶样品，实现宽带快速测试，而且提供了对低损耗液晶材料的准确测量。

A Double Ridge Waveguide Dielectric Testing Device for Liquid Crystal

【技术实现步骤摘要】
一种双脊波导法液晶介电测试装置
本专利技术涉及微波技术测试领域，具体为一种双脊波导法液晶介电测试装置。
技术介绍
大多数液晶材料是抗磁性物质，这其中主要来自于几乎所有的液晶分子中都存在着苯环，我们从分子角度上看，当磁场垂直于苯环时，电流会在苯环中增加，导致苯环里的能量越来越大，另一方面，当磁场与环平行时，苯环上就没有感应电流使得液晶分子的能量不会继续增加。因此，根据能量越低越稳定的原则，在磁场的作用下液晶分子总是要平行于磁场排列，因而液晶分子是会发生偏转的。多年来，人们提出了几种测量材料介电性能的技术，特别是谐振腔的方法，在低损耗的情况下测量精度较高并得到了广泛的应用。一般单个矩形波导结构无法测量宽频带，想要测量就得需要多个不同尺寸的矩形波导，非常不实用也不方便。因此本专利采用双脊波导的方法来测试液晶在磁场作用下的介电性能。该方法可以明显提高谐振腔体的工作带宽，提高80％左右。用谐振法和非谐振法研究了纳米晶体在微波频率下的介电特性。与通常提供宽带测量的非谐振方法相比，谐振方法通常是满足高精度测试要求的首选方法，特别是对低损耗材料。此外，谐振腔法更容易加载不同的液晶样品。目前国内的脊波本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双脊波导法液晶介电测试装置，包括波导腔体(1)、矢量网路分析仪(2)、同轴传输线(3)、脊波导同轴转换器(4)、耦合孔(5)、双脊波导腔端板(6)、聚四氟乙烯管(7)和连接孔(8)，其特征在于：所述波导腔体(1)上表面固定有脊波导同轴转换器(4)，所述脊波导同轴转换器(4)上连接有同轴传输线(3)，所述同轴传输线(3)的一端连接在量网路分析仪(2)上，所述双脊波导腔端板(6)穿插在波导腔体(1)的内部，所述双脊波导腔端板(6)之间形成耦合孔(5)，所述聚四氟乙烯管(7)穿插在波导腔体(1)竖向中轴线处内部，所述连接孔(8)设置在波导腔体(1)上。

【技术特征摘要】
1.一种双脊波导法液晶介电测试装置，包括波导腔体(1)、矢量网路分析仪(2)、同轴传输线(3)、脊波导同轴转换器(4)、耦合孔(5)、双脊波导腔端板(6)、聚四氟乙烯管(7)和连接孔(8)，其特征在于：所述波导腔体(1)上表面固定有脊波导同轴转换器(4)，所述脊波导同轴转换器(4)上连接有同轴传输线(3)，所述同轴传输线(3)的一端连接在量网路分析仪(2)上，所述双脊波导腔端板(6)穿插在波导腔体(1)的内部，所述双脊波导腔端板(6)之间形成耦合孔(5)，所述聚四氟乙烯管(7)穿插在波导腔体(1)竖向中轴线处内部，所述连接孔(8)设置在波导腔体(1)上。2.根据权利要求1所述的一种双脊波导法液晶介电测试装置，其特征在于：所述脊波导同轴转换器(4)包括脊波导下腔体(41)、凹槽(42)、波导脊(43)、金属通孔(44)、脊波导上腔体(45)、金属法兰(46)、法兰连接器(47)、SMA接头(48)、内导体(49)和调节螺杆(410)，所述脊波导下腔体(41)的上表面设置有凹槽(42)，且凹槽(42)设置有两个，所述凹槽(42)之间设置有波导脊(43)，所述波导脊(43)的末端设置有金属通孔(44)，所述脊波导上腔体(45)设置在脊波导上腔体(41)的上方，所述脊波导上腔体(45)上表面设置有金属法兰(46)，所述金属法兰(46)的上方...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵青，赵怿哲，陈宗，汪相如，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川,51