一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，所述眼镜框架包括镜框（1）和镜框（1）两侧的镜架（2）；其特征在于：位于左、右两片所述双眼撑片（3）的横向中央位置分别设置有一组刻度线（4），所述刻度线（4）的刻度基准线位于所述双眼撑片（3）的纵向中间位置且所述刻度线（4）沿着所述双眼撑片（3）的纵向朝向所述镜框（1）的上镜框（11）延伸分布，所述刻度线（4）的最小刻度为1mm，从而使得佩戴者通过观察检测者位置附近处的光源能够将瞳孔位于双眼撑片的刻度线位置，检测者通过标记装置在刻度线上直接标记出佩戴者的单眼瞳高，提高眼镜加工的精准度以及佩戴者的眼镜配戴舒适度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架
本技术涉及一种眼镜框架，具体涉及一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架。
技术介绍
眼镜在加工前需要根据佩戴者的眼睛实际眼部尺寸及需求，测量佩戴者的瞳高，目前常用测量方式包括角膜映光点瞳法以及瞳高测量仪测量法，两种测量方式都比较繁琐费时，且受检测者检测熟练程度的影响较大，从而易造成误差极大，致使眼镜佩戴者佩戴加工后的眼镜舒适度降低，严重影响功能型镜片验配成功率，增加佩戴者的佩戴风险以及重配镜成本，增加检测者的检测耗时及成本。
技术实现思路
针对现有技术中的缺点和不足，本技术提供了一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架。为解决上述技术问题，本技术提供的技术方案为：一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，所述眼镜框架包括镜框和镜框两侧的镜架，所述镜框包括位于上方的上镜框、位于下方的下镜框、位于外侧的外镜框、以及位于内侧的内镜框，所述镜框内部设置有双眼撑片；其特征在于：位于左、右两片所述双眼撑片的横向中央位置分别设置有一组刻度线，所述刻度线的刻度基准线位于所述双眼撑片的纵向中间位置且所述刻度线沿着所述双眼撑片的纵向朝向所述镜框的上镜框延伸分布，所述刻度线的最小刻度为1mm。进一步地，所述刻度线的一侧标注有数字刻度。进一步地，所述刻度线与所述数字刻度采用黑色或灰色颜料标记。进一步地，所述数字刻度的单位为cm。进一步地，所述上镜框、下镜框、外镜框、以及内镜框分别设置为圆弧状，且所述上镜框的弧长和半径大于所述下镜框的弧长和半径，所述外镜框的弧长和半径大于所述内镜框的弧长和半径。进一步地，所述刻度线的延伸方向与位于所述上镜框的弧长中点位置的半径相重合。进一步地，所述上镜框与所述外镜框之间、所述外镜框与所述下镜框之间采用圆弧过渡，所述上镜框与所述内镜框之间设置有镜托以实现左、右镜框的连接，所述内镜框与所述下镜框之间采用钝角过渡。进一步地，所述双眼撑片采用透明反光材质。进一步地，所述双眼撑片采用易标记材质。进一步地，所述双眼撑片的标记能够擦除使得所述双眼撑片能够反复使用。与现有技术相比，本技术的有益效果为：（1）在镜框内部的双眼撑片的横向中央位置分别设置有一组刻度线，刻度线的刻度基准线位于双眼撑片的纵向中间位置且刻度线沿着双眼撑片的纵向朝向镜框的上镜框延伸分布，刻度线的最小刻度为1mm，从而使得佩戴者通过观察检测者位置附近处的光源能够将瞳孔位于双眼撑片的刻度线位置，检测者通过标记装置在刻度线上直接标记出佩戴者的单眼瞳高，提高眼镜加工的精准度以及佩戴者的眼镜配戴舒适度。（2）刻度线的一侧标注有数字刻度，从而便于检测者在标记单眼瞳高位置的同时就可以通过数字刻度读出佩戴者的单眼瞳高，刻度线与数字刻度采用黑色或灰色颜料标记，采用相对暗色颜料进行标记从而可以进一步凸显出光源在双眼撑片上的反射位置，便于检测者识别和辨认，数字刻度的单位为cm，简洁明显，避免数字刻度设置过多在小面积区域过于集中从而对检测者观察造成困扰，同时结合刻度线的最小刻度1mm方便检测者在检测的同时直接读出数字刻度。（3）上镜框与外镜框之间、外镜框与下镜框之间采用圆弧过渡，方便眼镜框架的保存及便于佩戴者佩戴，上镜框与内镜框之间设置有镜托以实现左、右镜框的连接以便于佩戴于佩戴者的鼻梁上，内镜框与下镜框之间采用钝角过渡，在保证保存及便于佩戴者佩戴的前提下，为该眼镜框架支撑于佩戴者的眼部附近位置提供支撑点。（4）双眼撑片采用透明反光材质，从而便于凸显出光源在双眼撑片上的反射位置，双眼撑片采用易标记材质，从而方便检测者在佩戴者的瞳高位置做出位置标记，同时双眼撑片的标记能够擦除使得双眼撑片能够反复使用，节约成本，减少开支。附图说明下面结合附图，对本技术作进一步的说明，以下所述实施例仅是作为本技术具体实施之例，而并非对本技术所作的限制。图1为本技术一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架的结构示意图；具体实施方式下面结合附图对本技术的较佳实施例作详细阐述，以使本技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本技术的保护范围作出更为清楚明确的界定。参见图1所示，一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，眼镜框架包括镜框1和镜框1两侧的镜架2，镜框1包括位于上方的上镜框11、位于下方的下镜框12、位于外侧的外镜框13、以及位于内侧的内镜框14，镜框1内部设置有双眼撑片3；位于左、右两片双眼撑片3的横向中央位置分别设置有一组刻度线4，刻度线4的刻度基准线位于双眼撑片3的纵向中间位置且刻度线4沿着双眼撑片3的纵向朝向镜框1的上镜框11延伸分布，刻度线4的最小刻度为1mm。具体使用时，检测者位于佩戴者一定距离处并在靠近检测者的位置开启光源，佩戴者佩戴该眼镜框架后调整该眼镜框架至自己眼部附近最适宜位置，然后使得佩戴者通过观察检测者位置附近处的光源，位于光源附近的反光装置将佩戴者的单眼瞳孔反光点显示在双眼撑片的刻度线位置，检测者通过标记装置在刻度线上直接标记出佩戴者的单眼瞳高，从而提高眼镜加工的精准度以及佩戴者的眼镜配戴舒适度。具体地，刻度线4的一侧标注有数字刻度，从而便于检测者在标记单眼瞳高位置的同时就可以通过数字刻度读出佩戴者的单眼瞳高。具体地，刻度线4与数字刻度采用黑色或灰色颜料标记，从而可以进一步凸显出光源在双眼撑片上的反射位置，便于检测者识别和辨认。具体地，数字刻度的单位为cm，简洁明显，避免数字刻度设置过多在小面积区域过于集中从而对检测者观察造成困扰，同时结合刻度线的最小刻度1mm方便检测者在检测的同时直接读出数字刻度。具体地，上镜框11、下镜框12、外镜框13、以及内镜框14分别设置为圆弧状，且上镜框11的弧长和半径大于下镜框12的弧长和半径，外镜框13的弧长和半径大于内镜框14的弧长和半径。具体地，刻度线4的延伸方向与位于上镜框11的弧长中点位置的半径相重合。具体地，上镜框11与外镜框13之间、外镜框13与下镜框12之间采用圆弧过渡，方便眼镜框架的保存及便于佩戴者佩戴，上镜框11与内镜框14之间设置有镜托15以实现左、右镜框的连接以便于佩戴于佩戴者的鼻梁上，内镜框14与下镜框12之间采用钝角过渡，在保证保存及便于佩戴者佩戴的前提下，为该眼镜框架支撑于佩戴者的眼部附近位置提供支撑点。具体地，双眼撑片3采用透明反光材质，从而便于凸显出光源在双眼撑片上的反射位置。具体地，双眼撑片3采用易标记材质，从而方便检测者在佩戴者的瞳高位置做出位置标记。具体地，双眼撑片3的标记能够擦除使得双眼撑片3能够反复使用，节约成本，减少开支。除以上实施例外，本技术还可以有其他实施方式，在此不作一一赘述。但凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均属于本技术要求的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，所述眼镜框架包括镜框（1）和镜框（1）两侧的镜架（2），所述镜框（1）包括位于上方的上镜框（11）、位于下方的下镜框（12）、位于外侧的外镜框（13）、以及位于内侧的内镜框（14），所述镜框（1）内部设置有双眼撑片（3）；其特征在于：位于左、右两片所述双眼撑片（3）的横向中央位置分别设置有一组刻度线（4），所述刻度线（4）的刻度基准线位于所述双眼撑片（3）的纵向中间位置且所述刻度线（4）沿着所述双眼撑片（3）的纵向朝向所述镜框（1）的上镜框（11）延伸分布，所述刻度线（4）的最小刻度为1mm。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，所述眼镜框架包括镜框（1）和镜框（1）两侧的镜架（2），所述镜框（1）包括位于上方的上镜框（11）、位于下方的下镜框（12）、位于外侧的外镜框（13）、以及位于内侧的内镜框（14），所述镜框（1）内部设置有双眼撑片（3）；其特征在于：位于左、右两片所述双眼撑片（3）的横向中央位置分别设置有一组刻度线（4），所述刻度线（4）的刻度基准线位于所述双眼撑片（3）的纵向中间位置且所述刻度线（4）沿着所述双眼撑片（3）的纵向朝向所述镜框（1）的上镜框（11）延伸分布，所述刻度线（4）的最小刻度为1mm。2.根据权利要求1所述的一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，其特征在于：所述刻度线（4）的一侧标注有数字刻度。3.根据权利要求2所述的一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，其特征在于：所述刻度线（4）与所述数字刻度采用黑色或灰色颜料标记。4.根据权利要求2所述的一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，其特征在于：所述数字刻度的单位为cm。5.根据权利要求1所述的一种用于测量单眼瞳高的眼镜框架，其特征在于：所述上镜框（11）、下镜框（12）、外镜框（13...

【专利技术属性】
技术研发人员：张力，
申请(专利权)人：西安星火眼视光科技有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西,61