一种大斜度井测井曲线的校正方法技术

本发明专利技术公开了大斜度井测井曲线的校正方法，包括以下步骤：获取区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值；建立直井标准层的补偿中子值和密度值随深度变化的关系式；获取大斜度井标准层补偿中子的理论值以及密度的理论值；获取大斜度井标准层补偿中子以及密度的实际测量值；获取大斜度井斜井段补偿中子以及密度的校正量；对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。本发明专利技术提高了大斜度井中补偿中子曲线和密度曲线环境校正的精度，进而可以进一步指导油田的勘探开发工作。

A Correction Method for Logging Curve of High Inclination Well

【技术实现步骤摘要】
一种大斜度井测井曲线的校正方法
本专利技术涉及油气勘探开发
，尤其是涉及一种大斜度井测井曲线的校正方法。
技术介绍
随着油田勘探开发技术的发展,大斜度井在复杂油气藏的应用日益广泛。实际应用中，由于受重力或井轨迹的影响，大斜度井斜井段中的中子、密度测井仪器易发生推靠井壁不紧密的现象，造成补偿中子和密度测井曲线的录取质量不高，和直井的测井响应特征存在较大差异，进而影响了大斜度井中储层孔隙度计算和测井储层评价的精度。而如何快速、准确地进行补偿中子、密度曲线校正，一直是大斜度井常规测井曲线环境校正的难题。标准层法是目前进行补偿中子、密度等常规测井曲线校正的常用方法。该方法多用于直井常规测井曲线校正，前提是认为在工区范围内标准层的补偿中子、密度测井响应值是相同的，不会随着不同井标准层深度的差异而变化，而忽略了地层压实作用对标准层地层性质的影响，即不同深度的标准层应该具有不同的测井响应值，特别是在岩石成岩较弱的地层，如果不考虑地层深度的变化对测井响应值的影响，将极大影响测井曲线校正的精度，给储层孔隙度计算和测井储层评价带来很大困难。
技术实现思路
针对现有技术中所存在的上述技术问题，本专利技术提出了一种大斜度井测井曲线的校正方法，包括以下步骤：S1、选取区域标准层，并获取所述区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值；S2、建立直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，并建立直井标准层的密度值随深度变化的关系式；S3、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值，并获取大斜度井标准层密度的理论值；S4、获取大斜度井标准层补偿中子的实际测量值以及密度的实际测量值；S5、根据大斜度井标准层补偿中子的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段补偿中子的校正量，并根据大斜度井标准层密度的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段密度的校正量；S6、对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。优选地，步骤S1中，选取直井标准层的至少5个层段进行读值，补偿中子值和密度值选取每个层段的补偿中子值和密度值的平均值，深度值选取每个层段的中部深度值。优选地，步骤S2中，直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式为：NPHI＝A*DEPTH+B式中，NPHI为补偿中子值，DEPTH为深度值，A和B为常数。优选地，步骤S2中，直井标准层的密度值随深度变化的关系式为：RHOB＝C*DEPTH+D式中，RHOB为密度值，DEPTH为深度值，C和D为常数。优选地，步骤S3包括：S31、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度；S32、根据获取的所述垂直深度和所述直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值；S33、根据获取的所述垂直深度和所述直井标准层的密度值随深度变化的关系式，获取大斜度井标准层密度的理论值。优选地，步骤S4中大斜度井标准层补偿中子的实际测量值的采样间隔、密度的实际测量值的采样间隔与步骤S3中测量深度值的采样间隔相同。优选地，步骤S5中，大斜度井斜井段补偿中子的校正量为：ΔNPHI＝＝NPHI1-NPHI2式中，ΔNPHI为大斜度井斜井段补偿中子的校正量，NPHI1为大斜度井斜井段补偿中子的理论值，NPHI2为大斜度井斜井段补偿中子的实际测量值。优选地，步骤S5中，大斜度井斜井段密度的校正量为：ΔRHOB＝RHOB1-RHOB2式中，ΔRHOB为大斜度井斜井段密度的校正量，NPHI1为大斜度井斜井段密度的理论值，NPHI2为大斜度井斜井段密度的实际测量值。优选地，步骤S6中，将大斜度井斜井段补偿中子的实际测量值加上补偿中子的校正量ΔNPHI，以完成对大斜度井斜井段的补偿中子值的校正。优选地，步骤S6中，将大斜度井斜井段密度的实际测量值加上密度的校正量ΔRHOB，以完成对大斜度井斜井段的密度值的校正。与现有技术相比，本专利技术的优点在于，本专利技术提出的大斜度井测井曲线的校正方法，在标准层法的基础上，考虑了地层压实作用对不同深度标准层补偿中子、密度测井响应的影响，建立了补偿中子值、密度值随标准层深度变化的关系式，避免了以往标准层法忽略了压实作用对标准层性质变化影响的做法，能够准确、快速实现补偿中子和密度曲线的环境校正，提高了大斜度井中补偿中子和密度曲线环境校正的精度，进而提升了储层孔隙度计算和测井储层评价的可靠程度，从而指导油田的勘探开发工作。附图说明下面将结合附图来对本专利技术的优选实施例进行详细地描述。在图中：图1是根据本专利技术实施例的一种大斜度井测井曲线的校正方法的流程图。图2是根据本专利技术的一个实施例建立的大斜度井标准层的补偿中子值与深度变化关系图。图3是根据本专利技术的一个实施例建立的大斜度井标准层的密度值与深度变化关系图。图4是根据本专利技术的一个实施例对大斜度井补偿中子曲线和密度曲线的环境校正效果图。在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例绘制。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术做进一步说明。图1显示了根据本专利技术实施例的提出了一种大斜度井测井曲线的校正方法，包括以下步骤：S1、选取区域标准层，并获取所述区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值；S2、建立直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，并建立直井标准层的密度值随深度变化的关系式；S3、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值，并获取大斜度井标准层密度的理论值；S4、获取大斜度井标准层补偿中子的实际测量值以及密度的实际测量值；S5、根据大斜度井标准层补偿中子的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段补偿中子的校正量，并根据大斜度井标准层密度的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段密度的校正量；S6、对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。本专利技术公开的大斜度井测井曲线的校正方法，在标准层法的基础上，考虑了地层压实作用对不同深度标准层补偿中子、密度测井响应的影响，建立了补偿中子值、密度值随标准层深度变化的关系式，避免了以往标准层法忽略了压实作用对标准层性质变化影响的做法，能够准确、快速实现补偿中子和密度曲线的环境校正，提高了大斜度井中补偿中子和密度曲线环境校正的精度，进而提升了储层孔隙度计算和测井储层评价的可靠程度，从而指导油田的勘探开发工作。在一个实施例中，步骤S1中，需选取岩性纯、厚度大且分布稳定的页岩层作为区域标准层。为保证每口直井标准层读值的准确性，每口井的读值层段不少于5个。按照深度顺序，读取每个层段内补偿中子曲线和密度曲线的平均值，深度值取每个层段的中部深度值。在一个实施例中，步骤S2中，将补偿中子值与深度值做线性回归，建立直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式为：NPHI＝A*DEPTH+B式中，NPHI为补偿中子值，DEPTH为深度值，A和B为常数。在一个实施例中，步骤S2中，将密度值与深度值做线性回归，建立直井标准层的密度值随深度变化的关系式为：RHOB＝C*DEPTH+D式中，RHOB为密度值，DEPTH为深度值，C和D为常数。在一个实施例中，步骤S3包括：S31、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度；S32、根据获取的所述垂直深度和所述直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值；S本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大斜度井测井曲线的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、选取区域标准层，并获取所述区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值；S2、建立直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，并建立直井标准层的密度值随深度变化的关系式；S3、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值，并获取大斜度井标准层密度的理论值；S4、获取大斜度井标准层补偿中子的实际测量值以及密度的实际测量值；S5、根据大斜度井标准层补偿中子的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段补偿中子的校正量，并根据大斜度井标准层密度的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段密度的校正量；S6、对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。

【技术特征摘要】
1.一种大斜度井测井曲线的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、选取区域标准层，并获取所述区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值；S2、建立直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，并建立直井标准层的密度值随深度变化的关系式；S3、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值，并获取大斜度井标准层密度的理论值；S4、获取大斜度井标准层补偿中子的实际测量值以及密度的实际测量值；S5、根据大斜度井标准层补偿中子的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段补偿中子的校正量，并根据大斜度井标准层密度的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段密度的校正量；S6、对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S1中，选取直井标准层的至少5个层段进行读值，补偿中子值和密度值选取每个层段的补偿中子值和密度值的平均值，深度值选取每个层段的中部深度值。3.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S2中，直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式为：NPHI＝A*DEPTH+B式中，NPHI为补偿中子值，DEPTH为深度值，A和B为常数。4.根据权利要求3所述的校正方法，其特征在于，步骤S2中，直井标准层的密度值随深度变化的关系式为：RHOB＝C*DEPTH+D式中，RHOB为密度值，DEPTH为深度值，C和D为常数。5.根据权利要求4所述的校正方法，其特征在于，步骤S3包括：S31...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏冬冬，李冀秋，王静，夏东领，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11