一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，包括直尺、测量尺和定位结构，所述测量尺上设置有刻度线，定位结构的上表面和/或下表面为平面，所述直尺的长度方向与测量尺的长度方向垂直，测量尺的长度方向与定位结构的上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺与定位结构或直尺固定连接，测量尺与定位结构固定连接时，测量尺和定位结构能相对直尺上下移动；测量尺与直尺固定连接时，定位结构能相对测量尺上下移动。本实用新型专利技术结构简单、使用方便，能够帮助口腔正畸医生更快更方便的准确测量出Spee曲线深度，使得计算牙齿移动所需的间隙量更准确，从而为病人制定更精确的治疗方案。

A Spee Curve Depth Measurer for Tooth Gypsum Model

【技术实现步骤摘要】
一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器
本技术属于口腔正畸工具
，具体涉及一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器。
技术介绍
在口腔正畸学领域，Spee曲线通常是指下颌牙列中前牙切缘到后牙颊尖在矢状方向形成的圆弧上的一段截弧，其标志为从下颌中切牙近中切缘，下颌侧切牙切缘，下颌尖牙牙尖，下颌第一、第二前磨牙颊尖，下颌第一磨牙近中颊尖到远中颊尖的连线为一条凹向上的曲线。错牙合畸形伴深覆牙合病例常伴有Spee曲线异常。有研究者提出平直的Spee曲线，其口腔咀嚼能力强，过深的Spee曲线会造成咀嚼肌失衡，严重可导致咬合功能障碍，Spee曲线的深度大小影响着正畸治疗后复发的可能性，且临床治疗中存在一定难度。所以准确测量Spee曲线深度以及整平Spee曲线对于每位正畸医生均相当重要，临床上Spee曲线的测量值为牙齿左右两侧测量值相加除以2即取平均数。常规测量时用直尺放于牙齿石膏模型的下切牙与第二恒磨牙颊沟处，测量牙合曲线最低点至直尺的垂直距离，但牙合曲线最低点与直尺并不在同一竖直平面内，两者间相距一定水平距离，所以临床测量主要通过目测或分规平移，而分规针是尖端细末端粗，所以平移测量会存在一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，其特征在于，包括直尺(1)、测量尺(2)和定位结构(3)，所述测量尺(2)上设置有刻度线，定位结构(3)的上表面和/或下表面为平面，所述直尺(1)的长度方向与测量尺(2)的长度方向垂直，测量尺(2)的长度方向与定位结构(3)上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺(2)与定位结构(3)或直尺(1)固定连接，测量尺(2)与定位结构(3)固定连接时，测量尺(2)和定位结构(3)能相对直尺(1)上下移动；测量尺(2)与直尺(1)固定连接时，定位结构(3)能相对测量尺(2)上下移动。

【技术特征摘要】
1.一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，其特征在于，包括直尺(1)、测量尺(2)和定位结构(3)，所述测量尺(2)上设置有刻度线，定位结构(3)的上表面和/或下表面为平面，所述直尺(1)的长度方向与测量尺(2)的长度方向垂直，测量尺(2)的长度方向与定位结构(3)上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺(2)与定位结构(3)或直尺(1)固定连接，测量尺(2)与定位结构(3)固定连接时，测量尺(2)和定位结构(3)能相对直尺(1)上下移动；测量尺(2)与直尺(1)固定连接时，定位结构(3)能相对测量尺(2)上下移动。2.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述直尺(1)上设置有刻度线，且直尺(1)的最小刻度为0.5mm或1mm，所述直尺(1)的长度为6cm以上，直尺(1)上设置的零刻度线位于直尺(1)的一端，直尺(1)与测量尺(2)相连的位置位于距离直尺(1)零刻度线3～5cm的位置。3.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述直尺(1)的长度为10～20cm。4.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述测量尺(2)与定位结构(3)固定连接时，测量尺(2)上设置的零刻度线位于与定位结构(3)的上表面或下表面...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘欧胜，沈小平，
申请(专利权)人：中南大学，
类型：新型
国别省市：湖南,43