一种内存测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种内存测试装置及测试方法，包括测试控制模块和测试执行模块，所述测试控制模块包括控制芯片和第一通信芯片，所述控制芯片与所述第一通信芯片通信连接；所述测试执行模块包括第二通信芯片和多个测试执行组，多个测试执行组均与所述第二通信芯片通信连接；所述测试执行组包括能够挂载被测试内存的终端；所述第一通信芯片与所述第二通信芯片电连接。本发明专利技术能够实现对内存条进行批量自动化测试，大大提高了测试效率，且测试控制模块采用C2控制芯片，结构简单，无需专用控制服务器，节省成本。

A Memory Testing Device and Testing Method

【技术实现步骤摘要】
一种内存测试装置及测试方法
本专利技术属于存储设备测试
，具体涉及一种内存测试装置及测试方法。
技术介绍
随着数字科技的日益进步，无论是个人电脑或者是服务器都在对内存这种高数据交换的关键部件进行不断的升级和换代。正是由于内存对数据交换性能起关键性的特点，导致人们对内存质量的把控也是日益提高。由于目前对内存的测试大部分还停留的单机单根或者单机2-4条内存的低效率状态，不能满足大批量生产对合格内存快速检验的需要，由此引发内存测试对生产的延误问题。基于现有内存测试无法进行大批量测试的问题，提出一种模块化的内存测试模组架构，以解决目前存在的问题。
技术实现思路
针对现有技术的上述不足，本专利技术提供一种内存测试装置及测试方法，以解决上述技术问题。一方面，本专利技术提供一种内存测试装置，包括测试控制模块和测试执行模块，所述测试控制模块包括控制芯片和第一通信芯片，其中，所述控制芯片与所述第一通信芯片通信连接，此外测试控制模块还包括串口，且串口与控制芯片电连接。所述测试执行模块包括第二通信芯片和多个测试执行组，多个测试执行组均与所述第二通信芯片通信连接；所述测试执行组包括能够挂载被测试内存的终端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种内存测试装置，其特征在于，包括测试控制模块和测试执行模块，所述测试控制模块包括控制芯片和第一通信芯片，所述控制芯片与所述第一通信芯片通信连接；所述测试执行模块包括第二通信芯片和多个测试执行组，多个测试执行组均与所述第二通信芯片通信连接；所述测试执行组包括能够挂载被测试内存的终端；所述第一通信芯片与所述第二通信芯片电连接。

【技术特征摘要】
1.一种内存测试装置，其特征在于，包括测试控制模块和测试执行模块，所述测试控制模块包括控制芯片和第一通信芯片，所述控制芯片与所述第一通信芯片通信连接；所述测试执行模块包括第二通信芯片和多个测试执行组，多个测试执行组均与所述第二通信芯片通信连接；所述测试执行组包括能够挂载被测试内存的终端；所述第一通信芯片与所述第二通信芯片电连接。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一通信芯片与所述第二通信芯片通过同步串行总线连接。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，能够挂载被测试内存的终端包括服务器。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试控制模块包括串口，所述串口与所述控制芯片电连接。5.一种内存测试方法，其特征在于，包括：将内存测试程序烧录入控制芯片；通过I2C总线将控制芯片内的内存测试程序下发至各测试执行组；通...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢科钰，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32