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一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪制造技术

技术编号:22052130 阅读:37 留言:0更新日期:2019-09-07 14:14
本发明专利技术涉及一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪,属于光学物质测量技术领域。包括光源、第一透镜、第一DMD芯片、分光补偿模块、平面反射镜、倾角反射镜、第二透镜、光电探测器、模数转换器和控制处理器;光源发出的入射光能够依次经第一透镜透射、第一DMD芯片反射到达分光补偿模块处,该分光补偿模块用于无色散地将入射光分为两束分光,其中一束分光能够依次经平面反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处,另一部分能够依次经倾角反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处。本发明专利技术能够获得准确清晰的光谱图,提高最终光谱仪的测量精度。

A Fourier Transform Spectrometer Based on DLP Technology

【技术实现步骤摘要】
一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪
本专利技术涉及一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪,属于光学物质测量

技术介绍
傅里叶光谱仪是基于对干涉后的明暗相间的干涉图像进行傅里叶变换为光谱图的原理而开发的光谱仪,可以对样品进行定性和定量分析,广泛应用于医药化工、冶金、地矿、石油、煤炭、环保、海关、宝石鉴定、刑侦鉴定等领域。一篇名为“一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪”的中国技术专利(授权公告号为CN207881838U)公开了一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪,具体包括狭缝、准直透镜、分光镜、固定反射镜、透镜、光电探测器、A/D转换器、DMD芯片、DMD控制器和控制终端;入射光从狭缝射入,准直透镜和分光镜沿光路顺序依次设置。该现有技术使用DMD芯片代替传统光谱仪中的平面反射镜,通过控制DMD芯片单列微镜的摆动,分光镜分出的一束分光经DMD芯片的调控,只反射回一列线形光,该线形光最终与分光镜分出的另一束光在光电探测器处相遇并发生干涉,光电探测器接收该干涉信号,经模数转换和傅里叶变换处理,最终生成了用于表征物质组分的光谱图。上述现有技术至少存在三点技术缺陷,使其并不能很好地在实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪,其特征在于, 包括光源、第一透镜、第一DMD芯片、分光补偿模块、平面反射镜、倾角反射镜、第二透镜、光电探测器、模数转换器和控制处理器;光源发出的入射光能够依次经第一透镜透射、第一DMD芯片反射到达分光补偿模块处,该分光补偿模块用于无色散地将入射光分为两束分光,其中一束分光能够依次经平面反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处,另一束分光能够依次经倾角反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处;倾角反射镜的镜面方向与入射向其镜面的光路方向呈设定角度,用于使两束分光形成光程差;控制处理器通过模数转换器与光电探测器连接,用以...

【技术特征摘要】
1.一种基于DLP技术的傅里叶变换光谱仪,其特征在于,包括光源、第一透镜、第一DMD芯片、分光补偿模块、平面反射镜、倾角反射镜、第二透镜、光电探测器、模数转换器和控制处理器;光源发出的入射光能够依次经第一透镜透射、第一DMD芯片反射到达分光补偿模块处,该分光补偿模块用于无色散地将入射光分为两束分光,其中一束分光能够依次经平面反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处,另一束分光能够依次经倾角反射镜、分光补偿模块、第二透镜的反射或透射到达光电探测器处;倾角反射镜的镜面方向与入射向其镜面的光路方向呈设定角度,用于使两束分光形成光程差;控制处理器通过模数转换器与光电探测器连接,用以获取干涉图像;控制处理器还与第一DMD芯片连接,用以控制微镜阵列的摆动。2.根据权利要求1所述的傅里叶变换光谱仪,其特征在于,该分光补偿模块包括由两个相同尺寸的直角等...

【专利技术属性】
技术研发人员:苗春磊
申请(专利权)人:苗春磊
类型:发明
国别省市:河南,41

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