一种硬度测量机整体机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种硬度测量机整体机构，包括底座、支架和测量主体，所述测量主体与所述底座通过所述支架相连接，所述测量主体上安装有若干测量单元；所述测量单元由若干测量针和若干测量孔组成，所述测量针安装在所述测量孔内；所述测量孔底端与所述测量针底端均安装电磁铁，两所述电磁铁上分别按照有红外线发射器和红外线接收器，所述测量孔底端安装有硬度测量模块；所述底座上安装有固定台和处理芯片，所述固定台下端安装有升降结构。通过上述方式，本实用新型专利技术一种硬度测量机整体机构，该硬度测量机能够测量不规则面的硬度，测量效率高，操作方便。

An Integral Mechanism of Hardness Measuring Machine

【技术实现步骤摘要】
一种硬度测量机整体机构
本技术涉及测量领域，尤其是涉及一种硬度测量机整体机构。
技术介绍
众所周知，为了保证产品的质量，工厂和试验室都要对金属产品的硬度进行测试和分析，以控制产品的硬度使其适合产品的质量要求，为此NIST(NationalInstituteofStandardsandTechnology)和ASTM(AmericanSocietyforTestingandMaterials)都规定了金属材料的硬度标准、硬度的载体的传递标准以及硬度测试的试验仪器标准。现有的硬度测量机在解决工件支撑和夹持方面，一般采用水平工作台作为被测物体的支撑面，该支撑面垂直于硬度测量施力单元主轴线，但对于异形表面，如不采用特别的夹具则无法形成稳定的支撑，而采用特别的夹具固定工件在生产流水线上使用时，由于产品规格变化比较频繁，无法迅速更换或调整夹具，使这种工作台作为支撑面的技术方案在使用时存在效率低和操作不方便的问题。
技术实现思路
本技术主要解决的技术问题是提供一种硬度测量机整体机构，能够测量不规则面的硬度。为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：一种硬度测量机整体机构，包括底座、支架和测量主体，所述测量主体与所述底座通过所述支架相连接，所述测量主体上安装有若干测量单元；所述测量单元由若干测量针和若干测量孔组成，所述测量针安装在所述测量孔内，所述测量孔孔口安装有挡圈，所述测量针位于所述测量孔内端安装有凸台；所述测量孔底端与所述测量针底端均安装电磁铁，两所述电磁铁上分别按照有红外线发射器和红外线接收器，所述测量孔底端安装有硬度测量模块，所述硬度测量模块与安装在所述测量孔底端的所述电磁铁相连接；所述底座上安装有固定台和处理芯片，所述固定台下端安装有升降结构，所述处理芯片与所述升降结构、所述电磁铁、所述硬度测量模块、所述红外线接收器和所述红外线发射器通过信号相连接。在本技术一个较佳实施例中，所述测量针与所述测量孔相配合。在本技术一个较佳实施例中，所述凸台与所述挡圈相配合。在本技术一个较佳实施例中，所述红外线发射器安装在位于所述测量针底端的所述电磁铁上。在本技术一个较佳实施例中，所述红外线接收器安装在位于所述测量孔底端的所述电磁铁上。在本技术一个较佳实施例中，所述处理芯片与外部终端相连接。本技术的有益效果是：本技术一种硬度测量机整体机构，该硬度测量机能够测量不规则面的硬度，测量效率高，操作方便。附图说明图1为一种硬度测量机整体机构的结构示意图。图2为一种硬度测量机整体机构齿测量主体的结构示意图。附图中各部件的标记如下：1、底座；2、支架；3、测量主体；4、测量针；5、测量孔；6、挡圈；7、凸台；8、电磁铁；9、红外线发射器；10、红外线接收器；11、硬度测量模块；12、固定台；13、处理芯片；14、升降结构。具体实施方式下面对本技术的较佳实施例进行详细阐述，以使本技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。根据图1和图2，一种硬度测量机整体机构，包括底座1、支架2和测量主体3，所述测量主体3与所述底座1通过所述支架2相连接，所述测量主体3上安装有若干测量单元，所述测量单元的数量越多对于不规则的零件的测量越精确。所述测量单元由若干测量针4和若干测量孔5组成，所述测量针4安装在所述测量孔5内，所述测量针4与所述测量孔5相配合，使得所述测量针4在所述测量孔5内滑动更加流畅。所述测量孔5孔口安装有挡圈6，所述测量针4位于所述测量孔5内端安装有凸台7，所述凸台7与所述挡圈6相配合，使得测量前所述测量针4由于自重下垂时不会与所述测量孔5脱离。所述测量孔5底端与所述测量针4底端均安装电磁铁8，两所述电磁铁8上分别按照有红外线发射器9和红外线接收器10，所述红外线发射器9安装在位于所述测量针4底端的所述电磁铁8上，所述红外线接收器10安装在位于所述测量孔5底端的所述电磁铁8上，通过所述红外线发射器9和所述红外线接收器10测定每个所述测量单元内的两所述电磁铁8之间的距离。所述测量孔5底端安装有硬度测量模块11，所述硬度测量模块11与安装在所述测量孔5底端的所述电磁铁8相连接，所述硬度测量模块11用于接收安装在所述测量孔5底端的所述电磁铁8传来的压力信息，从而测定零件的硬度。所述底座1上安装有固定台12和处理芯片13，所述处理芯片13与外部终端相连接，所述固定台12下端安装有升降结构14，所述处理芯片13与所述升降结构14、所述电磁铁8、所述硬度测量模块11、所述红外线接收器10和所述红外线发射器9通过信号相连接。使用时将待测零件安装在所述固定台12上，所述升降结构14将所述固定台12上升，使得零件上表面与所述测量针4均接触，此时所述处理芯片13启动每个所述测量单元内的所述电磁铁8，使得所述测量针4对于零件表面产生一个压力，同时通过所述红外线接收器10和所述红外线发射器9配合，从而测定此时每个所述测量单元内的两所述电磁铁8之间的距离，此时增加所述电磁铁8的电量，当所述红外线接收器10和所述红外线发射器9测得的两所述电磁铁8之间的距离发生变化时，此时发生变化一瞬间的压力由所述硬度测量模块11接收，从而确定该区域的硬度，随着所述测量单元的数量的增加，使得对不规则表面零件的硬度的测量越精确。与现有技术相比，本技术一种硬度测量机整体机构，该硬度测量机能够测量不规则面的硬度，测量效率高，操作方便。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。以上所述仅为本技术的实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的
，均同理包括在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硬度测量机整体机构，包括底座、支架和测量主体，所述测量主体与所述底座通过所述支架相连接，其特征在于，所述测量主体上安装有若干测量单元；所述测量单元由若干测量针和若干测量孔组成，所述测量针安装在所述测量孔内，所述测量孔孔口安装有挡圈，所述测量针位于所述测量孔内端安装有凸台；所述测量孔底端与所述测量针底端均安装电磁铁，两所述电磁铁上分别按照有红外线发射器和红外线接收器，所述测量孔底端安装有硬度测量模块，所述硬度测量模块与安装在所述测量孔底端的所述电磁铁相连接；所述底座上安装有固定台和处理芯片，所述固定台下端安装有升降结构，所述处理芯片与所述升降结构、所述电磁铁、所述硬度测量模块、所述红外线接收器和所述红外线发射器通过信号相连接。

【技术特征摘要】
1.一种硬度测量机整体机构，包括底座、支架和测量主体，所述测量主体与所述底座通过所述支架相连接，其特征在于，所述测量主体上安装有若干测量单元；所述测量单元由若干测量针和若干测量孔组成，所述测量针安装在所述测量孔内，所述测量孔孔口安装有挡圈，所述测量针位于所述测量孔内端安装有凸台；所述测量孔底端与所述测量针底端均安装电磁铁，两所述电磁铁上分别按照有红外线发射器和红外线接收器，所述测量孔底端安装有硬度测量模块，所述硬度测量模块与安装在所述测量孔底端的所述电磁铁相连接；所述底座上安装有固定台和处理芯片，所述固定台下端安装有升降结构，所述处理芯片与所述升降结构、所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：邰大勇，王斌，
申请(专利权)人：为度科创检测技术苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32