光学镜片中心厚度测量仪制造技术

本发明专利技术所述的光学镜片中心厚度测量仪，包括底座，在底座上设置有工作台，在底座上还设置有立柱，在立柱上设置有测量机构，在工作台上设置有定位座，在定位座上设置有校正块。在底座上设置有容纳校正块的容纳腔，在容纳腔内设置有锥形槽，在校正块上设置有与锥形槽配合的锥形块，测量机构包括千分尺，锥形槽的轴线与千分尺测量头的轴线重合。该方案采用相对测量的方式测量光学镜片的中心厚度，即采用标准镜片校准千分尺，在实际测量时将光学镜片与标准镜片比较即可获取光学镜片的中心厚度，相对于现有技术，大大提高了光学镜片的测量效率，并提高了光学镜片的测量精度。

Optical Lens Center Thickness Measuring Instrument

【技术实现步骤摘要】
光学镜片中心厚度测量仪
本专利技术涉及光学镜片测量辅助工具，尤其涉及光学镜片中心厚度测量仪，属于光学镜片生产领域。
技术介绍
光学镜片是光学产品中用的一种镜片，主要用于改变光线的路径或使光线发生某种变化。光学镜片在生产过程中需要经过多道工序，例如粗磨、研磨等等，光学镜片在进行相关加工后需要测量其尺寸是否符合要求，其中，光学镜片的中心厚度是光学镜片测量的必要测量要素。现有技术中光学镜片在测量中心厚度时均采用手工测量的方式测量，例如采用卡尺等测量工具对光学镜片的中心厚度作绝对测量。这种测量方式，测量效率低，对于大批量生产时并不适用，另外，这种测量方式的测量精度不高，降低了光学镜片的测量精度。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供光学镜片中心厚度测量仪，以提高光学镜片中心厚度的测量精度。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案是：光学镜片中心厚度测量仪，包括底座，在所述底座上设置有立柱，在所述底座上还设置有放置光学镜片的工作台，在所述立柱上设置有测量光学镜片中心厚度的测量机构，所述测量机构包括千分尺，所述千分尺包括测量头，在所述工作台上设置有定位光学镜片的定位座，所述定位座包括校正块，在所述校正块上设置有与光学镜片配合的定位腔，所述定位座上设置有容纳所述校正块的容纳腔，所述校正块的高度大于所述容纳腔的深度，在所述容纳腔内设置有校正所述校正块的锥形槽，在所述校正块上设置有所述锥形槽配合的锥形块，所述锥形块与所述校正块为一体式结构，并且，所述锥形槽的轴线与所述测量头的轴线重合，所述工作台上设置有定位所述定位座的螺柱，所述螺柱与所述工作台为一体式结构，在所述定位座上设置有与所述螺柱配合的螺孔，所述螺孔的轴线与所述锥形孔的轴线重合，在所述螺柱上还设置有将所述定位座锁紧于所述螺柱上的锁紧螺母。本专利技术所述的光学镜片中心厚度测量仪，包括底座，在底座上设置有工作台，在底座上还设置有立柱，在立柱上设置有测量机构，在工作台上设置有定位座，在定位座上设置有校正块。在底座上设置有容纳校正块的容纳腔，在容纳腔内设置有锥形槽，在校正块上设置有与锥形槽配合的锥形块，测量机构包括千分尺，锥形槽的轴线与千分尺测量头的轴线重合。该方案采用相对测量的方式测量光学镜片的中心厚度，即采用标准镜片校准千分尺，在实际测量时将光学镜片与标准镜片比较即可获取光学镜片的中心厚度，相对于现有技术，大大提高了光学镜片的测量效率，并提高了光学镜片的测量精度。优选的，在所述定位座上设置有锁紧所述校正块的锁紧器，所述锁紧器包括滑动连接于所述定位座上的锁紧块，所述锁紧块沿所述定位座的直径方向往复运动，在所述定位座上设置有推动所述锁紧块锁紧所述校正块的螺杆，在所述定位座上设置有容纳所述锁紧块的装配槽，在所述锁紧块上设置有增大所述锁紧块与所述校正块接触面积的凹部。锁紧器主要用于锁紧校正块，以提高校正块的位置精度，进而提高光学镜片的测量精度。优选的，在所述锁紧块上还设置有导向柱，在所述定位座上设置有与所述导向柱配合的导向孔，所述导向孔与所述装配槽相通，所述导向柱延伸至所述定位座外，并且，所述导向柱位于所述定位座外的部分上设置有使锁紧块自动复位的弹性件，所述弹性件套设于所述导向柱上。导向柱的设置提高了锁紧块的位移精度，进而提高了锁紧块的锁紧精度。弹性件的设置使得锁紧块自动复位，优化了锁紧器的操作性能。优选的，所述测量机构还包括将所述千分尺定位于所述立柱上的定位架，所述定位架包括套设于所述立柱上的套筒和设置于套筒上的支撑杆，所述支撑杆与所述套筒为一体式结构，并且，所述立柱的横截面形状为多边形，所述套筒上设置有将所述套筒锁紧在所述立柱上的锁紧螺钉，所述锁紧螺钉上设置有便于旋转所述锁紧螺钉的手柄，所述手柄与所述锁紧螺钉为一体式结构。定位架的设置使得千分尺设置位置灵活，优化了光学镜片中心厚度测量仪的性能。优选的，所述定位架还包括加强杆，所述加强杆的一端焊接于所述支撑杆上，所述加强杆的另一端焊接于所述套筒上，在所述立柱上设置有刻度线，所述刻度线凹入所述立柱内，并且，在所述刻度线上涂设有油漆层。加强杆的设置使得定位架结构稳定，不容易变形，延长了定位架的使用寿命。刻度线的设置使得定位架相对于立柱的位置调节方便，优化了定位架的性能。优选的，所述立柱与所述底座为一体式结构，所述工作台与所述底座为一体式结构。本专利技术同现有技术相比具有以下优点及效果：1、定位座及千分尺的设置可以方便地对光学镜片进行相对测量，从而提高光学镜片的测量精度及测量效率。2、螺柱的设置使得定位座相对于工作台的位置可以调节，从而加宽了光学镜片中心厚度测量仪的通用范围。3、锁紧螺母的设置提高了定位座的定位精度，进而提高了光学镜片的测量精度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的结构示意图。图2为图1中A处放大图。标号说明：1、底座，2、立柱，3、工作台，4、千分尺，5、测量头，6、定位座，7、校正块，8、容纳腔，9、锥形块，10、螺柱，11、锁紧螺母，12、锁紧块，13、螺杆，14、导向柱，15、弹性件，16、定位架，17、套筒，18、支撑杆，19、加强杆。具体实施方式下面结合实施例对本专利技术做进一步的详细说明，以下实施例是对本专利技术的解释而本专利技术并不局限于以下实施例。实施例1光学镜片中心厚度测量仪，用于测量光学镜片的中心厚度，该测量适用于相对测量，即仅测量光学镜片中心厚度是否合格，并不测量光学镜片中心厚度的具体数值。如图1，光学镜片中心厚度测量仪包括底座1，在所述底座1上设置有立柱2，在所述底座1上还设置有放置光学镜片的工作台3，在所述立柱2上设置有测量光学镜片中心厚度的测量机构，所述测量机构包括千分尺4，所述千分尺4包括测量头5，在所述工作台3上设置有定位光学镜片的定位座6，所述定位座6包括校正块7，在所述校正块7上设置有与光学镜片配合的定位腔，所述定位座6上设置有容纳所述校正块7的容纳腔8，所述校正块7的高度大于所述容纳腔8的深度。具体测量时，先将标准的光学镜片放置于定位腔，使测量头5与光学镜片接触，然后校正千分尺4的零位。千分尺4校正完成后，将待测光学镜片放置于定位腔内，然后使测量头5与光学镜片接触，此时，即可根据千分尺4的示值判断光学镜片的中心厚度是否符合要求。如图1，在所述容纳腔8内设置有校正所述校正块7的锥形槽，在所述校正块7上设置有所述锥形槽配合的锥形块9，所述锥形块9与所述校正块7为一体式结构，并且，所述锥形槽的轴线与所述测量头5的轴线重合。锥形块9及锥形槽的设置主要用于定位校正块7的位置，使定位腔的轴线与测量头5的轴线重合，从而使得测量头5与光学镜片的中心位置接触，提高了光学镜片的测量精度。如图1，所述工作台3上设置有定位所述定位座6的螺柱10，所述螺柱10与所述工作台3为一体式结构，在所述定位座6上设置有与所述螺柱10配合的螺孔，所述螺孔的轴线与所述锥形孔的轴线重合，在所述螺柱10上还设置有将所述定位座6锁紧于所述螺柱10上的锁紧螺母11。旋转定位座6即可调节定位本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.光学镜片中心厚度测量仪，包括底座(1)，在所述底座(1)上设置有立柱(2)，在所述底座(1)上还设置有放置光学镜片的工作台(3)，在所述立柱(2)上设置有测量光学镜片中心厚度的测量机构，其特征在于：所述测量机构包括千分尺(4)，所述千分尺(4)包括测量头(5)，在所述工作台(3)上设置有定位光学镜片的定位座(6)，所述定位座(6)包括校正块(7)，在所述校正块(7)上设置有与光学镜片配合的定位腔，所述定位座(6)上设置有容纳所述校正块(7)的容纳腔(8)，所述校正块(7)的高度大于所述容纳腔(8)的深度，在所述容纳腔(8)内设置有校正所述校正块(7)的锥形槽，在所述校正块(7)上设置有所述锥形槽配合的锥形块(9)，所述锥形块(9)与所述校正块(7)为一体式结构，并且，所述锥形槽的轴线与所述测量头(5)的轴线重合，所述工作台(3)上设置有定位所述定位座(6)的螺柱(10)，所述螺柱(10)与所述工作台(3)为一体式结构，在所述定位座(6)上设置有与所述螺柱(10)配合的螺孔，所述螺孔的轴线与所述锥形孔的轴线重合，在所述螺柱(10)上还设置有将所述定位座(6)锁紧于所述螺柱(10)上的锁紧螺母(11)。...

【技术特征摘要】
1.光学镜片中心厚度测量仪，包括底座(1)，在所述底座(1)上设置有立柱(2)，在所述底座(1)上还设置有放置光学镜片的工作台(3)，在所述立柱(2)上设置有测量光学镜片中心厚度的测量机构，其特征在于：所述测量机构包括千分尺(4)，所述千分尺(4)包括测量头(5)，在所述工作台(3)上设置有定位光学镜片的定位座(6)，所述定位座(6)包括校正块(7)，在所述校正块(7)上设置有与光学镜片配合的定位腔，所述定位座(6)上设置有容纳所述校正块(7)的容纳腔(8)，所述校正块(7)的高度大于所述容纳腔(8)的深度，在所述容纳腔(8)内设置有校正所述校正块(7)的锥形槽，在所述校正块(7)上设置有所述锥形槽配合的锥形块(9)，所述锥形块(9)与所述校正块(7)为一体式结构，并且，所述锥形槽的轴线与所述测量头(5)的轴线重合，所述工作台(3)上设置有定位所述定位座(6)的螺柱(10)，所述螺柱(10)与所述工作台(3)为一体式结构，在所述定位座(6)上设置有与所述螺柱(10)配合的螺孔，所述螺孔的轴线与所述锥形孔的轴线重合，在所述螺柱(10)上还设置有将所述定位座(6)锁紧于所述螺柱(10)上的锁紧螺母(11)。2.根据权利要求1所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于：在所述定位座(6)上设置有锁紧所述校正块(7)的锁紧器，所述锁紧器包括滑动连接于所述定位座(6)上的锁紧块(12)，所述锁紧块(12)沿所述定位座(6)的直径方向往复运动，在所述定位座(6)上设置有推动所述锁紧块(12)锁紧所述校正块(7)的螺杆(13)，在所述定位座(6)上设置有容纳所述锁紧块(12)的装配槽，在所述锁...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈炜，朱虹，忻峰，
申请(专利权)人：德清阳瑞光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33