【技术实现步骤摘要】
应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具
本技术涉及图像传感器领域,尤其涉及一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具。
技术介绍
CMOS是ComplementaryMetalOxideSemiconductor(互补金属氧化物半导体)的缩写。它是指制造大规模集成电路芯片用的一种技术或用这种技术制造出来的芯片,是电脑主板上的一块可读写的RAM芯片。因为可读写的特性,所以在电脑主板上用来保存BIOS设置完电脑硬件参数后的数据,这个芯片仅仅是用来存放数据的。对CMOS图像传感器进行测试除了常规的电压、电流、电阻,还需要测图像,测图像的话需要根据产品的感光,暗和亮,通过算法来区别。现有的CMOS图像传感器测试机各道测试工序分离,需要多次运输CMOS图像传感器至不同的测试区域以完成不同的测试,不仅设备复杂,成本高,而且运输过程中会对CMOS图像传感器造成污染和磨损,导致CMOS图像传感器测试数据不准确。
技术实现思路
针对上述问题,本技术提供了一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具,以解决现有技术中存在的多次运输CMOS图像传感器至不同的测试区域以完成不同的测试导致运输 ...
【技术保护点】
1.一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具,包括测试底板和设置于所述测试底板上的用于放置CMOS图像传感器的凹部;其特征在于,所述测试底板上还竖直设置有用于CMOS图像传感器图像测试的测试箱;所述测试箱的开口开设于所述测试箱的底部;所述测试箱罩于所述凹部的上方;所述测试箱可以相对于所述测试底板盖合或打开。
【技术特征摘要】
1.一种应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具,包括测试底板和设置于所述测试底板上的用于放置CMOS图像传感器的凹部;其特征在于,所述测试底板上还竖直设置有用于CMOS图像传感器图像测试的测试箱;所述测试箱的开口开设于所述测试箱的底部;所述测试箱罩于所述凹部的上方;所述测试箱可以相对于所述测试底板盖合或打开。2.如权利要求1所述的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具,其特征在于,所述测试箱内至少设置有光源、用于使所述光源的光均匀扩散的均光装置和用于使均匀扩散的光照射到CMOS图像传感器上的聚焦装置;所述光源、所述均光装置和所述聚焦装置由上至下依次设置。3.如权利要求2所述的应用于CMOS图像传感器测试机的测试夹具,其特征在于,所述光源为可调节亮度的光源。4.如权利要求3所述的应用于CMOS图像传感器测试机...
【专利技术属性】
技术研发人员:王国建,佘福良,
申请(专利权)人:积高电子无锡有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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