使用光圈进行光检测的波导漫射器制造技术

本公开涉及使用光圈限制光检测器上的噪声。一个示例实施方式包括系统。该系统包括相对于场景设置的透镜。该透镜聚焦来自场景中的光。该系统还包括限定在不透明材料内的光圈。该系统还包括波导，该波导具有接收由透镜聚焦并透射通过光圈的光的第一侧。波导将接收的光导向与第一侧相对的波导的第二侧。波导具有在第一侧和第二侧之间延伸的第三侧。该系统还包括光检测器阵列，该光检测器阵列拦截并检测传播出波导的第三侧的光。

Waveguide Diffuser for Optical Detection Using Aperture

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】使用光圈进行光检测的波导漫射器相关申请的交叉引用本申请要求于2016年12月3日提交的美国专利申请第15/368,579号的优先权，其全部内容通过引用并入本文。
技术介绍
除非本文另有指示，否则本部分中描述的材料不是本申请中的权利要求的现有技术，并且不被承认为通过包含在本部分中作为现有技术。光检测器，诸如光电二极管、单光子雪崩二极管(singlephotonavalanchediode，SPAD)或其他类型的雪崩光电二极管(avalanchephotodiode，APD)，可用于检测在其表面上给予的光(例如，通过输出对应于光的强度的电信号，诸如电压或电流)。许多类型的这种器件由诸如硅的半导体材料制成。为了检测大的几何区域上的光，可以将多个光检测器布置为并联连接的阵列。这些阵列有时被称为硅光电倍增管(siliconphotomultiplier，SiPM)或多像素光子计数器(multi-pixelphotoncounter，MPPC)。一些上述布置对光的相对低强度敏感，从而提高了它们的检测质量。然而，这可能导致上述布置也不成比例地受到不利背景效果的影响(例如，来自外部源的外来光可能影响光检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种系统，包括：透镜，相对于场景设置，并被配置为用于聚焦来自场景的光；光圈，限定于不透明材料内；波导，具有接收由所述透镜聚焦并透射通过所述光圈的光的第一侧，其中，所述波导将接收的光引导向所述波导的与第一侧相对的第二侧，并且其中所述波导具有在第一侧和第二侧之间延伸的第三侧；和光检测器阵列，拦截并检测传播出所述波导的第三侧的光。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.12.03 US 15/368,5791.一种系统，包括：透镜，相对于场景设置，并被配置为用于聚焦来自场景的光；光圈，限定于不透明材料内；波导，具有接收由所述透镜聚焦并透射通过所述光圈的光的第一侧，其中，所述波导将接收的光引导向所述波导的与第一侧相对的第二侧，并且其中所述波导具有在第一侧和第二侧之间延伸的第三侧；和光检测器阵列，拦截并检测传播出所述波导的第三侧的光。2.根据权利要求1所述的系统，其中光检测器阵列包括多个单光子雪崩二极管SPAD。3.根据权利要求1所述的系统，其中所述阵列中的光检测器彼此并联连接。4.根据权利要求1所述的系统，其中光检测器阵列设置在所述波导的第三侧上。5.根据权利要求1所述的系统，进一步包括沿着所述波导的第二侧设置的镜子，其中所述镜子将传播出第二侧的光反射到所述波导中。6.根据权利要求1所述的系统，其中所述波导沿着第三侧具有多个变形，并且其中所述阵列的光检测器与所述多个变形对准，以拦截通过所述多个变形传播出第三侧的光。7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述多个变形被布置为使得邻近变形之间的距离是基于从所述邻近变形到所述波导的第一侧的给定距离。8.根据权利要求1所述的系统，进一步包括沿着所述波导的与所述第三侧相对的第四侧设置的镜子。9.根据权利要求1所述的系统，其中，第三侧的纹理具有比所述波导的第四侧的纹理更大的粗糙度，其中第四侧与第三侧相对。10.根据权利要求1所述的系统，其中，所述波导包括具有芯折射率的芯。11.根据权利要求10所述的系统，其中，所述芯具有沿着所述波导的引导方向改变的芯厚度，使得被引导光的一部分由于芯厚度的改变而传播出第三侧。12.根据权利要求10所述的系统，其中，所述波导还包括至少部分地沿着所述波导的第三侧设置的包层，其中所述包层具有小于芯折射率的包层折...

【专利技术属性】
技术研发人员：Py德罗兹，D哈奇森，
申请(专利权)人：伟摩有限责任公司，
类型：发明
国别省市：美国,US