电线余量检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电线余量检测装置，能够以高精度检测卷绕在电线放电加工装置的电线绕线筒(31)上的电线电极(2)的余量。电线余量检测装置基于电线绕线筒的转速以及电线电极的输送速度，运算电线电极的卷径，利用基于对电线电极的卷径(R)及余量(S)进行实测的结果而获得的卷径与余量的关系，将运算出的电线电极的卷径代入至构成所述关系的电线电极的卷径，而求出电线电极的余量。

【技术实现步骤摘要】
电线余量检测装置
本专利技术涉及一种在电线放电加工装置中，检测在电线绕线筒上剩余的电线电极的量的电线余量检测装置。
技术介绍
在一般的电线放电加工装置中，是设为从卷绕保持电线电极的电线绕线筒上以规定的速度陆续送出电线电极，并在加工间隙供给不用于加工的新的未使用的电线电极，为了通过适当地掌握将电线绕线筒更换成新的电线绕线筒的时期，而使得在加工的过程中不会产生电线电极切断，或不浪费地用完电线绕线筒的电线电极，需要尽可能准确地检测电线绕线筒上的电线电极的余量。例如在专利文献1中，揭示了一种装置，测量电线绕线筒的旋转数及电线移行系统的基准辊的旋转数而运算送出长度，利用电线绕线筒的旋转数及送出长度求出电线绕线筒上所剩余的电线电极的卷径，基于所求出的电线卷径，计算电线绕线筒上所剩余的电线电极的余量。并且，在专利文献2中，揭示了一种利用电线绕线筒的轴径及轴宽、张力辊的转速(移行速度)、卷轴(reel)转速及电线径来测量电线余量的装置。[现有技术文献][专利文献]专利文献1：日本专利第2736544号公报专利文献2：日本技术注册第2510109号公报
技术实现思路
[专利技术所要解决的问题]但是，在如上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电线余量检测装置，在电线放电加工装置中检测卷绕在电线绕线筒上的电线电极的余量，所述电线放电加工装置包括卷绕保持所述电线电极的所述电线绕线筒、以及从所述电线绕线筒抽出所述电线电极而向被加工物连续地输送的电线送出元件，所述电线余量检测装置包括：转速检测元件，检测所述电线绕线筒的转速；卷径运算部，基于所述转速检测元件所检测出的所述转速及所述电线送出元件的所述电线电极的输送速度，运算所述电线绕线筒中的所述电线电极的卷径；存储部，将所述卷径与所述余量的关系与所述电线绕线筒及所述卷径的相关的规格相对应地存储，所述卷径与所述余量的关系是基于对所述电线绕线筒上的所述卷径及所述余量进行实测的结果而获得；...

【技术特征摘要】
2018.01.31 JP 2018-0158841.一种电线余量检测装置，在电线放电加工装置中检测卷绕在电线绕线筒上的电线电极的余量，所述电线放电加工装置包括卷绕保持所述电线电极的所述电线绕线筒、以及从所述电线绕线筒抽出所述电线电极而向被加工物连续地输送的电线送出元件，所述电线余量检测装置包括：转速检测元件，检测所述电线绕线筒的转速；卷径运算部，基于所述转速检测元件所检测出的所述转速及所述电线送出元件的所述电线电极的输送速度，运算所述电线绕线筒中的所述电线电极的卷径；存储部，将所述卷径与所述余量的关系与所述电线绕线筒及所述卷径的相关的规格相对应地存储，所述卷径与所述余量的关系是基于对所述电线绕线筒上的所述卷径及所述余量进行实测的结果而获得；输入部，被输入用于放电加工的所述电线绕线筒及所述电线电极的所述规格；以及电线余量运算部，利用与输入至所述输入部的所述规格相对应地存储在所述存储部中的所述关系，将所述卷径运算部所运算出的所述卷径代入至构成所述关系的所述卷径而求出所述余量。2.根据权利要求1所述的电线余量检测装置，其中，还设置有检测所述电线送出元件的所述输送速度的电线速度检测元件，所述卷径运算...

【专利技术属性】
技术研发人员：坂口昌志，松浦纮平，
申请(专利权)人：株式会社沙迪克，
类型：发明
国别省市：日本,JP