【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有不同线路类型上的同步信号的雷达物位测量装置
本专利技术涉及物位测量并且涉及容器中的填充材料表面的拓扑的确定。本专利技术尤其涉及一种用于物位测量或用于确定容器中的填充材料表面的拓扑的雷达物位测量装置。
技术介绍
目前,雷达物位测量装置用于物位测量并且用于确定填充材料表面的拓扑。与许多其它领域相比,物位测量中的雷达技术的突破只有在能够通过测量装置的电子器件检测并处理极小的反射信号时才得以实现。现代的能够确定填充材料表面的精确形状的物位测量装置和拓扑测量装置的特征不仅在于通常在千兆赫范围内的(例如,在75GHz到85GHz的范围内的)高的发送频率,还在于能够可靠地处理反射信号的高达100dB的范围内的振幅差异。为了产生并处理79GHz的范围内的射频发送信号,可设置单片式微波集成电路(MMIC,monolithicmicrowaveintegratedcircuit)。该部件可以包括多个发送和接收通道(本申请也将其称为雷达通道),由此能够扫描填充材料表面。期望越精确地扫描填充材料表面,就需要越多的发送和接收通道来实现高质量的成像,这伴随着相应的高硬件费用和相应的高能量 ...
【技术保护点】
1.一种用于物位测量或者用于确定容器中的填充材料表面的拓扑的雷达物位测量装置(101),其包括:第一雷达芯片(301a)和第二雷达芯片(301b),其中,所述第一雷达芯片包括被设计成用于产生射频信号的第一同步电路(402),其中,所述第二雷达芯片包括第二同步电路(403),射频线路组件(401),其被设计成用于将所述射频信号从所述第一同步电路发送到所述第二同步电路,以便同步这两个雷达芯片,其中,用于发送所述射频信号的所述射频线路组件包括两个以上的不同线路类型(903、1001、1002),所述线路类型被布置成彼此串联。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.10.06 DE 102017217805.11.一种用于物位测量或者用于确定容器中的填充材料表面的拓扑的雷达物位测量装置(101),其包括:第一雷达芯片(301a)和第二雷达芯片(301b),其中,所述第一雷达芯片包括被设计成用于产生射频信号的第一同步电路(402),其中,所述第二雷达芯片包括第二同步电路(403),射频线路组件(401),其被设计成用于将所述射频信号从所述第一同步电路发送到所述第二同步电路,以便同步这两个雷达芯片,其中,用于发送所述射频信号的所述射频线路组件包括两个以上的不同线路类型(903、1001、1002),所述线路类型被布置成彼此串联。2.根据权利要求1所述的雷达物位测量装置(101),其中,所述射频线路组件(401)包括微带线(903)。3.根据前述任一项权利要求所述的雷达物位测量装置(101),其中,所述射频线路组件(401)包括波导、同轴导体、集成在基板中的波导、SIW(1002)和/或共面波导,所述波导尤其是矩形波导(1001)或圆形波导。4.根据前述任一项权利要求所述的雷达物位测量装置(101),其中,所述射频线路组件(401)包括用于将所述射频信号从第一线路类型耦合到波导(1001)中的波导耦合部(1101)。5.根据前述任一项权利要求所述的雷达物位测量装置(101),其中,所述射频线路组件(401)利用射频功率分配器(501)进行分流,以便同步多个雷达芯片(301b)。6.根据权利要求5所述的雷达物位测量装置(101),其中,从所述射频功率分配器(501)开始的两条线路...
【专利技术属性】
技术研发人员:斯特芬·瓦尔德,罗兰·韦勒,
申请(专利权)人:VEGA格里沙贝两合公司,
类型:发明
国别省市:德国,DE
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