一种插拔式测试板结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种插拔式测试板结构，包括测试板本体，所述测试板本体的底部固定有连接杆，所述连接杆的底部固定有卡套，所述卡套的底部固定有转轴，所述卡套的内部上方固定有挡板，所述卡套的内部中间位置处固定有固定板，所述测试板本体的底部中间位置处固定有金属板，所述金属板的底部固定有导电块，所述导电块的一端固定有导线，所述导线远离所述导电块的一端固定有电阻件；通过设有卡套、连接杆和转轴，可以使测试板本体拆卸更加方便，避免在测试板本体开孔的麻烦，本实用新型专利技术通过设有电阻件，可以在使用时能够更好的对测试板本体进行防护，增加测试板本体的使用寿命，避免给使用者带来不必要的经济损失。

A Plug-in Test Board Structure

【技术实现步骤摘要】
一种插拔式测试板结构
本技术属于测试板
，具体涉及一种插拔式测试板结构。
技术介绍
测试板是对C波段芯片器件性能评价的一种测试手段,在芯片封装完成之后，通常会对芯片进行相应的性能测试。现有的测试板在进行安装时，大多是通过在内部开槽，然后用螺栓与外壳进行固定，这样长时间使用可能会造成测试板从开槽处断裂，影响测试板的正常使用。
技术实现思路
为解决上述
技术介绍
中提出的问题。本技术提供了一种插拔式测试板结构，具有拆卸方便，防护静电的特点。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种插拔式测试板结构，包括测试板本体，所述测试板本体的底部固定有连接杆，所述连接杆的底部固定有卡套，所述卡套的底部固定有转轴，所述卡套的内部上方固定有挡板，所述卡套的内部中间位置处固定有固定板，所述测试板本体的底部中间位置处固定有金属板，所述金属板的底部固定有导电块，所述导电块的一端固定有导线，所述导线远离所述导电块的一端固定有电阻件。为了使测试板本体进行固定，作为本技术的优选技术方案，所述转轴的底部固定有外壳。为了使连接杆在卡套内连接的更加牢固，作为本技术的优选技术方案，所述连接杆外侧壁固定有卡柱。为了保证连接杆的卡柱能够嵌入到卡套内，作为本技术的优选技术方案，所述挡板的内部固定有卡槽。为了避免连接杆在卡套内脱落，作为本技术的优选技术方案，所述固定板的上方固定有压缩弹簧垫。为了保证电阻件的正常使用，作为本技术的优选技术方案，所述导线的数量为两个。与现有技术相比，本技术的有益效果是：新型的测试板本体进行安装时，先把卡柱穿过卡槽，使连接杆的底部与压缩弹簧垫接触，然后再按动并旋转卡套，配合压缩弹簧垫，使卡柱远离卡槽且固定在挡板内侧壁，当拆卸时只要转动卡套，使卡柱与卡槽即可脱离，通过上述可以使测试板本体插拔更加方便，避免了测试板本体开槽的麻烦，当有静电接触到测试板本体时，通过金属板可以把测试板本体内的静电传导至导电块，然后在导线的配合下，可以把静电在电阻件的内部进行消除，避免在使用时静电会击穿测试板本体内部的电子元件，造成器件的损毁。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：图1为本技术的结构示意图；图2为本技术的连接杆结构示意图；图3为本技术的卡套结构示意图；图4为本技术的卡套内部结构示意图；图中：1、测试板本体；2、连接杆；3、卡套；4、转轴；5、外壳；6、金属板；7、导电块；8、导线；9、电阻件；10、卡柱；11、挡板；12、卡槽；13、固定板；14、压缩弹簧垫。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例请参阅图1-4，本技术提供以下技术方案：一种插拔式测试板结构，包括测试板本体1，测试板本体1的底部粘接有连接杆2，连接杆2的底部可拆卸连接有卡套3，卡套3的底部转动连接有转轴4，卡套3的内部上方粘接有挡板11，卡套3的内部中间位置处粘接有固定板13，且连接杆2、卡套3以及转轴4的数量为四个，测试板本体1的底部中间位置处粘接有金属板6，金属板6的底部焊接有导电块7，导电块7的一端焊接有导线8，导线8远离导电块7的一端焊接有电阻件9。进一步地，转轴4的底部粘接有外壳5。进一步地，连接杆2外侧壁粘接有卡柱10，且卡柱10的数量为两个。进一步地，挡板11的内部一体成型有卡槽12，且卡槽12的数量为两个。进一步地，固定板13的上方粘接有压缩弹簧垫14。进一步地，导线8的数量为两个，且两个导线8分别焊接在电阻件9的两端。本申请需要借助的测试板本体1和电阻件9已经广泛运用日常生活中的已知技术，并不属于本申请所需要保护的内容，其中测试板本体1在申请号CN201520100193.8公开的测试板装置(公告号CN204389644U，公告日2015年06月10日)中已经公开，电阻件9在申请号CN201720072482.0公开的一种安全防静电的PLC控制主板(公告号CN206413250U，公告日2017年08月15日)中已经公开。本技术的工作原理及使用流程：本技术的测试板本体1是对C波段芯片器件性能评价的一种测试手段,在芯片封装完成之后，通常会对芯片进行相应的性能测试，测试板本体1进行安装时，先把卡柱10穿过卡槽12，使连接杆2的底部与压缩弹簧垫14接触，然后再按动并旋转卡套3，配合压缩弹簧垫14，使卡柱10远离卡槽12且固定在挡板11内侧壁，当拆卸时只要转动卡套3，使卡柱10与卡槽12即可脱离，通过上述可以使测试板本体1插拔更加方便，避免了测试板本体1开槽的麻烦，当有静电接触到测试板本体1时，通过金属板6可以把测试板本体1内的静电传导至导电块7，然后在导线的配合下，可以把静电在电阻件9的内部进行消除，避免在使用时静电会击穿测试板本体1内部的电子元件，造成器件的损毁。最后应说明的是：以上所述仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种插拔式测试板结构，包括测试板本体(1)，其特征在于：所述测试板本体(1)的底部固定有连接杆(2)，所述连接杆(2)的底部固定有卡套(3)，所述卡套(3)的底部固定有转轴(4)，所述卡套(3)的内部上方固定有挡板(11)，所述卡套(3)的内部中间位置处固定有固定板(13)，所述测试板本体(1)的底部中间位置处固定有金属板(6)，所述金属板(6)的底部固定有导电块(7)，所述导电块(7)的一端固定有导线(8)，所述导线(8)远离所述导电块(7)的一端固定有电阻件(9)。

【技术特征摘要】
1.一种插拔式测试板结构，包括测试板本体(1)，其特征在于：所述测试板本体(1)的底部固定有连接杆(2)，所述连接杆(2)的底部固定有卡套(3)，所述卡套(3)的底部固定有转轴(4)，所述卡套(3)的内部上方固定有挡板(11)，所述卡套(3)的内部中间位置处固定有固定板(13)，所述测试板本体(1)的底部中间位置处固定有金属板(6)，所述金属板(6)的底部固定有导电块(7)，所述导电块(7)的一端固定有导线(8)，所述导线(8)远离所述导电块(7)的一端固定有电阻件(9)。2.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹杰，
申请(专利权)人：北测上海电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31