一种触摸屏干扰处理方法技术

本发明专利技术提供了一种触摸屏干扰处理方法，包括：采集触摸屏样品未发生触摸时各个单元的基准值；对所述触摸屏样品进行单个触摸点测试，对测试触摸点进行类聚划分；查找发生触摸时所述测试触摸点周围发生偏移的单元，根据发生偏移单元的感应量值和所述基准值，计算测试偏移值；根据测试触摸点类聚和各个单元的测试偏移值，计算各个方向对应的调节参数；将各个方向对应的调节参数存储至成品触控装置的触控IC中；通过预先计算调节参数并存储，发生触摸时实时计算补偿值对触摸点类聚进行补偿，方法简单有效，对于多点触摸和单点触摸均适用，能够最大限度的消除或减小触摸点周围干扰带来的影响，提高坐标计算的准确性。

A Method for Handling the Interference of Touch Screen

【技术实现步骤摘要】
一种触摸屏干扰处理方法
本专利技术涉及触控
，尤其涉及一种触摸屏干扰处理方法。
技术介绍
电容触控屏广泛应用于各种人机交互系统中，为人们操作各种复杂的电子设备提供了极大的便利。电容触控屏使用排列在屏幕下方的感应电容，通过手指等物体的按压，改变感应电容值，获得的电容值数据被传输到芯片中进行处理，得到触摸点的位置，通过不间断的获得触摸点位置，实现点击、画线等操作的识别。电容触控屏使用纵向和横向排列的线路，每一个纵向和横向的交叉点为一个感应电容，所有的感应电容构成感应电容阵列，感应电容之间的距离一般不超过手指间距离的三分之一，手指触摸屏幕时，手指触摸位置中心及周边的感应电容的电容值发生变换，变化数据被传输至芯片中，通过计算不同位置的感应电容的变化值，计算触摸点坐标。触摸屏在实际使用中，会受到屏幕形变的干扰，在触摸点周围会产生一定程度的干扰，在触摸点的水平和垂直方向上，会出现感应量的正向偏移，触摸点的斜方向上，会出现感应量的负向偏移，而这些偏移量会影响触摸点坐标计算的准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对上述现有技术中的触摸点周围干扰导致的坐标计算不准确的问题，提出一种触摸屏干扰处理方法，能够有效提高坐标计算的准确性。一种触摸屏干扰处理方法，包括：采集触摸屏样品未发生触摸时各个单元的基准值；对所述触摸屏样品进行单个触摸点测试，对测试触摸点进行类聚划分；查找发生触摸时所述测试触摸点周围发生偏移的单元，根据发生偏移单元的感应量值和所述基准值，计算测试偏移值；根据测试触摸点类聚和各个单元的测试偏移值，计算各个方向对应的调节参数；将各个方向对应的调节参数存储至成品触控装置的触控IC中；所述触控IC检测成品触控装置的触摸屏上是否发生触摸；如果发生触摸，则对实时触摸点进行类聚划分；根据实时触摸点类聚和预先存储的调节参数，计算各个方向上的实时补偿值；根据所述实时补偿值对所述实时触摸点类聚进行补偿；根据补偿后的实时触摸点类聚计算实时触摸点坐标。进一步地，对测试触摸点/实时触摸点进行类聚划分，包括：检测感应量大于第一预设阈值的单元，作为类聚的中心单元；以一个中心单元作为一个类聚的中心，向周围进行查找，将所述中心单元周围感应量大于第二预设阈值且小于所述中心单元感应量的单元纳入所述类聚中；以纳入类聚中的单元作为基准单元向周围查找，将基准单元周围感应量大于第二预设阈值且小于基准单元感应量的单元纳入此类聚，直到所述类聚中的单元周围再无感应量大于第二预设阈值且小于基准单元感应量的单元。进一步地，所述测试偏移值为发生偏移单元的感应量值和所述基准值的差值。进一步地，根据测试触摸点类聚和各个单元的测试偏移值，计算各个方向对应的调节参数，包括：根据所述测试触摸点类聚的横向跨度、纵向跨度、最大感应量值、最小列号、最大列号、最小行号、最大行号、水平方向中心单元列号、垂直方向中心单元行号以及单元的测试偏移值，计算单个的单元调节参数，将同一方向上的所有的单元调节参数进行相加并计算平均值，计算获得的平均值为该方向的调节参数。进一步地，位于测试触摸点类聚上方和下方的偏移单元的单元调节参数通过以下公式进行计算：F1(i，j)＝k1×m×(a/2-|i-c|)；其中，F1(i，j)为位于测试触摸点类聚上方或者下方的偏移单元的测试偏移值，i、j为偏移单元的行号和列号，m为测试触摸点类聚中感应量最大的单元的感应量值，a为测试触摸点类聚所覆盖的行数，c为测试触摸点类聚的水平方向中心单元的列号，k1为位于测试触摸点类聚上方和下方的偏移单元的单元调节参数。进一步地，位于测试触摸点类聚左侧和右侧的偏移单元的单元调节参数通过以下公式进行计算：F2(i，j)＝k2×m×(b/2-|i-r|)其中，F2(i，j)为位于测试触摸点类聚左侧或者右侧的偏移单元的测试偏移值，i、j为偏移单元的行号和列号，m为测试触摸点类聚中感应量最大的单元的感应量值，b为测试触摸点类聚所覆盖的列数，r为测试触摸点类聚的垂直方向中心单元的行号，k2为位于测试触摸点类聚左侧和右侧的偏移单元的单元调节参数。进一步地，位于测试触摸点类聚左上方的偏移单元的单元调节参数通过以下公式进行计算：F3(i，j)＝m×(k3×(Cmin/2-|Cmin/2-i|)+k4×(Rmin/2-|Rmin/2-j|))其中，F3(i，j)为位于测试触摸点类聚左上方的偏移单元的测试偏移值，i、j为偏移单元的行号和列号，m为测试触摸点类聚中感应量最大的单元的感应量值，Cmin为测试触摸点类聚中的最小列号，Rmin为测试触摸点类聚中的最小行号，k3和k4为位于测试触摸点类聚左上方的偏移单元的单元调节参数。进一步地，位于测试触摸点类聚右上方的偏移单元的单元调节参数通过以下公式进行计算：其中，F4(i，j)为位于测试触摸点类聚右上方的偏移单元的测试偏移值，i、j为偏移单元的行号和列号，m为测试触摸点类聚中感应量最大的单元的感应量值，Cmax为测试触摸点类聚中的最大列号，Rmin为测试触摸点类聚中的最小行号，k5和k6为位于测试触摸点类聚右上方的偏移单元的单元调节参数，Column为触摸屏样品的电容的总列数。进一步地，位于测试触摸点类聚左下方的偏移单元的单元调节参数通过以下公式进行计算：F5(i，j)＝m×(k7×(Cmin/2-|Cmin/2-i|)+k8×((Row-Rmax)/2-|Rmax+(Row-Rmax)/2-j|))其中，F5(i，j)为位于测试触摸点类聚左下方的偏移单元的测试偏移值，i、j为偏移单元的行号和列号，m为测试触摸点类聚中感应量最大的单元的感应量值，Cmin为测试触摸点类聚中的最小列号，Rmax为测试触摸点类聚中的最大行号，k7和k8为位于测试触摸点类聚左下方的偏移单元的单元调节参数，Row为触摸屏样品的电容的总行数。进一步地，位于测试触摸点类聚右下方的偏移单元的单元调节参数通过以下公式进行计算：F6(i，j)＝m×(k9×((Column-Cmax)/2-|Cmax+(Column-Cmax)/2-i|)+k10×((Row-Rmax)/2-|Rmax+(Row-Rmax)/2-j|))其中，F6(i，j)为位于测试触摸点类聚右下方的偏移单元的测试偏移值，i、j为偏移单元的行号和列号，m为测试触摸点类聚中感应量最大的单元的感应量值，Cmax为测试触摸点类聚中的最大列数，Rmax为测试触摸点类聚中的最大行数，k9和k10为位于测试触摸点类聚右下方的偏移单元的单元调节参数，Column为触摸屏样品的电容的总列数，Row为触摸屏样品的电容的总行数。进一步地，根据所述实时补偿值对所述实时触摸点类聚进行补偿，包括：如果只有一个实时触摸点，则将实时触摸点类聚中的各个单元的实时感应量分别减去计算获得的各个方向上的实时补偿值。进一步地，根据所述实时补偿值对所述实时触摸点类聚进行补偿，包括：如果有多个触摸点，则分别计算多个触摸点类聚各个方向上的实时补偿值，并分别进行相加，获得各个方向的总补偿值；将各个触摸点类聚中的单元的实时感应量减去各个方向上的总补偿值。本专利技术提供的触摸屏干扰处理方法，通过预先计算调节参数并存储，发生触摸时实时计算补偿值对触摸点类聚进行补偿，方法简单有效，对于多点触摸和单点触摸均适用，能够最大本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种触摸屏干扰处理方法，其特征在于，包括：采集触摸屏样品未发生触摸时各个单元的基准值；对所述触摸屏样品进行单个触摸点测试，对测试触摸点进行类聚划分；查找发生触摸时所述测试触摸点周围发生偏移的单元，根据发生偏移单元的感应量值和所述基准值，计算测试偏移值；根据测试触摸点类聚和各个单元的测试偏移值，计算各个方向对应的调节参数；将各个方向对应的调节参数存储至成品触控装置的触控IC中；所述触控IC检测成品触控装置的触摸屏上是否发生触摸；如果发生触摸，则对实时触摸点进行类聚划分；根据实时触摸点类聚和预先存储的调节参数，计算各个方向上的实时补偿值；根据所述实时补偿值对所述实时触摸点类聚进行补偿；根据补偿后的实时触摸点类聚计算实时触摸点坐标。

【技术特征摘要】
1.一种触摸屏干扰处理方法，其特征在于，包括：采集触摸屏样品未发生触摸时各个单元的基准值；对所述触摸屏样品进行单个触摸点测试，对测试触摸点进行类聚划分；查找发生触摸时所述测试触摸点周围发生偏移的单元，根据发生偏移单元的感应量值和所述基准值，计算测试偏移值；根据测试触摸点类聚和各个单元的测试偏移值，计算各个方向对应的调节参数；将各个方向对应的调节参数存储至成品触控装置的触控IC中；所述触控IC检测成品触控装置的触摸屏上是否发生触摸；如果发生触摸，则对实时触摸点进行类聚划分；根据实时触摸点类聚和预先存储的调节参数，计算各个方向上的实时补偿值；根据所述实时补偿值对所述实时触摸点类聚进行补偿；根据补偿后的实时触摸点类聚计算实时触摸点坐标。2.根据权利要求1所述的触摸屏干扰处理方法，其特征在于，对测试触摸点/实时触摸点进行类聚划分，包括：检测感应量大于第一预设阈值的单元，作为类聚的中心单元；以一个中心单元作为一个类聚的中心，向周围进行查找，将所述中心单元周围感应量大于第二预设阈值且小于所述中心单元感应量的单元纳入所述类聚中；以纳入类聚中的单元作为基准单元向周围查找，将基准单元周围感应量大于第二预设阈值且小于基准单元感应量的单元纳入此类聚，直到所述类聚中的单元周围再无感应量大于第二预设阈值且小于基准单元感应量的单元。3.根据权利要求1所述的触摸屏干扰处理方法，其特征在于，所述测试偏移值为发生偏移单元的感应量值和所述基准值的差值。4.根据权利要求1所述的触摸屏干扰处理方法，其特征在于，根据测试触摸点类聚和各个单元的测试偏移值，计算各个方向对应的调节参数，包括：根据所述测试触摸点类聚的横向跨度、纵向跨度、最大感应量值、最小列号、最大列号、最小行号、最大行号、水平方向中心单元列号、垂直方向中心单元行号以及单元的测试偏移值，计算单个的单元调节参数，将同一方向上的所有的单元调节参数进行相加并计算平均值，计算获得的平均值为该方向的调节参数。5.根据权利要求4所述的触摸屏干扰处理方法，其特征在于，位于测试触摸点类聚上方和下方的偏移单元的单元调节参数通过以下公式进行计算：F1(i，j)＝k1×m×(a/2-|i-c|)；其中，F1(i，j)为位于测试触摸点类聚上方或者下方的偏移单元的测试偏移值，i、j为偏移单元的行号和列号，m为测试触摸点类聚中感应量最大的单元的感应量值，a为测试触摸点类聚所覆盖的行数，c为测试触摸点类聚的水平方向中心单元的列号，k1为位于测试触摸点类聚上方和下方的偏移单元的单元调节参数。6.根据权利要求4所述的触摸屏干扰处理方法，其特征在于，位于测试触摸点类聚左侧和右侧的偏移单元的单元调节参数通过以下公式进行计算：F2(i，j)＝k2×m×(b/2-|i-r|)其中，F2(i，j)为位于测试触摸点类聚左侧或者右侧的偏移单元的测试偏移值，i、j为偏移单元的行号和列号，m为测试触摸点类聚中感应量最大的单元的感应量值，b为测试触摸点类聚所覆盖的列数，r为测试触摸点类聚的垂直方向中心单元的行号，k2为位于测试触摸点类聚左侧和右侧的偏移单元的单元调节参数。7.根据权利要求4所述的触摸屏干扰处理方法，其特征在于，位于测试触摸点类聚左上方的偏移单...

【专利技术属性】
技术研发人员：田华，方山，
申请(专利权)人：深圳市德名利电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44