一种坏点检测方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例涉及图像检测技术领域，具体而言，涉及一种坏点检测方法、装置及电子设备，该方法通过将原始图像拆分为多个单通道图像并进行标记，然后合并标记后的多个单通道图像获得目标图像，并从目标图像中检测出标记为预设标识的像素作为坏点，如此，能够准确检测出原始图像中的坏点。

A Bad Point Detection Method, Device and Electronic Equipment

【技术实现步骤摘要】
一种坏点检测方法、装置及电子设备
本专利技术实施例涉及图像检测
，具体而言，涉及一种坏点检测方法、装置及电子设备。
技术介绍
在镜头模组的生产过程中，由于前段工艺的影响会导致塑胶残留在图像传感器(Sensor)的感光区进而遮蔽一部分像素。镜头模组在实际成像时，被遮蔽的像素(坏点)无法成像，现有技术难以对坏点进行准确检测。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种坏点检测方法、装置及电子设备。本专利技术实施例提供了一种坏点检测方法，包括：获取原始图像，将所述原始图像拆分为多个单通道图像；分别计算每个单通道图像中的每个像素的溶度值，根据所述溶度值对所述每个单通道图像中的每个像素进行标记；将完成标记的该多个单通道图像进行合并获得目标图像；将从所述目标图像中检测出标记为预设标识的像素作为坏点。可选地，所述方法还包括：将检测出的坏点的位置数据进行存储。可选地，计算每个单通道图像中的每个像素的溶度值的步骤，包括：获取该像素的第一灰度值；获取以该像素为中心的至少部分周边像素的第二灰度值；根据所述第一灰度值与所述第二灰度值计算得到该像素的溶度值。可选地，根据所述溶度值对所述每个单通道图像中的每个像素进行标记的步骤，包括：针对所述每个单通道图像中的每个像素，判断该像素的溶度值是否大于设定阈值，若该像素的溶度值大于所述设定阈值，采用所述预设标识对该像素进行标记。可选地，将从所述目标图像中检测出标记为预设标识的像素作为坏点的步骤，包括：按照设定顺序依次对所述目标图像中的至少部分像素进行坏点检测；其中，进行坏点检测的步骤包括：针对所述至少部分像素中的待检测像素，判断所述待检测像素的标记是否为所述预设标识，若所述待检测像素的标记为所述预设标识，判断以所述待检测像素为中心的设定范围内是否存在单通道三连续像素，若所述设定范围内存在所述单通道三连续像素，将所述设定范围内标记为所述预设标识的多个像素作为目标像素，获取每个所述目标像素的位置数据，将每个所述目标像素所对应的所述预设标识移除；针对完成所述预设标识移除的每个目标像素，在以该目标像素为中心的设定范围内继续查找是否存在标记为所述预设标识的其他目标像素，若存在，获取所述其他目标像素的位置数据，将所述其他目标数据所对应的所述预设标识移除。可选地，判断以所述待检测像素为中心的设定范围内是否存在单通道三连续像素的步骤，包括：判断以所述待检测像素为中心的设定范围内是否存在标记为所述预设标识且在同一单通道图像中相邻的至少三个像素，若存在，判定以所述待检测像素为中心的设定范围内存在单通道三连续像素。可选地，所述位置数据为坐标，将检测出的坏点的位置数据进行存储的步骤，包括：统计检测出的坏点的坐标，根据统计得到的多个坐标生成外接矩形，将所述外接矩形所包含的区域作为坏点群；针对所述坏点群的每一行中的连续坏点，获取所述连续坏点中第一个坏点的坐标以及位于所述第一个坏点之后的连续坏点的数量，根据所述第一个坏点的坐标和所述数量生成三维坐标，将所述三维坐标进行存储。本专利技术实施例还提供了一种坏点检测装置，包括：图像拆分模块，用于获取原始图像，将所述原始图像拆分为多个单通道图像；图像标记模块，用于分别计算每个单通道图像中的每个像素的溶度值，根据所述溶度值对所述每个单通道图像中的每个像素进行标记；将完成标记的该多个单通道图像进行合并获得目标图像；坏点检测模块，将从所述目标图像中检测出标记为预设标识的像素作为坏点。本专利技术实施例还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的坏点检测方法。本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序运行时控制所述可读存储介质所在电子设备执行上述的坏点检测方法。本专利技术实施例提供的一种坏点检测方法、装置及电子设备，通过将原始图像拆分为多个单通道图像并进行标记，然后合并标记后的多个单通道图像获得目标图像，并从目标图像中检测出标记为预设标识的像素作为坏点，如此，能够准确检测出原始图像中的坏点。进一步地，统计检测出的坏点的坐标，根据统计得到的多个坐标生成外接矩形，将外接矩形所包含的区域作为坏点群，针对坏点群的每一行中的连续坏点，获取该连续坏点中的第一个坏点的坐标以及位于该第一个坏点之后的连续坏点的数量，根据该第一个坏点的坐标和数量生成三维坐标并进行存储，如此，能够有效节省存储空间。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术实施例所提供的一种电子设备的方框示意图。图2为本专利技术实施例所提供的一种坏点检测方法的流程图。图3为本专利技术实施例所提供的将原始图像拆分为多个单通道图像的示意图。图4为本专利技术实施例所提供的完成标记的多个单通道图像的示意图。图5为本专利技术实施例所提供的一种目标图像的示意图。图6为本专利技术实施例所提供的一种二维坐标系建立方法的示意图。图7为本专利技术实施例所提供的完成坐标设置的目标图像的示意图。图8为本专利技术一个实施例中图2所示步骤S23包括的另一子步骤的示意图。图9为本专利技术实施例所提供的单通道三连续像素的示意图。图10为本专利技术实施例所提供的对第一标识置零的示意图。图11为本专利技术实施例所提供的单通道三连续像素的示意图。图12为本专利技术实施例所提供的对第一标识置零的另一示意图。图13为本专利技术实施例所提供的一种坏点群的示意图。图14为本专利技术实施例所提供的一种坏点检测装置的模块框图。图标：10-电子设备；11-存储器；12-处理器；13-网络模块；20-坏点检测装置；21-图像拆分模块；22-图像标记模块；23-坏点检测模块；24-坏点存储模块。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例只是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。专利技术人经调查发现，现有技术一方面难以实现对坏点(三连续坏点)的准确检测和标定，另一方面存储所标定的坏点所占用存储空间较多。以上现有技术中的方案所存在的缺陷，均是专利技术人在经过实践并仔细研究后得出的结果，因此，上述问题的发现过程以及下文中本专利技术实施例针对上述问题所提出的解决方案，都应该是专利技术人在本专利技术过程中对本专利技术做出的贡献。基于上述研究，本专利技术实施例提供了一种坏点检测方法、装置及电子设备，能够准确检测出原始图像中的坏点。图1示出了本专利技术实施例所提供的一种电子设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种坏点检测方法，其特征在于，包括：获取原始图像，将所述原始图像拆分为多个单通道图像；分别计算每个单通道图像中的每个像素的溶度值，根据所述溶度值对所述每个单通道图像中的每个像素进行标记；将完成标记的该多个单通道图像进行合并获得目标图像；将从所述目标图像中检测出的标记为预设标识的像素作为坏点。

【技术特征摘要】
1.一种坏点检测方法，其特征在于，包括：获取原始图像，将所述原始图像拆分为多个单通道图像；分别计算每个单通道图像中的每个像素的溶度值，根据所述溶度值对所述每个单通道图像中的每个像素进行标记；将完成标记的该多个单通道图像进行合并获得目标图像；将从所述目标图像中检测出的标记为预设标识的像素作为坏点。2.根据权利要求1所述的坏点检测方法，其特征在于，所述方法还包括：将检测出的坏点的位置数据进行存储。3.根据权利要求1所述的坏点检测方法，其特征在于，计算每个单通道图像中的每个像素的溶度值的步骤，包括：获取该像素的第一灰度值；获取以该像素为中心的至少部分周边像素的第二灰度值；根据所述第一灰度值与所述第二灰度值计算得到该像素的溶度值。4.根据权利要求1所述的坏点检测方法，其特征在于，根据所述溶度值对所述每个单通道图像中的每个像素进行标记的步骤，包括：针对所述每个单通道图像中的每个像素，判断该像素的溶度值是否大于设定阈值，若该像素的溶度值大于所述设定阈值，采用所述预设标识对该像素进行标记。5.根据权利要求1所述的坏点检测方法，其特征在于，将从所述目标图像中检测出的标记为预设标识的像素作为坏点的步骤，包括：按照设定顺序依次对所述目标图像中的至少部分像素进行坏点检测；其中，进行坏点检测的步骤包括：针对所述至少部分像素中的待检测像素，判断所述待检测像素的标记是否为所述预设标识，若所述待检测像素的标记为所述预设标识，判断以所述待检测像素为中心的设定范围内是否存在单通道三连续像素，若所述设定范围内存在所述单通道三连续像素，将所述设定范围内标记为所述预设标识的多个像素作为目标像素，获取每个所述目标像素的位置数据，将每个所述目标像素所对应的所述预设标识移除；针对完成所述预设标识移除的每个目标像素，在以该目标像素为中心的设定范围内继续...

【专利技术属性】
技术研发人员：周平村，
申请(专利权)人：昆山丘钛微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32