【技术实现步骤摘要】
一种用于非线性光谱原位检测的薄层电化学反应池
本申请涉及一种光谱电化学反应池,尤其涉及一种用于非线性光谱原位检测电化学体系中电极界面动力学过程的薄层电化学反应池。
技术介绍
电化学是涉及有关电荷传递或转移的化学过程。界面电荷转移的速率和机制很大程度上是由电位依赖的界面结构和性质所决定的,对于电极表面的电子结构、分子的吸附以及取向的认识对理解和控制电化学反应过程十分重要,因此,需要对电化学界面发生的动力学过程进行原位检测。现有技术中,传统的检测方法,例如,吸收光谱、红外光谱、拉曼和表面增强拉曼光谱、X-射线散射等原位检测手段,均不能区分溶液体相和电极本身的贡献,以致限制了其在固/液电化学界面的应用。原位二阶非线性光学方法,例如,二次谐波(SHG)和和频振动光谱(SFG),具有界面选择性和灵敏性。在体相中,由于具有中心对称,不会产生二阶非线性响应;在界面上,由于分子受到上下两相的作用不同,导致中心对称被打破,产生二阶非线性响应。因此,原位二阶非线性光学方法能够从原子分子水平上原位、无损检测电极界面结构以及吸附物的结构和取向分布变化。目前,已经采用二阶非线性光学方法对有 ...
【技术保护点】
1.一种用于非线性光谱原位检测的薄层电化学反应池,其特征在于,包括工作电极、对电极、参比电极、电解池、导电底座和导电柱,所述参比电极、对电极和导电柱设于电解池的前端,所述工作电极设于导电底座上且位于电解池内;所述导电柱的一端与导电底座接触,另一端伸出电解池外,作为工作电极的引线。
【技术特征摘要】
1.一种用于非线性光谱原位检测的薄层电化学反应池,其特征在于,包括工作电极、对电极、参比电极、电解池、导电底座和导电柱,所述参比电极、对电极和导电柱设于电解池的前端,所述工作电极设于导电底座上且位于电解池内;所述导电柱的一端与导电底座接触,另一端伸出电解池外,作为工作电极的引线。2.根据权利要求1所述的薄层电化学反应池,其特征在于,所述导电底座与电解池的底部螺纹连接。3.根据权利要求2所述的薄层电化学反应池,其特征在于,所述导电底座的顶部设有螺纹柱,所述电解池底部开设与螺纹柱配合的螺纹孔。4.根据权利要求3所述的薄层电化学反应池,其特征在于,所述螺纹孔的内壁设置防磨层。5.根据权利要求3所述的薄层电化学反应池,其特征在于,所述电解池底部开设通孔,所述通孔的内壁设置螺纹套,所述通孔和螺纹套构成螺纹孔。6.根据权利要求1所述的薄层电化学反应池,其特征在于,所述电解池为薄层空...
【专利技术属性】
技术研发人员:张贞,白锐朋,董斌,薛曼,郭源,
申请(专利权)人:中国科学院化学研究所,
类型:发明
国别省市:北京,11
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