【技术实现步骤摘要】
一种测量机用两用顶尖组件
本专利技术涉及轴类检测
，更具体地说，它涉及一种测量机用两用顶尖组件。
技术介绍
使用轴类专用测量设备对曲轴和凸轮轴进行测量可以有效提高测量效率和精度。在轴类专用测量设备上测量曲轴或凸轮轴时，通常采用的立式顶尖支承，如专用测量设备ADCOLE采用立式顶尖支承轴类，以消除轴类自重对测量结果的影响。目前，对于不同规格曲轴或凸轮轴，需要用相应规格的顶尖支承，如尺寸较大的曲轴或凸轮轴需要尺寸较大的顶尖支承，尺寸较小的曲轴或凸轮轴需要尺寸较小的顶尖支承，频繁更换不同规格的顶尖，一方面会导致生产效率低下，另一方面会降低设备支承精度。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是针对现有技术的上述不足，本专利技术提供一种无需拆装即可满足大、小尺寸的曲轴或凸轮轴测量的测量机用两用顶尖组件。本专利技术的技术方案是：一种测量机用两用顶尖组件，包括锥柄和位于所述锥柄上端的小顶尖，所述的小顶尖外围滑动套设有大顶尖，所述的小顶尖根部设有大顶尖支撑座，所述的大顶尖底部设有两个围绕其轴心均匀布置的支撑脚，所述的大顶尖支撑座上设有支撑脚让位槽，相应的，相邻两个所述支撑脚...
【技术保护点】
1.一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：包括锥柄(1)和位于所述锥柄(1)上端的小顶尖(2)，所述的小顶尖(2)外围滑动套设有大顶尖(3)，所述的小顶尖(2)根部设有大顶尖支撑座(4)，所述的大顶尖(3)底部设有两个围绕其轴心均匀布置的支撑脚(5)，所述的大顶尖支撑座(4)上设有支撑脚让位槽(6)，相应的，相邻两个所述支撑脚(5)之间设有支撑座让位槽(7)，所述的支撑脚(5)与大顶尖支撑座(4)之间设有限位销(8)。
【技术特征摘要】
1.一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：包括锥柄(1)和位于所述锥柄(1)上端的小顶尖(2)，所述的小顶尖(2)外围滑动套设有大顶尖(3)，所述的小顶尖(2)根部设有大顶尖支撑座(4)，所述的大顶尖(3)底部设有两个围绕其轴心均匀布置的支撑脚(5)，所述的大顶尖支撑座(4)上设有支撑脚让位槽(6)，相应的，相邻两个所述支撑脚(5)之间设有支撑座让位槽(7)，所述的支撑脚(5)与大顶尖支撑座(4)之间设有限位销(8)。2.根据权利要求1所述的一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：所述支撑脚(5)上方的大顶尖(3)两侧分别设有一条自所述大顶尖(3)外围向其轴心方向延伸的细槽(10)，两条所述的细槽(10)之间为对称布置的结构，并且，两条所述的细槽(10)分别与两个所述的支撑脚(5)位置相对应。3.根据权利要求2所述的一种测量机用两用顶尖组件，其特征在于：两条所述细槽(10)的根部分别设有径向贯穿所述大顶尖(3)的工艺孔(11)。4.根据权利要求1所述的一种测量机用两用顶尖组件，...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁振杰，
申请(专利权)人：广西玉柴机器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广西,45
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