植被冠层叶面积指数测量装置制造方法及图纸

技术编号:21539356 阅读:40 留言:0更新日期:2019-07-06 18:50
本实用新型专利技术提供了一种植被冠层叶面积指数测量装置,涉及植被冠层参数测量的技术领域。本实用新型专利技术提供的植被冠层叶面积指数测量装置包括:测量支架、第一光强度传感器和第二光强度传感器;第一光强度传感器安装于测量支架的顶部,用于采集植被冠层顶部的阳光辐射强度;第二光强度传感器设置于测量支架的底部,用于采集阳光透过植被冠层后的辐射强度。过本实用新型专利技术提供的植被冠层叶面积指数测量装置,缓解了现有技术中对植被冠层叶面积指数进行测量的过程中,所存在的测量效率较低,测量结果易受到干扰的技术问题。

Measuring Device of Vegetation Canopy Leaf Area Index

【技术实现步骤摘要】
植被冠层叶面积指数测量装置
本技术涉及植被冠层参数测量的
,尤其是涉及一种植被冠层叶面积指数测量装置。
技术介绍
树木、草地和农作物等植被冠层参数是林学和农学等领域中评价植物光合作用特征的主要参数,在科学研究和生产实践中具有重要意义。一般来说,叶空间分布、天顶角和太阳高度角是冠层分析的重要参数。叶空间分布通过计算集聚指数得到,进而可以减小从有效叶面积指数到实际叶面积指数的计算误差;天顶角指入射光线与法线的夹角,通常情况下,垂直于镜面光线的天顶角为0°;太阳高度角指太阳光线与地面水平面的夹角,正午时为90°。为了对草地植被生长状况进行定量监测和评估,需要进行测量以准确获取草地冠层叶面积指数指标。目前,测量方法一般可以分为直接测量法和间接测量法两大类。(1)直接测量法:主要有收割破坏性测量和利用扫描仪手工原位量测等方式。该方法的优点是测量结果较为准确,但缺点是测量过程费时费力,且测量过程对植被具有破坏性,难以满足大尺度、长时间序列的测量需求。(2)间接测量方法:基于光学原理,以Beer-Lambert(朗伯一比尔)定律为理论基础,定量描述入射光在植被冠层中的衰减规律,并通过获取植被本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种植被冠层叶面积指数测量装置,其特征在于,包括:测量支架、第一光强度传感器和第二光强度传感器;所述第一光强度传感器安装于所述测量支架的顶部,用于采集植被冠层顶部的阳光辐射强度;所述第二光强度传感器设置于所述测量支架的底部,用于采集阳光透过植被冠层后的辐射强度。

【技术特征摘要】
1.一种植被冠层叶面积指数测量装置,其特征在于,包括:测量支架、第一光强度传感器和第二光强度传感器;所述第一光强度传感器安装于所述测量支架的顶部,用于采集植被冠层顶部的阳光辐射强度;所述第二光强度传感器设置于所述测量支架的底部,用于采集阳光透过植被冠层后的辐射强度。2.根据权利要求1所述的植被冠层叶面积指数测量装置,其特征在于,所述测量支架包括竖向杆和水平臂,所述水平臂的一端连接于所述竖向杆;所述第一光强度传感器安装于所述水平臂的顶面。3.根据权利要求2所述的植被冠层叶面积指数测量装置,其特征在于,所述测量支架包括盘状底座,所述竖向杆的底端可拆卸地连接于所述盘状底座。4.根据权利要求3所述的植被冠层叶面积指数测量装置,其特征在于,所述竖向杆的底部外壁设置有弹性凸起;所述盘状底座设置有与所述竖向杆的底部配合的连接孔;所述竖向杆伸入所述连接孔中,所述弹性凸起与所述连接孔的侧壁抵接。5.根据权利要求4所述的植被冠层叶面积指数测量装置,其特征在于,所述连接孔的内壁设置有防脱凹槽;所述竖向杆伸入所述连接孔中时,所述弹性凸起卡接于所述防脱凹槽中。6.根据权利要求2所述的植被冠层叶面积指数测量装置,其特征在于,所述竖向杆包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:王玮胡蝶王丽娟杨扬齐月沙莎孙旭映王小平郭铌李耀辉
申请(专利权)人:中国气象局兰州干旱气象研究所
类型:新型
国别省市:甘肃,62

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