【技术实现步骤摘要】
一种光学遥感器内方位元素及畸变测试系统及方法
本专利技术涉及一种光学遥感器内方位元素及畸变测试系统及方法,属于光学遥感器测试领域。
技术介绍
为了使图像的信息准确描述空间物点的精确位置,需要对光学遥感器进行内方位元素精密标定,内方位元素的高精度测试可为实现卫星的绘图、定位精度提供保证。目前的光学遥感器内方位元素采用精密测角法进行标定,标定方法原理示意图如图3所示:N′为被测相机物镜的后节点,O为像面中心,P为像面主点位置,p为像面主点P与像面中心O间的距离,角度ΔW是主点和像面中心偏差造成的角度,f为被测相机主距,Si为测量点,Si’为该测量点的理论位置,Di为Si和Si’实际位置差值。Li为Si距像面中心O点的距离,Wi为测量点理论位置S’i对应像面中心O点的偏角。控制精密转台改变一个角度,控制地面检测设备采集相应的图像,获取多个测点角度Wi及对应像元位置Li,以所有测点畸变平方和最小为约束条件,就可根据最小二乘算法求解主距f、主点P等内方位元素。现有测绘相机均采用线阵探测器,目前,为满足我国民用领域日益增长的高空间分辨率和高时间分辨率遥感图像数据的需求,同时满足对特定目标和热点区域具备监测能力的需求,研制高分辨率大宽幅光学遥感器系统成为一种迫切需求。大宽幅光学遥感器意味着线阵焦面长,至少是原来小的CCD拼接焦面的2~3倍,而且应用于民用测绘领域的遥感器内方位元素测试精度要高(例如按照焦面线阵长度方向每隔2~3mm一个测点进行测试,并且进行多次重复测试)。对长焦距、大宽幅的光学遥感器利用传统的精密测角法设备进行高精度内方位元素测试,存在三个方面的问题:( ...
【技术保护点】
1.一种光学遥感器内方位元素及畸变测试系统,其特征在于,包括:平行光管(3)、光电自准直仪、测试平台(2)、数据处理系统(11);平行光管(3):用于产生射入待测光学遥感器(1)的平行光源;光电自准直仪:用于测试所述平行光管(3)光轴的角度偏移量;数据处理系统(11):根据待测光学遥感器(1)的视场角确定n组测试数据,n为正整数;每组测试数据包括测试旋转角和测试高度;获取每组测试数据对应的平行光管(3)分划板在待测光学遥感器(1)探测器上的成像位置;根据所述光电自准直仪测试得到的平行光管(3)光轴的角度偏移量以及所述平行光管(3)分划板在待测光学遥感器(1)探测器上的成像位置,确定待测光学遥感器(1)的内方位元素和待测光学遥感器(1)的相机畸变;所述平行光管(3)和待测光学遥感器(1)放置在所述测试平台(2)上;测试平台(2):根据所述数据处理系统(11)确定的n组测试数据改变所述平行光管(3)的位置,使所述平行光管(3)的光轴与待测光学遥感器(1)的光轴之间的夹角等于测试旋转角,同时使平行光管(3)物镜的中心到待测光学遥感器(1)光轴的垂直距离等于与所述测试旋转角对应的测试高度。
【技术特征摘要】
1.一种光学遥感器内方位元素及畸变测试系统,其特征在于,包括:平行光管(3)、光电自准直仪、测试平台(2)、数据处理系统(11);平行光管(3):用于产生射入待测光学遥感器(1)的平行光源;光电自准直仪:用于测试所述平行光管(3)光轴的角度偏移量;数据处理系统(11):根据待测光学遥感器(1)的视场角确定n组测试数据,n为正整数;每组测试数据包括测试旋转角和测试高度;获取每组测试数据对应的平行光管(3)分划板在待测光学遥感器(1)探测器上的成像位置;根据所述光电自准直仪测试得到的平行光管(3)光轴的角度偏移量以及所述平行光管(3)分划板在待测光学遥感器(1)探测器上的成像位置,确定待测光学遥感器(1)的内方位元素和待测光学遥感器(1)的相机畸变;所述平行光管(3)和待测光学遥感器(1)放置在所述测试平台(2)上;测试平台(2):根据所述数据处理系统(11)确定的n组测试数据改变所述平行光管(3)的位置,使所述平行光管(3)的光轴与待测光学遥感器(1)的光轴之间的夹角等于测试旋转角,同时使平行光管(3)物镜的中心到待测光学遥感器(1)光轴的垂直距离等于与所述测试旋转角对应的测试高度。2.根据权利要求1所述的一种光学遥感器内方位元素及畸变测试系统,其特征在于,所述数据处理系统(11)确定的每个测试高度对应个测试旋转角,n和m均为正整数,且m<n。3.一种利用如权利要求2所述的测试系统进行光学遥感器内方位元素及畸变测试的方法,其特征在于,包括步骤如下:1)根据待测光学遥感器(1)的视场角确定n组测试数据;2)根据步骤1)确定的测试数据,调整测试系统,获得每组测试数据对应的平行光管(3)分划板在待测光学遥感器(1)探测器上的成像位置xfi,yfi以及每个测试数据对应的平行光管(3)的角度偏移量;3)根据步骤2)获得的所述成像位置和所述角度偏移量,确定成像偏移因子;4)根据所述成像偏移因子,确定姿态误差;判定姿态误差是否满足姿态误差判据,若满足姿态误差判据则进入步骤5),若不满足姿态误差判据则迭代处理所述成像偏移因子,直至根据迭代处理后获得的成像偏移因子确定的姿态误差满足姿态误差判据进入步骤5);5)根据满足姿态误差判据的姿态误差和该姿态误差对应的成像偏移因子确定主距修正量;6)判定所述主距修正量是否满足主距判据,若满足主距判据则进入步骤7),若不满足主距判据则迭代所述确定的主距修正量,直至主距修正量满足主距判据,进入步骤7);7)根据步骤6)确定的主距修正量,确定待测光学遥感器(1)的内方位元素和畸变。4.根据权利要求3所述的一种光学遥感器内方位元素及畸变测试方法,其特征在于,所述步骤1)根据待测光学遥感器(1)的视场角确定n组测试数据的方法,其特征在于:所述每组测试数据包括测试旋转角ui和与所述测试旋转角对应的测试高度hk,具体为:其中,hk对应个ui,α为待测光学遥感器(1)的视场角,R∈...
【专利技术属性】
技术研发人员:王东杰,郑君,李重阳,马丽娜,焦文春,赵英龙,贾馨,岳丽清,刘君航,王静怡,
申请(专利权)人:北京空间机电研究所,
类型:发明
国别省市:北京,11
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