工件量测机台、工件的壳体段差量测方法及调校方法技术

本发明专利技术提供一种工件量测机台、工件的壳体段差量测方法及调校方法，该工件量测机台适于量测待测工件。待测工件包括组装面及外观面。工件量测机台包括承载台、高度量测装置及计算装置。承载台适于承载待测工件。高度量测装置相对该承载台可移动地配置于承载台的一侧，且适于量测组装面及外观面的高度。计算装置电性连接于高度量测装置，以计算组装面及外观面的高度差。本发明专利技术更提供工件的壳体段差量测方法及调校方法。

【技术实现步骤摘要】
工件量测机台、工件的壳体段差量测方法及调校方法
本专利技术涉及一种工件量测机台、工件的壳体段差量测方法及调校方法。
技术介绍
一般来说，物件的外壳常是由两壳体组装而成，上述两壳体以主壳体与盖体为例，主壳体可能具有外观面与组装面，外观面与组装面之间存在段差，盖体可配置在主壳体的组装面，而使得组装后的盖体与主壳体的外观面的轮廓一致。然而，主壳体的外观面与组装面在不同区域处的段差可能不同，这使得盖体在组装在主壳体上时，盖体的表面可能会高于或是低于外观面，而使整体外观不佳。
技术实现思路
本专利技术提供一种工件量测机台，其可量测待测工件在组装面与邻近外观面之间的距离，以供后续修整。本专利技术提供一种工件的壳体段差量测方法，其可量测待测工件在组装面与邻近外观面之间的段差。本专利技术提供一种工件的壳体段差调校方法，其可依据上述的工件的壳体段差量测方法调整待测工件。本专利技术的一种工件量测机台，适于量测待测工件，其中待测工件包括组装面及围绕组装面的外观面，组装面及外观面之间存在段差，工件量测机台包括承载台、高度量测装置及计算装置。承载台适于承载待测工件。高度量测装置配置相对承载台可移动地于承载台的一侧本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工件量测机台，适于量测待测工件，其中所述待测工件包括组装面及围绕所述组装面的外观面，且所述组装面及所述外观面之间存在段差，其特征在于，所述工件量测机台包括：承载台，适于承载所述待测工件；高度量测装置，相对所述承载台可移动地配置于所述承载台的一侧，且适于量测所述组装面及所述外观面的高度；以及计算装置，电性连接于所述高度量测装置，以计算所述组装面及所述外观面的高度差。

【技术特征摘要】
2017.12.20 TW 1061446971.一种工件量测机台，适于量测待测工件，其中所述待测工件包括组装面及围绕所述组装面的外观面，且所述组装面及所述外观面之间存在段差，其特征在于，所述工件量测机台包括：承载台，适于承载所述待测工件；高度量测装置，相对所述承载台可移动地配置于所述承载台的一侧，且适于量测所述组装面及所述外观面的高度；以及计算装置，电性连接于所述高度量测装置，以计算所述组装面及所述外观面的高度差。2.根据权利要求1所述的工件量测机台，其特征在于，还包括：标记装置，电性连接于所述计算装置，其中当所述组装面及所述外观面的高度差位于预设范围之外时，所述计算装置指示所述标记装置在所述组装面上留下识别标记，所述段差在0.95毫米至1.05毫米之间。3.根据权利要求1所述的工件量测机台，其特征在于，还包括：第一移动模块；以及第二移动模块，运动方向垂直于所述第一移动模块，其中所述承载台配置于所述第一移动模块上，且所述第一移动模块配置于所述第二移动模块上。4.根据权利要求3所述的工件量测机台，其特征在于，还包括：第三移动模块，移动方向垂直于所述第一移动模块及所述第二移动模块的，且所述高度量测装置配置于所述第三移动模块。5.根据权利要求1所述的工件量测机台，其特征在于，还包括：转动模块，连接于所述承载台，以使所述承载台相对于所述高度量测装置转动。6.一种工件的壳体段差量测方法，其特征在于，包括：提供待测工件，其中所述待测工件包括组装面及围绕所述组装面的外观面，所述组装面与所述外观面之间存在段差；量测所述组装面上的多个第一量测...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁永杰，陈纪钢，
申请(专利权)人：由田新技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71