【技术实现步骤摘要】
差动保护测试方法、设备以及包括这种设备的电气单元
本专利技术涉及一种用于测试具有第一差动保护链、第二差动保护链以及处理单元的差动保护的方法。本专利技术还涉及一种差动保护设备，包括：-第一差动保护链，-第二差动保护链，-用于测试所述差动保护链的测试设备，以及-连接到第二差动保护链的处理单元。本专利技术还涉及一种电气保护单元，其包括主触点、用于打开所述主触点的机制、与所述主触点串联连接的主导体以及具有至少两个差动保护链的差动保护设备。
技术介绍
已知使用信号注入来测试差动保护设备。这些测试的目的是检查测量和跳闸链的操作。大多数测试包括生成差动故障信号并注意电气单元的打开的跳闸。已知的测试设备不足以测试具有多个差动保护链的复杂差动保护设备。这些复杂的设备常常包括具有其自身电流的不需要外部电源的第一保护链，以及由需要电源的电子电路形成的第二更全面的链。一般而言，第一链检测AC或脉动电流故障，并且第二链使得有可能检测DC、AC或脉动电流故障。常规的测试电路在测量环中注入或引导(channel)差动故障电流或信号。然后，处理链检测故障并导致电气单元(诸如开关或断路器)的打开的...
【技术保护点】
1.一种用于测试具有第一差动保护链(7)、第二差动保护链(8)以及处理单元(22)的差动保护的方法，其特征在于包括：‑对小于所述第一差动保护链和所述第二差动保护链(7，8)的无跳闸时间(TND)的预定持续时间(T1)控制用于测试所述差动保护的信号的流动或注入的步骤(53，63)，‑在测试信号的流动之后确定所述第一差动保护链和所述第二差动保护链的状态、监视所述保护链的演变的一致性以及确定所述测试的状态的步骤(54，55，64，65)，以及‑如果所述测试令人满意，那么跳闸或发信号通知的步骤(57，59，65，67)。
【技术特征摘要】
2017.12.19 FR 17624291.一种用于测试具有第一差动保护链(7)、第二差动保护链(8)以及处理单元(22)的差动保护的方法，其特征在于包括：-对小于所述第一差动保护链和所述第二差动保护链(7，8)的无跳闸时间(TND)的预定持续时间(T1)控制用于测试所述差动保护的信号的流动或注入的步骤(53，63)，-在测试信号的流动之后确定所述第一差动保护链和所述第二差动保护链的状态、监视所述保护链的演变的一致性以及确定所述测试的状态的步骤(54，55，64，65)，以及-如果所述测试令人满意，那么跳闸或发信号通知的步骤(57，59，65，67)。2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于包括，在测试阶段期间：-在所述测试信号的流动之前确定所述第一差动保护链和所述第二差动保护链的状态的步骤(61)，以及-基于所述差动保护链的状态的确定的结果来计算测试电流的注入持续时间的步骤(62)。3.如权利要求1和2中任一项所述的测试方法，其特征在于：-需要电源的所述第二差动保护链与所述处理单元相关联，以及-包括，在所述测试阶段期间，在引导或注入所述测试信号的命令之前防止或选择所述第二差动保护链的长跳闸的步骤(52)。4.如权利要求1至3中任一项所述的测试方法，其特征在于，在确定所述第一差动处理链的状态的步骤中，所述方法监视不需要电源的所述第一差动保护链(7)的定时或滤波部件(32)。5.如权利要求1至4中任一项所述的测试方法，其特征在于包括检测用于控制所述测试的单元上的动作以便手动启动测试循环的步骤(51，60)和/或用于周期性地自动启动所述测试循环的步骤。6.如权利要求1至5中任一项所述的测试方法，其特征在于包括如果所述测试的状态不合规，那么重新初始化所述处理单元的数字部分的步骤(59)。7.一种差动保护设备(6)，包括：-第一差动保护链(7)，-第二差动保护链(8)，-测试设备(2)，用于测试所述差动保护链，以及-处理单元(22)，连接到所述第二差动保护链(8)的模块，以便接收代表所述第二链的处理的信号(S2)，其特征在于所述处理单元(22)：-还连接到所述第一差动保护链(7)，以便接收代表所述差动保护的信号(S1)并且以便确定所述第一链的保护的状态，-包括对小于所述第一差动保护链和所述第二差动保护链(7，8)的无跳闸时间(TND)的预定持续时间(T1)控制测试电流或信号...
【专利技术属性】
技术研发人员：JB伯纳德，F文森特，S田，J默尼耶卡鲁斯，
申请(专利权)人：施耐德电器工业公司，
类型：发明
国别省市：法国,FR
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