【技术实现步骤摘要】
一种负反馈高精度模拟信号发生器
本专利技术涉及半导体芯片测试
,尤其涉及一种负反馈高精度模拟信号发生器。
技术介绍
在芯片量产测试领域主要采用国外的一些自动化测试设备(ATE)。全球最大的ATE供应商一共有两家。模拟信号发生器是SOC芯片测试中非常重要的组成部分。精确的测定芯片模拟性能参数事关芯片的最终质量。在最新的芯片测试需求中,对于模拟信号的幅度提出了很高的要求,有些芯片-例如无线充电芯片,要求设备提供的模拟信号幅度精度非常高,要求幅度精度在+/-0.5mV以下。全球最大的ATE供应商中,这两家ATE设备各自都有自己的模拟信号发生。以爱德万为例,其精度只能达到+/-15mV至+/-35mV,其无法提供非常精准的模拟信号。现有测试系统电路结构如图1所示,其是一个开环的系统,无论外部条件,例如供电,温度,外来辐射信号的变化,或者系统本身噪声的影响,都会导致输出信号幅度的变化,从而系统无法保证非常精确的信号幅度。因此需要一个带负反馈的系统来实时监控系统的输出信号幅度,一旦偏离要求值,就会自动调整系统环路增益,从而可以保证系统的稳定。
技术实现思路
本专利技术针对上述现有技术的不足,提供了一种负反馈高精度模拟信号发生器,其采用带有负反馈的系统来实时监控系统的输出信号幅度,一旦偏离要求值,就会自动调整系统环路增益,从而保证了系统的稳定性。。为解决现有技术中存在的问题,采用的具体技术方案是:一种负反馈高精度模拟信号发生器,其包括信号发生电路、增益控制电路、滤波器电路、微处理器,其特征在于,其还包括峰值检测电路,所述峰值检测电路用于采集并反馈其所检测到的信号幅度, ...
【技术保护点】
1.一种负反馈高精度模拟信号发生器,其包括信号发生电路、增益控制电路、滤波器电路、微处理器,其特征在于,其还包括峰值检测电路,所述峰值检测电路用于采集并反馈其所检测到的信号幅度,所述微处理器内设有内存查找表,所述微处理器读取所述峰值检测电路发出的峰值信号,并在内存查找表中找到该峰值所对应的信号幅度,根据信号幅度的大小进行比较,根据比较结果,控制所述增益控制电路做出调整,使信号回到期望电平。
【技术特征摘要】
1.一种负反馈高精度模拟信号发生器,其包括信号发生电路、增益控制电路、滤波器电路、微处理器,其特征在于,其还包括峰值检测电路,所述峰值检测电路用于采集并反馈其所检测到的信号幅度,所述微处理器内设有内存查找表,所述微处理器读取所述峰值检测电路发出的峰值信号,并在内存查找表中找到该峰值所对应的信号幅度,根据信号幅度的大小进行比较,根据比较结果,控制所述增益控制电路做出调整,使信号回到期望电平。2.根据权利要求1所述的一种负反馈高精度模拟信号发生器,其特征在于,所述峰值检测电路用于实时监测信号源的输出信号的幅度。3.根据权利要求1所述的一种负反馈高精度模拟信号发生器,其特征在于,所述内存查找表...
【专利技术属性】
技术研发人员:苏佳宁,张先燃,
申请(专利权)人:上海曼琳电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海,31
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