一种半导体制冷片的制冷量测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：包括箱体和测试机构，箱体的两侧对称设有两个测试机构，箱体内设有两个侧板和中间腔，侧板和中间腔之间通过螺栓固定，中间腔内部设有筒型通道，筒型通道内设有制冷剂，测试机构上设有热电阻装置和温度检测探头。本发明专利技术所述的半导体制冷片的制冷量测试装置具有以下优势：本发明专利技术根据需要进行调整，使用方便，结构更加牢固，结构简单，便于拆装，使用寿命更长。

A Refrigeration Measurement Device for Semiconductor Refrigerator

The invention provides a refrigeration measurement device for semiconductor refrigeration chips, which is characterized by: a box body and a test mechanism are included; two test mechanisms are symmetrically arranged on both sides of the box body; two side plates and a middle chamber are arranged in the box body; the side plates and the middle chambers are fixed by bolts; a tube channel is arranged in the middle chamber; a refrigerant is arranged in the tube channel; and a thermoelectric power is arranged in the test mechanism. Resistance device and temperature detection probe. The refrigeration measurement device of the semiconductor refrigerating sheet has the following advantages: the invention adjusts according to needs, is convenient to use, has a stronger structure, simple structure, is easy to disassemble and assemble, and has a longer service life.

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片的制冷量测试装置
本专利技术属于制冷设备领域，尤其是涉及一种半导体制冷片的制冷量测试装置。
技术介绍
现代制冷技术作为一门科学，是十九世纪中期和后期发展起来的，在此之前，追溯到人类的祖先，人们很早就懂得冷的利用和简单的人工制冷了：用地窖作冷贮室，用泉水冷却贮藏室已有5000年之久的历史。二十世纪后，制冷技术有了更大的发展：1910年家用冰箱问世，1917年在美国开始作为商品投放市场。1930年，氟利昂制冷工质的出现和氟利昂制冷机的使用给制冷技术带来新的变革。二十世纪七十年代，人们对混合工质进行了大量的研究，并开始使用共沸混合工质，为蒸汽压缩式制冷机的发展开辟了新的道路。制冷技术发展到今天，已经从保存食品和调节一定空间的温度，扩展、渗透到国民经济的各个部门，并与人们的日常生活有了更加紧密的联系。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术旨在提出一种半导体制冷片的制冷量测试装置，能解决上述技术问题。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：一种半导体制冷片的制冷量测试装置，包括箱体和测试机构，箱体的两侧对称设有两个测试机构，箱体内设有两个侧板和中间腔，侧板和中间腔之间通过螺栓固定，中间腔内部设有筒型通道，筒型通道内设有制冷剂，测试机构上设有热电阻装置和温度检测探头。进一步，箱体外壁对称设有两个保温层板。进一步，筒型通道内设有活塞杆。进一步，温度检测探头外设有电热丝。进一步，筒型通道上下两侧设有轴承。进一步，中间腔下端设有底座。相对于现有技术，本专利技术所述的半导体制冷片的制冷量测试装置具有以下优势：本专利技术根据需要进行调整，使用方便，结构更加牢固，结构简单，便于拆装，使用寿命更长。附图说明构成本专利技术的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术的结构示意图；具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。如图1所示，一种半导体制冷片的制冷量测试装置，包括箱体和测试机构，箱体的两侧对称设有两个测试机构，箱体3内设有两个侧板和中间腔，侧板和中间腔之间通过螺栓固定，中间腔1内部设有筒型通道，筒型通道内设有制冷剂，测试机构上设有热电阻装置和温度检测探头2。进一步，箱体外壁对称设有两个保温层板。进一步，筒型通道内设有活塞杆。进一步，温度检测探头外设有电热丝。进一步，筒型通道上下两侧设有轴承。进一步，中间腔下端设有底座4。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：包括箱体和测试机构，箱体的两侧对称设有两个测试机构，箱体内设有两个侧板和中间腔，侧板和中间腔之间通过螺栓固定，中间腔内部设有筒型通道，筒型通道内设有制冷剂，测试机构上设有热电阻装置和温度检测探头。

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：包括箱体和测试机构，箱体的两侧对称设有两个测试机构，箱体内设有两个侧板和中间腔，侧板和中间腔之间通过螺栓固定，中间腔内部设有筒型通道，筒型通道内设有制冷剂，测试机构上设有热电阻装置和温度检测探头。2.根据权利要求1所述的半导体制冷片的制冷量测试装置，其特征在于：箱体外壁对称设有两个保温层板。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄莉萍，
申请(专利权)人：绍兴中普防雷科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33