一种光纤几何参数测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供的一种光纤几何参数测试装置，包括：单波长光源；照明系统；第一三维精密位移台，所述第一三维精密位移台位于所述照明系统之后；第二三维精密位移台，所述第二三维精密位移台与所述第一三维精密位移台为间隔预设距离排布，固定所述待测光纤的第二端；物镜，所述物镜接收从所述待测光纤中射出的单波长光斑并对其进行放大；光电成像系统，所述光电成像系统对所述单波长光斑进行成像。解决了现有技术中光纤几何尺寸测量只能检测常规包层通信用光纤，在特种光纤领域几何参数测量中不能满足光路结构要求的技术问题。达到了给各种不同尺寸结构的特种光纤成像，满足大芯径光纤几何参数测量所需技术条件的技术效果。

A Measuring Device for Optical Fiber Geometric Parameters

The embodiment of the present invention provides an optical fiber geometric parameter testing device, which includes: a single wavelength light source; an illumination system; a first three-dimensional precision displacement table, the first three-dimensional precision displacement table located behind the illumination system; a second three-dimensional precision displacement table, the second three-dimensional precision displacement table and the first three-dimensional precision displacement table are arranged at preset distances at intervals to fix the pending position. The second end of the measuring optical fiber; the objective, which receives and amplifies a single-wavelength spot emitted from the optical fiber to be measured; and the photoelectric imaging system, which imaging the single-wavelength spot. It solves the technical problem that optical fiber geometry measurement can only detect optical fibers for conventional cladding communications in the existing technology, and can not meet the requirements of optical path structure in the measurement of geometric parameters in the special optical fiber field. It has achieved the technical effect of imaging various special optical fibers with different sizes and satisfying the technical requirements for measuring the geometric parameters of large core diameter optical fibers.

【技术实现步骤摘要】
一种光纤几何参数测试装置
本专利技术涉及光纤测量
，尤其涉及一种光纤几何参数测试装置。
技术介绍
近十年来国内外对于特种光纤的需求与日俱增，特别是随着大芯径光纤在高功率光纤激光器中的大量使用，但大芯径光纤的几何尺寸参数测量一直没有得到很好的解决，各种不同结构的大芯径光纤的几何测量成为难题。目前市场化的测试设备有且仅有美国PHOTONKINETICS生产制造，此生产商设备的几何参数测试光路严格保密，且仅能测量圆形包层直径为130um以下的光纤。申请专利技术人在实现本申请实施例中技术方案的过程中，发现上述现有技术至少存在如下技术问题：现有技术中的光纤几何尺寸测量只能检测常规包层通信用光纤，在特种光纤领域尤其是大芯径光纤几何参数测量中不能满足光路结构要求。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种光纤几何参数测试装置，解决了现有技术中光纤几何尺寸测量只能检测常规包层通信用光纤，在特种光纤领域尤其是大芯径光纤几何参数测量中不能满足光路结构要求的技术问题。鉴于上述问题，本专利技术实施例提供了一种光纤几何参数测试装置，所述装置包括：单波长光源，所述单波长光源发射出平行单波长光束；照明系统，所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光纤几何参数测试装置，其特征在于，所述装置包括：单波长光源，所述单波长光源发射出平行单波长光束；照明模块，所述照明系统设置在所述单波长光源发射光束方向位置；第一三维精密位移台，，用于固定待测光纤的第一端，所述平行单波长光束入射至所述待测光纤的第一端；第二三维精密位移台，所述第二三维精密位移台与所述第一三维精密位移台位于同一平面上，且与所述第一三维精密位移台间隔预设距离排布，用于固定所述待测光纤的第二端，并使得所述待测光纤处于弯曲状态；物镜，所述物镜用于接收从所述待测光纤的第二端射出的单波长光束并对所述单波长光束对应的光斑进行放大；光电成像模块，所述光电成像系统与所述物镜耦合，用于对所述...

【技术特征摘要】
1.一种光纤几何参数测试装置，其特征在于，所述装置包括：单波长光源，所述单波长光源发射出平行单波长光束；照明模块，所述照明系统设置在所述单波长光源发射光束方向位置；第一三维精密位移台，，用于固定待测光纤的第一端，所述平行单波长光束入射至所述待测光纤的第一端；第二三维精密位移台，所述第二三维精密位移台与所述第一三维精密位移台位于同一平面上，且与所述第一三维精密位移台间隔预设距离排布，用于固定所述待测光纤的第二端，并使得所述待测光纤处于弯曲状态；物镜，所述物镜用于接收从所述待测光纤的第二端射出的单波长光束并对所述单波长光束对应的光斑进行放大；光电成像模块，所述光电成像系统与所述物镜耦合，用于对所述物镜出射的放大后的单波长光束进行成像，并基于成像得到的图像信息得到所述待测光纤的几何参数。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述照明系统包括：环状照明光源，所述环状照明光源设置在所述单波长光源发射光斑方向位置，且所述环状照明光源的几何中心与所述待测光纤的端面中心相重合；照明控制电路，所述照明控制电路与所述环状照明光源电连接，根据所述待测光纤芯层与包层的对比度，进行明暗场切换。3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：光...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴杰，颜信，刘锐，
申请(专利权)人：武汉睿芯特种光纤有限责任公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42