测试走线结构、测试装置及测试系统制造方法及图纸

本申请涉及一种测试走线结构、测试装置及测试系统，测试走线结构包括依次级联的信号走线，每一信号走线均包括位于信号走线两端的第一接口和第二接口，以及设置于信号走线上的级联接口，依次级联的信号走线中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且第一级信号走线的级联接口用于连接测试垫，最后一级信号走线的第一接口和第二接口分别用于连接对应的显示面板。通过上述测试走线结构、测试装置及测试系统，只需采用一个测试垫就能够完成多个显示面板的点灯测试，在测试过程中不需要重复进行测试垫的扎针动作，从而有效地提高了点灯测试的效率。

Testing Routing Structure, Testing Device and Testing System

This application relates to a test routing structure, a test device and a test system. The test routing structure includes a sequentially cascaded signal routing. Each signal routing includes a first interface and a second interface at both ends of the signal routing and a cascaded interface arranged on the signal routing. The first interface and a second interface of the upper signal routing in the sequentially cascaded signal routing are respectively connected with the second interface of the upper signal routing. The cascade interface of the corresponding signal route in the next signal route is connected, and the cascade interface of the first signal route is used to connect the test pad, and the first interface and the second interface of the last signal route are used to connect the corresponding display panel, respectively. Through the above test wiring structure, test device and test system, only one test pad can be used to complete the lighting test of multiple display panels. In the test process, needling action of test pad does not need to be repeated, thus effectively improving the efficiency of lighting test.

【技术实现步骤摘要】
测试走线结构、测试装置及测试系统
本申请涉及显示
，特别是涉及一种测试走线结构、测试装置及测试系统。
技术介绍
随着液晶显示技术的飞速发展，人们对液晶显示面板的画面质量要求也越来越高。为了保证液晶显示面板的显示质量，往往需要对生产完成的液晶显示面板的画面进行点灯测试(PowerUpTest)，即将带有探针的压头压合到液晶显示面板上，使得探针与液晶显示面板的信号输入点接触，进而输入相应的测试信号点亮液晶显示面板进行测试，判断液晶显示面板是否显示正常。传统的点灯测试方法每对一个液晶显示面板进行测试时，都需要对测试垫(Pad)进行一次扎针处理，这个过程会花费较多的时间，当同时对大量液晶显示面板进行测试时，测试时间过长。因此，传统的点灯测试方法具有测试效率低的缺点。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统的点灯测试方法测试效率低的问题，提供一种测试走线结构、测试装置及测试系统。一种测试走线结构，包括：信号走线，所述信号走线依次级联；每一所述信号走线均包括第一接口、第二接口和级联接口，所述第一接口与所述第二接口分别位于所述信号走线的两端，所述级联接口设置于所述信号走线，且位于所述第一接口与所述第二本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试走线结构，其特征在于，包括：信号走线，所述信号走线依次级联；每一所述信号走线均包括第一接口、第二接口和级联接口，所述第一接口与所述第二接口分别位于所述信号走线的两端，所述级联接口设置于所述信号走线，且位于所述第一接口与所述第二接口之间；所述依次级联的信号走线中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且第一级信号走线的级联接口用于连接测试垫，最后一级信号走线的第一接口和第二接口分别用于连接对应的显示面板。

【技术特征摘要】
1.一种测试走线结构，其特征在于，包括：信号走线，所述信号走线依次级联；每一所述信号走线均包括第一接口、第二接口和级联接口，所述第一接口与所述第二接口分别位于所述信号走线的两端，所述级联接口设置于所述信号走线，且位于所述第一接口与所述第二接口之间；所述依次级联的信号走线中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且第一级信号走线的级联接口用于连接测试垫，最后一级信号走线的第一接口和第二接口分别用于连接对应的显示面板。2.根据权利要求1所述的测试走线结构，其特征在于，所述信号走线的级数为两级，所述最后一级信号走线包括第一末级信号走线和第二末级信号走线，所述第一末级信号走线的第一接口、所述第一末级信号走线的第二接口、所述第二末级信号走线的第一接口和所述第二末级信号走线的第二接口分别用于连接对应的显示面板，所述第一级信号走线的第一接口连接所述第一末级信号走线的级联接口，所述第一级信号走线的第二接口连接所述第二末级信号走线的级联接口。3.根据权利要求1所述的测试走线结构，其特征在于，所述级联接口均位于所述信号走线的二...

【专利技术属性】
技术研发人员：李泽尧，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44