用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装，包括：用于定位待测零件的基座、部分伸入槽内接触槽壁的活动测头、用于带动活动测头沿第一直线转动并沿第一直线滑动的活动轴、用于限制活动测头转动范围的限位件、千分表、带动活动轴运动的操作件和对活动轴施加使活动轴向靠近千分表方向运动的作用力的压缩弹簧；基座形成有安装孔；千分表包括：测量杆和表体；测量杆相对于表体滑动；表体固定至基座；基座定义有一中心轴线；活动测头的第一直线平行于基座的中心轴线并偏离中心轴线形成偏心结构。用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装能够精确测量零件下槽位且操作简单。

Inspection Tool for Measuring the Lower Slot Position of Parts with Internal Holes

The utility model discloses a detection tool for measuring the lower groove position of a part with an inner hole, which comprises a base for locating the part to be tested, a movable probe partially extending into the contact groove wall in the groove, a movable axis for driving the movable probe to rotate along the first straight line and slide along the first straight line, a limited part for limiting the rotating range of the movable probe, a micrometer and a movable axis. A moving manipulator and a compression spring exerting force on the movable axis to move the movable axis close to the micrometer direction; a mounting hole is formed on the base; the micrometer includes: a measuring rod and a surface; a measuring rod slides relative to the surface; a surface is fixed to the base; a central axis is defined on the base; and the first line of the movable probe is parallel to the central axis of the base and deviates from the central axis. Eccentric structure. The detection tooling for measuring the lower groove position of parts with inner holes can accurately measure the lower groove position of parts and is simple to operate.

【技术实现步骤摘要】
用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装
本技术涉及一种用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装。
技术介绍
对于带有内孔的零件有时需要对孔壁的槽位进行测量。传统的测量工具例如高度尺、卡尺等均难以对该尺寸进行直接测量。在测量时，可能需要分别测出内槽相对于过渡面的距离和过渡面到基准面的距离。然后将两次测量结构进行计算从而间接获得槽位相对于基准面的位置，测量过程复杂，精度较低。
技术实现思路
为解决现有技术的不足，本技术提供了一种能够精确测量零件下槽位且操作简单的用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装。为了实现上述目标，本技术采用如下的技术方案：一种用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装，包括：设有用于与零件接触定位零件位置的定位面的基座、部分伸入槽内接触槽壁的活动测头、用于带动活动测头沿第一直线转动并沿第一直线滑动的活动轴、用于限制活动测头转动范围的限位件、千分表、带动活动轴运动的操作件和对活动轴施加使活动轴向靠近千分表方向运动的作用力的压缩弹簧；基座形成有安装孔；活动轴和弹簧位于安装孔内；操作件穿过活动轴并固定至活动轴；操作件贯穿基座；活动测头沿垂直于活动轴的轴线方向延伸；活动测头固定至本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装，其特征在于，包括：设有用于与零件接触定位零件位置的定位面的基座、部分伸入槽内接触槽壁的活动测头、用于带动所述活动测头沿第一直线转动并沿所述第一直线滑动的活动轴、用于限制所述活动测头转动范围的限位件、千分表、带动所述活动轴运动的操作件和对所述活动轴施加使所述活动轴向靠近所述千分表方向运动的作用力的压缩弹簧；所述基座形成有安装孔；所述活动轴和所述弹簧位于所述安装孔内；所述操作件穿过所述活动轴并固定至所述活动轴；所述操作件贯穿所述基座；所述活动测头沿垂直于所述活动轴的轴线方向延伸；所述活动测头固定至所述活动轴；所述千分表包括：测量杆和表体；所述测量杆...

【技术特征摘要】
1.一种用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装，其特征在于，包括：设有用于与零件接触定位零件位置的定位面的基座、部分伸入槽内接触槽壁的活动测头、用于带动所述活动测头沿第一直线转动并沿所述第一直线滑动的活动轴、用于限制所述活动测头转动范围的限位件、千分表、带动所述活动轴运动的操作件和对所述活动轴施加使所述活动轴向靠近所述千分表方向运动的作用力的压缩弹簧；所述基座形成有安装孔；所述活动轴和所述弹簧位于所述安装孔内；所述操作件穿过所述活动轴并固定至所述活动轴；所述操作件贯穿所述基座；所述活动测头沿垂直于所述活动轴的轴线方向延伸；所述活动测头固定至所述活动轴；所述千分表包括：测量杆和表体；所述测量杆相对于所述表体滑动；所述测量杆的一端与所述操作件接触；所述测量杆相对于所述表体的滑动方向平行于所述活动轴的轴线方向；所述表体固定至所述基座；所述基座定义有一中心轴线；所述活动测头的所述第一直线平行于所述基座的所述中心轴线并偏离所述中心轴线形成偏心结构。2.根据权利要求1所述的用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装，其特征在于，所述用于测量带有内孔的零件的下槽位的检测工装还包括：供用户操作带动所述操作件运动的旋帽；所述旋帽固定至所述操作件；所述旋帽的底部设有定位球；所述基座的顶面形成有与所述定位球配合的定位孔。3.根据权利要求1所述的用于测量带有内孔的零件...

【专利技术属性】
技术研发人员：王俊，邓凌曲，张闯，王学宝，
申请(专利权)人：南京泉峰汽车精密技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32