一种NAND FLASH数据校验方法及相关装置制造方法及图纸

技术编号:21298284 阅读:38 留言:0更新日期:2019-06-12 07:36
本发明专利技术公开了一种NAND FLASH数据校验方法,在启动系统时,先按照正常的流程校验第一分区中的数据,如果校验通过则正常启动系统,否则进一步读取第二分区中的数据进行验证,第二分区的数据是第一分区的数据的备份,如果第二分区的数据验证通过,即可正常启动系统。由于本方案中的NAND FLASH中设置有两个分区,第二分区的数据是第一分区的数据的备份,即使第一个分区中数据校验未通过,也可以使用第二分区代替第一分区,使系统正常的启动,从而可以有效降低系统无法启动的概率。本申请还提供了一种NAND FLASH数据校验系统、装置及计算机可读存储介质,同样可以实现上述技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种NANDFLASH数据校验方法及相关装置
本专利技术涉及计算机技术,更具体地说,涉及一种NANDFLASH数据校验方法、系统、装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
随着人们对计算机存储性能要求的提高,存储器设备也在不断的发展。NANDFLASH存储器是flash存储器的一种,其内部采用非线性宏单元模式,为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。NANDFLASH作为一种安全、快速的存储提,具有体积小、容量大、成本低以及更多的擦除次数等一系列优点,已成为系统中数据和程序最主要的载体,在业界得到了越来越广泛的应用,如数码相机、体积小的U盘等。NANDFLASH存储器时基于浮栅电荷存储实现数据保存的,NAND单元必须保证一个稳定的电压水平来保证数据是有效的。电荷从悬浮门里漏出,称为电子迁移,当随着时间的流逝,电荷泄漏到一定程度,改变了NAND单元里悬浮门的电压对应的逻辑值,从而一个或多个比特位就会发生反转,如果在重要的数据区发生反转,则会导致NANDFLASH存储器所对应的嵌入式系统不能正常启动,影响系统的正常使用。因此,如何降低NANDFLASH存储器所对应的嵌入式系统不能正常启动的概率,是本领域技术人员需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种NANDFLASH数据校验方法、系统、装置及计算机可读存储介质,以解决如何降低NANDFLASH存储器所对应的嵌入式系统不能正常启动的概率的问题。为实现上述目的,本专利技术实施例提供了如下技术方案:一种NANDFLASH数据校验方法,包括:在NANDFLASH的第一分区读取数据,并对所述第一分区的数据进行校验,判断所述第一分区的数据是否校验通过;若是,则启动所述NANDFLASH的系统;若否,则在所述NANDFLASH的第二分区读取数据,并对所述第二分区的数据进行校验,判断所述第二分区的数据是否校验通过;其中,所述第二分区的数据是所述第一分区数据的备份;若是,则启动所述NANDFLASH系统;若否,则确定所述NANDFLASH数据校验失败。其中,所述对所述第一分区的数据进行校验,包括:对所述第一分区的数据进行ECC校验;对应的,所述对所述第二分区的数据进行校验,包括:对所述第二分区的数据进行ECC校验。其中,所述在所述NANDFLASH的第二分区读取数据,并对所述数据进行校验,所述第二分区的数据校验通过时,所述方法还包括:擦除所述第一分区的数据,将所述第二分区的数据写入所述第一分区。其中,所述擦除所述第一分区的数据,将所述第二分区的数据写入所述第一分区,包括:擦除所述第一分区中失效数据;在所述第二分区中确定与所述失效数据对应的目标数据;将所述目标数据写入所述第一分区中对应所述失效数据的位置。其中,所述在所述第二分区中确定与所述失效数据对应的目标数据,包括:确定所述第一分区中失效数据的块号与页数;利用所述失效数据的块号与页数在所述第二分区中确定与所述失效数据对应的目标数据。本申请还提供了一种NANDFLASH数据校验系统,包括:第一分区数据校验模块,用于在NANDFLASH的第一分区读取数据,并对所述第一分区的数据进行校验,判断所述第一分区的数据是否校验通过;第一系统启动模块,用于当所述第一分区的数据校验通过时,启动所述NANDFLASH的系统;第二分区数据校验模块,用于当所述第一分区的数据校验未通过时,在所述NANDFLASH的第二分区读取数据,并对所述第二分区的数据进行校验,判断所述第二分区的数据是否校验通过;其中,所述第二分区的数据是所述第一分区数据的备份;第二系统启动模块,用于当所述第二分区的数据校验通过时,启动所述NANDFLASH系统;校验失败确定模块,用于当所述第二分区的数据校验未通过时,确定所述NANDFLASH数据校验失败。其中,所述第一分区数据校验模块,具体用于在所述NANDFLASH的所述第一分区读取数据,并对所述第一分区的数据进行ECC校验,判断所述第一分区的数据是否校验通过;对应的,所述第二分区数据校验模块,具体用于在所述NANDFLASH的所述第二分区读取数据,并对所述第二分区的数据进行ECC校验,判断所述第二分区的数据是否校验通过。其中,所述系统还包括:数据写入模块,用于所述在所述NANDFLASH的第二分区读取数据,并对所述数据进行校验,所述第二分区的数据校验通过时,擦除所述第一分区的数据,将所述第二分区的数据写入所述第一分区。本申请还提供了一种NANDFLASH数据校验装置,包括:存储器,用于存储计算机程序;处理器,用于执行所述计算机程序时实现如所述NANDFLASH数据校验方法的步骤。本申请还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如所述NANDFLASH数据校验方法的步骤。通过以上方案可知,本专利技术实施例提供的一种NANDFLASH数据校验方法,包括:在NANDFLASH的第一分区读取数据,并对所述第一分区的数据进行校验,判断所述第一分区的数据是否校验通过;若是,则启动所述NANDFLASH的系统;若否,则在所述NANDFLASH的第二分区读取数据,并对所述第二分区的数据进行校验,判断所述第二分区的数据是否校验通过;其中,所述第二分区的数据是所述第一分区数据的备份;若是,则启动所述NANDFLASH系统;若否,则确定所述NANDFLASH数据校验失败。由此可见,本申请实施例提供的一种NANDFLASH数据校验方法,在启动系统时,先按照正常的流程校验第一分区中的数据,如果校验通过则正常启动系统,否则进一步读取第二分区中的数据进行验证,第二分区的数据是第一分区的数据的备份,如果第二分区的数据验证通过,即可正常启动系统。由于本方案中的NANDFLASH中设置有两个分区,第二分区中数据为第一分区数据的备份,即使第一个分区中数据校验未通过,也可以使用第二分区代替第一分区,使系统正常的启动,从而可以有效降低系统无法启动的概率。本申请还提供了一种NANDFLASH数据校验系统、装置及计算机可读存储介质,同样可以实现上述技术效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例公开的一种NANDFLASH数据校验方法流程图;图2为本专利技术实施例公开的一种具体的NANDFLASH数据校验方法流程图;图3为本专利技术实施例公开的一种NANDFLASH数据校验系统结构示意图;图4为本专利技术实施例公开的一种NANDFLASH数据校验装置结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例公开了一种NANDFLASH数据校验方法、系统、装置及计算机可读存储介质,以解决如何降低NANDFLASH存储器所对应的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种NAND FLASH数据校验方法,其特征在于,包括:在NAND FLASH的第一分区读取数据,并对所述第一分区的数据进行校验,判断所述第一分区的数据是否校验通过;若是,则启动所述NAND FLASH的系统;若否,则在所述NAND FLASH的第二分区读取数据,并对所述第二分区的数据进行校验,判断所述第二分区的数据是否校验通过;其中,所述第二分区的数据是所述第一分区数据的备份;若是,则启动所述NAND FLASH系统;若否,则确定所述NAND FLASH数据校验失败。

【技术特征摘要】
1.一种NANDFLASH数据校验方法,其特征在于,包括:在NANDFLASH的第一分区读取数据,并对所述第一分区的数据进行校验,判断所述第一分区的数据是否校验通过;若是,则启动所述NANDFLASH的系统;若否,则在所述NANDFLASH的第二分区读取数据,并对所述第二分区的数据进行校验,判断所述第二分区的数据是否校验通过;其中,所述第二分区的数据是所述第一分区数据的备份;若是,则启动所述NANDFLASH系统;若否,则确定所述NANDFLASH数据校验失败。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一分区的数据进行校验,包括:对所述第一分区的数据进行ECC校验;对应的,所述对所述第二分区的数据进行校验,包括:对所述第二分区的数据进行ECC校验。3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述在所述NANDFLASH的第二分区读取数据,并对所述数据进行校验,所述第二分区的数据校验通过时,所述方法还包括:擦除所述第一分区的数据,将所述第二分区的数据写入所述第一分区。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述擦除所述第一分区的数据,将所述第二分区的数据写入所述第一分区,包括:擦除所述第一分区中失效数据;在所述第二分区中确定与所述失效数据对应的目标数据;将所述目标数据写入所述第一分区中对应所述失效数据的位置。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述在所述第二分区中确定与所述失效数据对应的目标数据,包括:确定所述第一分区中失效数据的块号与页数;利用所述失效数据的块号与页数在所述第二分区中确定与所述失效数据对应的目标数据。6.一种NANDFLASH数据校验系统,其特征在于,包括:第一分区数据校验模块,用于在NANDFLASH的第一分区读取数据,并对所述第一分区的数据...

【专利技术属性】
技术研发人员:许云龙李冰王广军王磊安志远陈晓彤
申请(专利权)人:康泰医学系统秦皇岛股份有限公司
类型:发明
国别省市:河北,13

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1