电压暂降的免疫时间检测方法技术

本申请涉及一种电压暂降的免疫时间检测方法，包括：解析电路，获取所述电路中的敏感设备；获取各所述敏感设备的免疫时间；根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间。本申请中，基于敏感设备免疫时间得到电路的敏感过程的免疫时间，从而有效检测出电路的供电可靠性。

【技术实现步骤摘要】
电压暂降的免疫时间检测方法
本申请涉及供电测试
，特别是涉及一种电压暂降的免疫时间检测方法。
技术介绍
随着社会生产力的整体提升，供电可靠性等基本问题已达到较高水平，而保证高效生产的高度自动化生产过程对供电质量日益增长的需求已成为电力企业在新时代需要应对的一个主要矛盾，而电压暂降是各类导致用户经济损失的电能质量问题中贡献度最大的问题。改善电压质量的第一步，需要通过测试以及一定的评估手段了解到典型敏感设备或过程的电压暂降耐受能力。现阶段在敏感设备测试方面已有一定的研究成果。华南理工大学欧阳森团队对脱扣器进行了测试，并绘制了设备的电压暂降耐受曲线(voltagetolerancecurve,VTC)，分析了暂降幅值、持续时间、起始波形点以及相位跳变特征对设备免疫力的影响。华北电力大学肖湘宁与徐永海团队对可调速驱动(adjustablespeeddrive,ASD)、交流接触器等敏感设备进行了相关研究，并给出了一定的免疫力提升措施。华北电力大学吴亚盆团队对PLC的电压暂降耐受能力进行了测试。国外Milanovic团队同样对交流接触器、PC等多种敏感设备的暂降耐受能力进行了充分的研究。部分研究者在研究中意识到某个生产过程中的典型敏感设备会互相影响，独立研究设备的耐受能力对整个生产过程的免疫力评估不够充分。《Experimentalinvestigationonthesensitivityofanindustrialprocesstovoltagedips[C].2015IEEEEindhovenPowerTech.Eindhoven》搭建了一个由ACC、ASD与模拟负载的感应电机所构成的典型工业过程，并对所涉及的敏感设备与过程的耐受能力均进行了测试，得到了各自的VTC，证实了各设备间的相互影响，以及其过程耐受能力间的关系。现有大量研究均通过测试得到的VTC对设备进行电压暂降耐受能力评估，而对于用户而言，基于网侧指标构建的电压耐受曲线不能直观准确的体现出实际生产过程遭受的影响，从而不利用进行薄弱环节甄别与经济损失评估。《Voltagedipimmunityofequipmentandinstallations》中提出了免疫力概念，采用免疫时间(Immunitytime,IT)来作为评估设备或过程电压暂降耐受能力的指标，并列举了一些典型工业过程对该指标的应用进行了说明。该指标以面向用户的工业过程参数作为判断标准，以时间来侧面评估免疫力，更利于从用户侧建立对暂降影响直观的认识。但该文并未提出具体的实现方法，对于具体的典型工业生产评估还需要进行进一步的落地研究。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种能够电压暂降的免疫时间检测方法。一种电压暂降的免疫时间检测方法，所述方法包括：解析电路，获取所述电路中的敏感设备；获取各所述敏感设备的免疫时间；根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间。在其中一个实施例中，所述解析电路，获取所述电路中的敏感设备的步骤之前还包括：建立敏感设备的测试电路；为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形；根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间。在其中一个实施例中，所述根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：获取所述敏感设备的两端的电压波形的变化，检测所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现；根据所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现的时间，获得所述暂降特征和所述平顶波的时间差，以所述时间差为所述敏感设备的免疫时间。在其中一个实施例中，所述为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形步骤包括：为所述敏感设备提供扰动电源，通过示波器检测所述敏感设备的两端的电压波形。在其中一个实施例中，所述获取各所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，获取所述电路中与所述敏感设备对应的多个最小割集；获取各所述最小割集的免疫时间；所述根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间。在其中一个实施例中，所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤为：确定各所述最小割集中的敏感设备；以所述敏感设备的免疫时间为所述最小割集的免疫时间。在其中一个实施例中，所述根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：以相互串联的各所述最小割集的免疫时间的最大值作为所述电路的免疫时间。在其中一个实施例中，所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤包括：获取所述最小割集中的相互并联的多个环节的免疫时间，以各所述环节的免疫时间的最大值作为所述最小割集的免疫时间。在其中一个实施例中，同一所述最小割集内的多个所述环节具有数字耦合特性。在其中一个实施例中，所述根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，获取所述电路的多个最小割集的步骤包括：根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，基于所述敏感设备的数字耦合特性，将所述电路划分为多个所述最小割集；获取所述电路的多个所述最小割集。上述电压暂降的免疫时间检测方法，基于敏感设备免疫时间得到电路的敏感过程的免疫时间，从而有效检测出电路的供电可靠性。附图说明图1为一个实施例中电压暂降的免疫时间检测方法的流程示意图；图2为一个实施例中典型敏感设备ACC的结构示意图；图3为一个实施例中PIT曲线的示意图；图4为一个实施例中测试电路的电路连接示意图；图5为一个实施例中的典型过程的实验平台的电路结构示意图；图6a为一个实施例中随机网络的连接结构示意图；图6b为一个实施例中等效网络的连接结构示意图；图7为一个实施例中的工业过程的结构示意图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。在一个实施例中，如图1所示，提供了一种电压暂降的免疫时间检测方法，包括以下步骤：步骤110，解析电路，获取所述电路中的敏感设备。具体地，敏感设备为在电压暂降时，产生耐受特性的设备。即敏感设备在电压暂降时，将产生耐受特性。该敏感设备具有一定的耐受能力。不同的敏感设备的耐受能力不同。本步骤中，对电路结构进行解析，获取电路中的各敏感设备，该敏感设备为电路中的元件。通过对电路进行解析，即可从电路中确定敏感设备。确定敏感设备在电路中的位置，以及敏感设备的逻辑连接关系。本实施例中，获取电路中的多个敏感设备，并获取敏感设备的设备类型。一个实施例中，敏感设备包括开关元件。本实施例中，敏感设备包括ACC(接触器)和ASD(adjustablespeeddrive,调速驱动)，即敏感设备的类型括ACC和ASD。步骤130，获取各所述敏感设备的免疫时间。本实施例中，根据获取到的敏感设备，获取敏感设备的免疫时间。一个实施例是，根据获取到的敏感设备的设备类型，获取与敏感设备的设备类型对应的免疫时间。具体地，免疫时间(ImmunityTime，IT)为用于评估设备或过程电压暂降耐受能力的指标。一个实施例中，免疫时间为敏感设备准备断开至完全断开这一过程的时间长度。应该理解的是，该免疫时间为预存的与敏感设备的对应的时本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电压暂降的免疫时间检测方法，所述方法包括：解析电路，获取所述电路中的敏感设备；获取各所述敏感设备的免疫时间；根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间。

【技术特征摘要】
1.一种电压暂降的免疫时间检测方法，所述方法包括：解析电路，获取所述电路中的敏感设备；获取各所述敏感设备的免疫时间；根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述解析电路，获取所述电路中的敏感设备的步骤之前还包括：建立敏感设备的测试电路；为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形；根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：获取所述敏感设备的两端的电压波形的变化，检测所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现；根据所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现的时间，获得所述暂降特征和所述平顶波的时间差，以所述时间差为所述敏感设备的免疫时间。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形步骤包括：为所述敏感设备提供扰动电源，通过示波器检测所述敏感设备的两端的电压波形。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取各所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，获取所述电路中...

【专利技术属性】
技术研发人员：马智远，莫文雄，许中，周凯，郭倩雯，王勇，王红斌，栾乐，熊俊，叶志峰，王荣富，李情，黄伟钊，
申请(专利权)人：广州供电局有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44