一种覆层测厚仪传感器制造技术

本发明专利技术涉及厚度测量仪传感器技术领域，具体公开了一种覆层测厚仪传感器，包括磁芯(2)、骨架(3)、线圈(4)、内壳体(5)；所述磁芯(2)在测量端面开设孔，所述磁芯(2)安装于骨架(3)的中心位置，所述线圈(4)绕制在骨架(3)的线槽内，所述内壳体(5)套装在骨架(3)外。本发明专利技术在磁芯测量端面开设孔，在测量磁性金属基体上的覆层厚度，特别是薄的覆层厚度时，有效地增大了传感器流入基体的磁阻，减小了磁通，降低了通过磁感应端的信号强度，使该段测量线性趋势线与其它段测量线性趋势线基本一致，即近似直线线性，其有效地修正了传感器的测量线性曲线，从而实现全量程范围内任意被测厚度的两点快速校准功能。

【技术实现步骤摘要】
一种覆层测厚仪传感器
本专利技术涉及厚度测量仪传感器
，具体公开了一种覆层测厚仪传感器。
技术介绍
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。现实生活中对材料覆盖层的测量，已逐渐引入微机技术，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化方向发展，仪器的测量体验感受以及使用效率等越来越受到人们的关注。采用磁性法原理时，利用从传感器经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。采用涡流法原理时，高频交流信号在传感器线圈中产生电磁场，传感器靠近导体时，就在其中形成涡流，传感器离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了传感器与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。目前，市场上绝大部分覆层测厚仪在环境等发生变化时均需要进行多点(一般为：0、50、100、250、500、1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种覆层测厚仪传感器，其特征在于：传感器包括磁芯(2)、骨架(3)、线圈(4)、内壳体(5)；所述磁芯(2)在测量端面开设孔，所述磁芯(2)安装于骨架(3)的中心位置，所述线圈(4)绕制在骨架(3)的线槽内，所述内壳体(5)套装在骨架(3)外。

【技术特征摘要】
1.一种覆层测厚仪传感器，其特征在于：传感器包括磁芯(2)、骨架(3)、线圈(4)、内壳体(5)；所述磁芯(2)在测量端面开设孔，所述磁芯(2)安装于骨架(3)的中心位置，所述线圈(4)绕制在骨架(3)的线槽内，所述内壳体(5)套装在骨架(3)外。2.根据权利要求1所述的覆层测厚仪传感器，其特征在于：磁芯(2)的测量端面的开孔内嵌有磁芯填充物(1)。3.根据权利要求2所述的覆层测厚仪传感器，其特征在于：磁芯填充物(1)与磁芯(2)的测量端面齐平，或者，磁芯填充物(1)凸出于磁芯(2)的测量端面。4.根据权利要求2所述的覆层测厚仪传感器，其特征在于：磁芯填充物(1)的材料为无机非金属材料、塑胶材料、或者无机非金属材料与塑胶材料的复合材料。5.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐建辉，蔡伟明，陈闰，林泽强，饶哲章，李鸿金，罗友文，
申请(专利权)人：优利德科技中国股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44