一种高精度光耦自检装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种高精度光耦自检装置和方法，用于检测设备中包含光耦和马达的装置是否为正常工作状态或是否发生故障，以及对用于到位检测的到位位置和到位阈值进行快速高精度的有效确定。本发明专利技术的高精度光耦自检装置至少包括马达、第一部件、光耦，所述马达通过联动单元与第一部件连接；自检装置还包括用于根据自检参数检测是否故障和是否到位的控制器。本发明专利技术利用光耦器件反馈的光耦检测信号进行检测，可应用于各类需要到位检测的设备，在不使用仪表和不需要拆解设备装置的情况下直观反馈故障情况，通过条件设定判断和自动设定合适的阈值，可提高到位检测的精度和准确度，检测结果快速直观，提高设备出厂检测的效率，提高设备使用的寿命，改善用户体验。

A High Precision Photocoupler Self-Checking Device and Method

The invention discloses a high-precision optocoupler self-detection device and method, which is used to detect whether the device containing optocoupler and motor is in normal working state or failures, and to determine the position and threshold of position for position detection quickly and accurately. The high-precision optocoupler self-detection device of the present invention includes at least a motor, a first component and a optocoupler, the motor is connected with the first component through a linkage unit, and the self-detection device also includes a controller for detecting whether the fault is in place or not according to the self-detection parameters. The method uses the optocoupler detection signal fed back by the optocoupler device to detect, and can be applied to all kinds of devices requiring in-place detection. Without using the instrument and without disassembling the device, the method can directly feedback the fault situation, and can improve the accuracy and accuracy of in-place detection by setting judgment and setting appropriate threshold automatically through condition setting. Accuracy, fast and intuitive test results, improve the efficiency of equipment factory inspection, improve the service life of equipment, improve user experience.

【技术实现步骤摘要】
一种高精度光耦自检装置和方法
本专利技术涉及自动检测领域，尤其是涉及到一种高精度的光耦自检装置和自检方法。
技术介绍
投影技术的发展让投影设备在办公和家用领域不断普及，其中投影设备在使用的过程中涉及对聚焦马达／电动仓门或其他部件进行位置检测或到位检测，以配合获取最优的投影效果。市面上现有的电动调焦或自动对焦投影设备，部分采用通用输入输出接口（GPIO）或模数转换电路（ADC）连接到光耦器件，并通过GPIO接口数据或ADC值反馈检测结果。通常GPIO接口通过电平变化判断位置，ADC通过设定一个常数(一般为125)比较判断位置。但上述现有技术中存在较多缺陷，首先机械结构批量制造存在的公差导致对于每个装置结构的个体的比较值有偏差，从而导致检测结果不准确；其次在基于电平变化的位置检测中发生信号变化的位置通常不是一个精确点而是一个位置范围，电平变化并不能精确反映移动部件位置的变化；而采用ADC检测光耦反馈的电压值进行检测，一般是通过程序直接设定的一个常数作为判断阈值，会出现精度较差、设定值可能为临界值、系统兼容性差等问题；另外调焦设备通常都是采用通过程序设定一个固定的调焦行程，但在实际批量生产中由于制造公差的固定调焦距离会导致部分机器无法满程调焦，从而出现部分机型会结构卡住从而损坏马达，且实际检测中光耦可能处于损坏的状况，这两种情况下现有技术通常采用电压表测试电平变化的方法，并且在装上整机的情况下需要拆机后测量，处理过程非常麻烦。
技术实现思路
本专利技术的目的在于：针对现有技术中存在的上述缺陷，提供一种高精度光耦自检装置和方法，用于检测设备中包含光耦和马达的装置是否为正常工作状态或是否发生故障，以及对用于到位检测的到位位置和到位阈值进行快速高精度的有效确定，改善到位误判。本专利技术采用的技术方案如下：一种高精度光耦自检装置，至少包括马达、第一部件、光耦，所述马达通过联动单元与第一部件连接；所述自检装置还包括用于根据自检参数检测是否故障和是否到位的控制器，所述控制器分别与马达和光耦连接；用于检测进光量的光耦安装在到位位置处，并将检测的光耦信号数据发送至控制器；控制器通过控制马达的转动控制第一部件的移动，并接收自检参数数据。进一步的，所述第一部件上安装有用于改变光耦进光量的挡片。进一步的，所述第一部件为光机或仓门。进一步的，所述控制器控制马达转动，马达每次转动一步，控制器接收和读取一次光耦传输的光耦信号值。进一步的，所述自检参数数据包括马达步数和光耦信号数据。一种高精度光耦自检方法，该自检方法包括以下步骤：控制器通过控制马达的转动带动第一部件在移动行程内移动，安装在到位位置处的光耦检测进光量并将进光量转换为光耦信号数据；控制器在马达转动的同时接收自检参数数据，并根据自检参数检测是否故障和是否到位。进一步的，所述第一部件上安装有用于改变光耦进光量的挡片。进一步的，所述第一部件为光机或仓门。进一步的，所述自检参数数据包括马达步数和光耦信号数据；所述控制器控制马达转动，马达每次转动一步，控制器接收和读取一次光耦传输的光耦信号值。进一步的，所述检测是否故障具体为，当检测到的光耦信号值随着马达步数的改变不发生变化，此时判定光耦器件是坏的或者第一部件发生卡死；所述检测是否到位具体为，当检测到的光耦信号值随着马达步数的改变发生变化，并且满足一定变化条件时，此时第一部件属于到位状态，并确定用于到位检测的到位位置和到位阈值。综上所述，由于采用了上述技术方案，本专利技术的有益效果是：（1）本专利技术利用光耦器件反馈的光耦检测信号进行检测，并将数据反馈到界面，同时将数据进行存储，可应用于各类需要到位检测的设备，兼容性高；（2）本专利技术可以在不使用仪表和不需要拆解设备装置的情况下直观反馈第一部件和光耦的好坏，并判断其是否发生故障，检测结果快速直观，快速反馈定位装置能否使用，提高设备出厂检测的效率；（3）本专利技术采用检测光耦反馈电压，并通过条件设定判断和自动设定合适的阈值，可提高到位检测的精度和准确度，减少误判，提高设备使用的寿命，改善用户体验。附图说明本专利技术将通过例子并参照附图的方式说明，其中：图1是本专利技术的高精度光耦自检装置结构示意图。图2是本专利技术的高精度光耦自检方法示意图。图3是本专利技术实施例提供的理想情况下的数据采集结果。图4是本专利技术实施例提供的故障状态下的示意图。图5是本专利技术实施例提供的故障状态下的数据采集结果。图6是本专利技术实施例提供的正常情况下的示意图。图7是本专利技术实施例提供的正常情况下的数据采集结果。具体实施方式为了使本领域的人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合本专利技术的附图，对本专利技术的技术方案进行清楚、完整的描述，基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的其它类同实施例，都应当属于本申请保护的范围。实施例1为一种高精度光耦参数自检装置。如图1，为投影设备的光耦参数检测装置的结构示意图，至少包括马达、第一部件、光耦；所述马达通过联动单元与第一部件连接；所述自检装置还包括用于根据自检参数检测是否故障和是否到位的控制器，所述控制器分别与马达和光耦连接；所述控制器控制马达的转动从而控制第一部件，并使得第一部件能够在其移动行程中前后移动；在一个实施例中，第一部件可以为光机或光机镜头，此时可以用于对光机是否到位以及光耦的状态进行检测；在另一个实施例中，第一部件可以为投影镜头仓门，此时可以对仓门是否处于正确关闭或打开的位置以及光耦的状态进行检测。光耦也称光耦合器（opticalcoupler，OC）或光电耦合器，是以光为媒介来传输电信号的器件，通常以光为媒介把输入端信号耦合到输出端并输出光耦信号数据。在本实施例中，将光耦固定安装在到位位置处。所述到位是指第一部件位于应该到达的位置，从而保证设备或装置的正常运作。所述到位位置即第一部件应当到达的位置或待检测的目标位置。在第一部件上，例如光机或光机镜头上或仓门上安装有挡片。随着马达的转动和第一部件的移动，当马达到达光耦位置范围，挡片可以阻挡或改变光耦接收的进光量，而随着进光量的变化光耦输出的光耦信号值也会发生变化。所述控制器通过控制马达的转动控制第一部件的移动，并接收自检参数数据。所述自检参数包括马达步数和光耦信号值。所述控制器控制马达转动，马达每次转动一步，控制器接收和读取一次光耦传输的电压信号值，并将自检参数数据进行存储。在实际检测中，每台设备组装完成后，开机并利用自检装置开始对光耦参数进行自检，控制器接收和读取马达步数和对应的光耦传输的光耦信号值。控制器通过获取的自检参数数据能判断设备或装置是否发生故障以及第一部件是否到位。实施例2提供了一种高精度光耦参数自检方法。如图2，其中1、2为光耦的信号输入端，3、4为光耦的信号输出端。位置A、B、C所在的行程表示第一部件的移动行程，其中位置C与光耦所在的位置相对应，即位置C表示到位位置。利用高精度光耦自检装置进行自检的方法过程如下：控制器控制马达转动，并带动第一部件和挡片从位置A经过位置B移动到位置C，对应的光耦与挡片的位置关系为从光耦没有被遮挡到光耦被挡片遮挡。理论上，当光耦被挡片完全遮挡时输出信号值为0V，当光耦完全不被挡片遮挡时输出信号值为3.3V。但在实际生产中和制造过程中，黑色的挡片可能出现不完全遮挡光耦的情况，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度光耦自检装置，其特征在于，至少包括马达、第一部件、光耦，所述马达通过联动单元与第一部件连接；所述自检装置还包括用于根据自检参数检测是否故障和是否到位的控制器，所述控制器分别与马达和光耦连接；用于检测进光量的光耦安装在到位位置处，并将检测的光耦信号数据发送至控制器；控制器通过控制马达的转动控制第一部件的移动，并接收自检参数数据。

【技术特征摘要】
1.一种高精度光耦自检装置，其特征在于，至少包括马达、第一部件、光耦，所述马达通过联动单元与第一部件连接；所述自检装置还包括用于根据自检参数检测是否故障和是否到位的控制器，所述控制器分别与马达和光耦连接；用于检测进光量的光耦安装在到位位置处，并将检测的光耦信号数据发送至控制器；控制器通过控制马达的转动控制第一部件的移动，并接收自检参数数据。2.如权利要求1所述的光耦自检装置，其特征在于，所述第一部件上安装有用于改变光耦进光量的挡片。3.如权利要求1所述的光耦自检装置，其特征在于，所述第一部件为光机或仓门。4.如权利要求1所述的光耦自检装置，其特征在于，所述控制器控制马达转动，马达每次转动一步，控制器接收和读取一次光耦传输的光耦信号值。5.如权利要求1所述的光耦自检装置，其特征在于，所述自检参数数据包括马达步数和光耦信号数据。6.一种高精度光耦自检方法，其特征在于，所述自检方法包括以下步骤：控制器通过控制马达的转动带动第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟波，肖适，刘志明，杨鹏，
申请(专利权)人：成都市极米科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51