存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置，属于存储设备技术领域。在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。对于主板的存储单元中包括多个存储模块时，可逐个对每个存储模块依次进行检测，防止了因某一个存储模块存在故障至少主板死机，无法准确定位故障存储模块及该故障存储模块的故障数据线的问题。

Testing method of storage module, testing method and device of storage unit in motherboard

The invention discloses a test method for a storage module, a test method and a device for a storage unit in a motherboard, and belongs to the technical field of storage devices. When training storage module, by identifying whether storage module has been trained, we can preliminarily judge whether there are abnormalities in storage module. For storage module which can not be trained, we can use maintenance parameter set to set storage module, so that storage module can be detected, so that the motherboard can not be detected because storage module is abnormal into the dead state. Storage can be accurately located by testing results. The failure of the module provides the efficiency of detection and shortens the detection time. When the storage unit of the motherboard includes multiple storage modules, each storage module can be detected one by one, which prevents at least the motherboard from crashing due to a failure of one storage module and the problem of inaccurate location of the fault storage module and the fault data line of the fault storage module.

【技术实现步骤摘要】
存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置
本专利技术涉及存储设备
，尤其涉及存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置。
技术介绍
目前内存颗粒作为电子系统当中最核心的部件之一，一直以来都是电子系统研究和应用最广泛的对象；当前的智能电子产品，如移动终端(手机、笔记本电脑)、机顶盒、电视机等，这些智能设备主板一般都会大量用到存储器(如：双倍速率存储器，简称DDR，英文DoubleDataRate)。主板在生成中会遇到DDR数据线连接不良的问题。对于这种不良板，往往会导致整个系统不能工作(即整个主板报废)，当累积的废板多起来，造成的损失会越来越大。目前对于主板的DDR检测的通常先对DDR进行训练，若训练失败，则主板会进入死机状态，无法检测DDR线路情况，因此，无法准确的定位是哪一个颗DDR出了问题，只能尝试性的拆焊，检测的效率低，且用时长。
技术实现思路
针对现有存储器测试存在的问题，现提供一种旨在可对故障精准定位，提高测试效率、缩短测试时间的存储模块的测试方法、主板中存储单元的测试方法及装置。一种存储模块的测试方法，存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括下述步骤：S1.训练所述存储模块；S2.识别所述存储模块是否通过训练，若是，执行步骤S3；若否，执行步骤S4；S3.提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；S4.依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；S5.检测所述存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果；若否，输出检测异常的结果。优选的，所述步骤S5检测所述存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述存储模块中；S51.读取所述存储模块中的测试数据；S52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤S53；若否，执行步骤S54；S53.输出检测正常的结果；S54.输出检测异常的结果。优选的，所述步骤S52还包括：当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。本专利技术还提供了一种主板中存储单元的测试方法，所述存储单元包括至少两个存储模块，每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括：A1.对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；A2.识别所述待测存储模块是否通过训练，若是，执行步骤A3；若否，执行步骤A4；A3.提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；A4.依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；A5.检测所述待测存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果，执行步骤A6；若否，生成检测异常的结果，执行步骤A6；A6.判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，若是，返回执行步骤A1；若否，结束。优选的，所述步骤A5检测所述待测存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；A51.读取所述待测存储模块中的测试数据；A52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤SA3；若否，执行步骤SA4；A53.输出检测正常的结果；A54.输出检测异常的结果。本专利技术还提供了一种存储模块的测试装置，存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试装置包括：第一训练单元，用于训练所述存储模块；第一识别单元，用于识别所述存储模块是否通过训练；第一设置单元，用于提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；第一维修设置单元，用于依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；第一检测单元，用于检测所述存储模块的数据线是否正常，当所述存储模块的数据线正常时，输出检测正常的结果；当所述存储模块的数据线异常时，输出检测异常的结果。优选的，预先将原始测试数据写入所述存储模块中；所述第一检测单元包括：第一读取模块，用于读取所述存储模块中的测试数据；第一比对模块，用于将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，当读取的测试数据与所述原始测试数据相同时，输出检测正常的结果；当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，输出检测异常的结果。优选的，所述第一比对模块还用于当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。本专利技术还提供了一种主板中存储单元的测试装置，所述存储单元包括至少两个存储模块，每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试装置包括：第二训练单元，用于对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；第二识别单元，用于识别所述待测存储模块是否通过训练；第二设置单元，用于提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块；第二维修设置单元，用于依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块；第二检测单元，用于检测所述待测存储模块的数据线是否正常，当所述待测存储模块的数据线正常时，输出检测正常的结果；当所述待测存储模块的数据线异常时，输出检测异常的结果；控制单元，用于判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，当所述存储单元中有未检测的存储模块时，控制所述第二训练单元对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练。优选的，预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；所述第二检测单元包括：第二读取模块，用于读取所述待测存储模块中的测试数据；第二比对模块，用于将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，当读取的测试数据与所述原始测试数据相同时，输出检测正常的结果；当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，输出检测异常的结果。上述技术方案的有益效果：本技术方案中，在训练存储模块时，通过识别存储模块是否通过训练，可初步判断存储模块是否存在异常，对于无法通过训练存储模块可采用维修参数集合设置存储模块，以使存储模块进行检测，避免主板因存储模块异常进入死机状态无法检测，通过检测结果可精准的定位出存储模块的故障问题，提供了检测的效率，缩短了检测时间。附图说明图1为本专利技术所述的存储模块的测试方法的流程图；图2为本专利技术所述的主板中存储单元的测试方法的流程图；图3为本专利技术所述的存储模块的测试装置的模块图；图4为本专利技术所述的主板中存储单元的测试装置的模块图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，但不作为本专利技术的限定。如图1所示，本专利技术提供了一种存储模块的测试方法，存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合(当存储模块存在故障无法进行训练时，可采用训练参数集合设置存储模块，对存储模块进行检测)；本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储模块的测试方法，其特征在于：存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括下述步骤：S1.训练所述存储模块；S2.识别所述存储模块是否通过训练，若是，执行步骤S3；若否，执行步骤S4；S3.提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；S4.依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；S5.检测所述存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果；若否，输出检测异常的结果。

【技术特征摘要】
1.一种存储模块的测试方法，其特征在于：存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括下述步骤：S1.训练所述存储模块；S2.识别所述存储模块是否通过训练，若是，执行步骤S3；若否，执行步骤S4；S3.提取通过训练的训练参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；S4.依据所述维修参数集合设置所述存储模块，执行步骤S5；S5.检测所述存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果；若否，输出检测异常的结果。2.根据权利要求1所述的存储模块的测试方法，其特征在于：所述步骤S5检测所述存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述存储模块中；S51.读取所述存储模块中的测试数据；S52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤S53；若否，执行步骤S54；S53.输出检测正常的结果；S54.输出检测异常的结果。3.根据权利要求2所述的存储模块的测试方法，其特征在于：所述步骤S52还包括：当读取的测试数据与所述原始测试数据不相同时，判断根据读取的测试数据与所述原始测试数据的区别，识别故障的数据线，并生成故障数据线的报错信息。4.一种主板中存储单元的测试方法，所述存储单元包括至少两个存储模块，其特征在于：每一存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述测试方法包括：A1.对所述存储单元中的一待测存储模块进行训练；A2.识别所述待测存储模块是否通过训练，若是，执行步骤A3；若否，执行步骤A4；A3.提取通过训练的训练参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；A4.依据所述维修参数集合设置所述待测存储模块，执行步骤A5；A5.检测所述待测存储模块的数据线是否正常，若是，输出检测正常的结果，执行步骤A6；若否，生成检测异常的结果，执行步骤A6；A6.判断所述存储单元中是否有未检测的存储模块，若是，返回执行步骤A1；若否，结束。5.根据权利要求4所述的主板中存储单元的测试方法，其特征在于：所述步骤A5检测所述待测存储模块的数据线是否正常包括：预先将原始测试数据写入所述待测存储模块中；A51.读取所述待测存储模块中的测试数据；A52.将读取的测试数据与所述原始测试数据比对，判断读取的测试数据与所述原始测试数据是否相同，若是，执行步骤SA3；若否，执行步骤SA4；A53.输出检测正常的结果；A54.输出检测异常的结果。6.一种存储模块的测试装置，其特征在于：存储模块中存储有用于设置所述存储模块的训练参数集合；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧阳志光，叶佳星，邓海东，
申请(专利权)人：晶晨半导体上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31