面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法和装置，所述方法包括以下步骤：基于ATML模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线；根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序。本发明专利技术克服了面向仪器方式开发自检程序的缺点，能够自动生成自检逻辑与自检程序，提高了开发效率和可复用性、并且降低了工作量，提高了系统可裁剪可扩充性。

Development Method and Device of Self-Checking Program for Signal-Oriented Automatic Test System

The invention discloses a method and device for developing self-checking program of automatic test system oriented to signals, which includes the following steps: layering signals based on ATML model, determining the connection relationship of ports in test station according to the layered signals, generating self-checking logic and dynamic adapter connection of resources in current system according to the hierarchical relationship of signals, and combining self-checking logic with dynamic adapter connection according to self-checking logic. Dynamic adapter is connected to generate self-checking program. The invention overcomes the disadvantage of developing self-checking program in instrument-oriented mode, can automatically generate self-checking logic and self-checking program, improves the development efficiency and reusability, reduces the workload, and improves the tailorability and extensibility of the system.

【技术实现步骤摘要】
面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置
本专利技术属于测试系统自检领域，尤其涉及一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置。
技术介绍
测试系统自检是指在使用测试系统对被测件进行测试之前对测试系统的可用性进行的一种检查。该检查的内容主要包括测试系统内测试仪器与开关设备是否能正常工作、系统控制计算机与测试仪器之间的通讯是否正常、信号连接线路是否完好、激励信号输出是否正确、响应信号测量是否准确等。测试系统功能正常是对被测件准确测试的前提，因此测试系统自检是自动测试中重要且不可缺少的构成环节之一。在自动化测试系统中，测试程序(TPS)开发采用的技术直接与测试系统性能挂钩，目前测试程序开发技术主要有两种，一种是面向仪器的测试程序开发技术，一种是面向信号的测试程序开发技术。面向仪器的测试程序开发技术的核心特征是采用仪器操作描述测试程序，而面向信号的测试程序为了屏蔽具体的仪器操作，采用与具体仪器无关的信号属性进行开发。目前测试程序开发方式目前有两种：一种是面向仪器的测试程序开发方式，一种是面向信号的测试程序开发方式。目前自检程序的开发方式普遍采用面向仪器方式，面向仪器方式开发方式自检流程与仪器操作关联，没有统一标准，自检程序可移植性差；自检流程的设计、自检程序的开发工作量大且只支持串行开发；测试系统内资源被裁剪或扩充时，自检程序甚至自检流程都需重新设计、开发。面向仪器的开发方式开发自检程序需要经过以下步骤：1、根据测试系统中需要自检的资源收集相关资料并整理；2、设计该测试系统的自检方法，并同时设计自检适配器(Adapter)；3、将设计的自检方法采用某种开发方式转变为可运行的自检程序；4、将开发好的自检适配器连同自检程序，与测试系统联调；5、根据联调结果，优化自检方法与自检适配器的设计；6、重复步骤3到步骤5，直至满足测试系统的自检需求。目前测试系统的自检程序，主要以面向仪器方式开发，有如下几个缺点：1、需要开发人员对仪器等资源的使用方式熟悉，才能设计出合理的自检方案，对开发人员要求高、耗时多；2、自检方案的设计与自检程序的开发只能采用串行开发方式，无法多人并行开发，开发效率低；3、自检程序由仪器操作组合构成，如此开发完成的自检程序是对此测试系统的定制程序，可复用性差、开发效率低、系统可裁剪可扩充性差；4、开发人员需要将自检方案进行编码，转化为自检程序，耗时长。面向信号的测试程序开发技术是指使用信号操作语句描述测试程序，面向信号的测试语言包括ATLAS和ATML两种。ATLAS诞生于20世纪60年代，1962年美国ARINC公司主持开发了航空标准测试描述语言ATLAS，用于解决航空领域测试描述语言标准化问题。ATLAS具有设备无关性、可扩充性强等有点，但是随着测试需求的增长，ATLAS也逐渐暴露出语言越来越庞杂、信号定义模糊等缺点，为此SCC20着手对ATLAS标准进行改进，由此产生新一代的测试语言---ATLAS2000，并在此基础上制定了IEEE1641标准，该标准用于信号与测试定义。IEEE1641标准解决了测试描述的标准化问题，也解决了仪器互换问题，但却不能解决测试程序移植问题。为此IEEE从2002年开始制定了ATML标准族，产生了IEEE1671系列标准，采用XML语言描述测试信息，该标准族引用了IEEE1641标准，采用信号的方式描述被测件(UUT)测试需求、仪器能力、测试描述(TestDescription，简称TD)等信息。如何针对面向信号的测试系统进行自检程序的开发，以提高程序的开发效率、可复用性，是本领域技术人员目前需要迫切解决的技术问题。
技术实现思路
为克服上述现有技术的不足，本专利技术提供了一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法及装置，针对现采用面向仪器方式开发自检程序方案的缺点，提出将面向信号开发自动测试程序的方法应用于开发自检程序，克服上述面向仪器方式开发自检程序的缺点，提出自检逻辑、动态适配器连线与自检程序生成方法，实现自检逻辑设计的自动化、自检程序开发的自动化，提高开发效率、提高可复用性、降低工作量、提高系统可裁剪可扩充性。为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，包括以下步骤：步骤1：基于ATML模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；步骤2：根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线；步骤3：根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序。进一步地，所述步骤2还包括：分别判断自检逻辑是否合理以及动态适配器连线是否满足需求，当自检逻辑合理且动态适配器连线满足需求时，执行步骤3。进一步地，所述步骤1具体包括：步骤101：提取ATML模型中信号等所需信息；步骤102：将提取的所有信号进行分为三层，第一层分类依据是信号类型；第二层在第一层基础上继续分类，分类依据是信号种类；第三层在第二层基础上继续分类，分类依据是激励与测量信号；步骤103：判断分层后信号是否满足分类依据与实际需求，若不满足则返回步骤102人工修改分层信号，若满足则继续；步骤104：以信号为索引，利用已有的ATML模型，将连线关系从信号模型、仪器模型、测试站模型中提取并进行整体连接，打通测试站中仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线；步骤105：判断测试站内部连线是否满足需求，若不满足则返回步骤4根据需求增加连线关系，若满足则结束。进一步地，所述步骤2中生成自检逻辑具体包括：步骤201：输入信号分层模块生成的分层信号；步骤202：根据物理特性需求，给出第一层不同类型信号的自检顺序及可并行自检性，并同时给出在第一层同类型信号下，第二层不同种类信号的自检顺序及可并行自检性，经过整理得出所有信号的自检先后与并行顺序；步骤203：在第三层中分别连接同种类的激励与测量信号；步骤204：判断所述某激励与测量信号的连接的两端是否包含需要自检的信号，若两端均不包含则跳转至步骤203删除该激励与测量信号的连接，若所有连接均有一端包含则继续；步骤205：判断信号自检先后与并行顺序是否与物理特性需求相悖，若相悖则跳转至步骤202调整信号自检先后与并行顺序，若不相悖则继续；步骤206：从调整完毕的信号间关系生成自检逻辑。进一步地，所述生成自检逻辑包括：根据所述仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线在测试站内部建立空间关系；然后根据信号自检顺序将测试站内部以信号为索引建立时间关系，得到自检逻辑。进一步地，所述步骤2中生成动态适配器连线具体包括：步骤207：输入信号分层模块生成的分层信号；步骤208：利用适配器连线生成方法、适配器连线分布式变换方法，得到动态适配器连线；步骤209：判断动态适配器连线是否可以满足每个需要自检的信号均有适配器端口分配且适配器端口不会被同种信号同时使用，若不满足则人工修改动态适配器连线，若满足则结束。进一步地，所述步骤3具体包括：步骤301：输入自检逻辑与动态适配器连线，得到完整连线关系；步骤302：根据所述完整连线关系生成自检程序。进一步地，所述方法还包括步骤4：判断自检程序是否满足自检需求，若不满足则人工调整自检程序，若满足则结束。根据本专利技术的第二目的，本专利技术还提供了一种面向信号的自动测试系统自检程序开发装置，包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：基于ATML模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；步骤2：根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线；步骤3：根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序。

【技术特征摘要】
1.一种面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：基于ATML模型对信号进行分层，并根据分层后的信号确定测试站内端口的连接关系；步骤2：根据信号分层关系生成当前系统内资源的自检逻辑和动态适配器连线；步骤3：根据自检逻辑与动态适配器连线，生成自检程序。2.如权利要求1所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述步骤2还包括：分别判断自检逻辑是否合理以及动态适配器连线是否满足需求，当自检逻辑合理且动态适配器连线满足需求时，执行步骤3。3.如权利要求1所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述步骤1具体包括：步骤101：提取ATML模型中信号等所需信息；步骤102：将提取的所有信号进行分为三层，第一层分类依据是信号类型；第二层在第一层基础上继续分类，分类依据是信号种类；第三层在第二层基础上继续分类，分类依据是激励与测量信号；步骤103：判断分层后信号是否满足分类依据与实际需求，若不满足则返回步骤102人工修改分层信号，若满足则继续；步骤104：以信号为索引，利用已有的ATML模型，将连线关系从信号模型、仪器模型、测试站模型中提取并进行整体连接，打通测试站中仪器能力端口-仪器端口-测试站端口连线；步骤105：判断测试站内部连线是否满足需求，若不满足则返回步骤4根据需求增加连线关系，若满足则结束。4.如权利要求3所述的面向信号的自动测试系统自检程序开发方法，其特征在于，所述步骤2中生成自检逻辑具体包括：步骤201：输入信号分层模块生成的分层信号；步骤202：根据物理特性需求，给出第一层不同类型信号的自检顺序及可并行自检性，并同时给出在第一层同类型信号下，第二层不同种类信号的自检顺序及可并行自检性，经过整理得出所有信号的自检先后与并行顺序；步骤203：在第三层中分别连接同种类的激励与测量信号；步骤204：判断所述所有激励与测量信号的连接的两端是否包含需要自检的信号，若某一...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘硕，邱田华，刘毅，宋斌，吴波，郑艳梅，陈鹏飞，邹德军，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东,37