一种电子芯片质量检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电子芯片质量检测装置，包括机身与连接线，所述机身的外表面设置有防护外壳，且机身的前端面靠近右侧处嵌设有输入面板，所述输入面板的前端外表面平行等距设置有多个按键，所述机身的前端面靠近左下角拐角处设置有开关键，且机身的前端面位于开关键的一侧设置有检测按钮，所述机身的一端通过连接线连接有测试座，所述测试座上端面中间位置处开设有芯片放置槽。本实用新型专利技术所述的一种电子芯片质量检测装置，检测步骤简单，且检测结果精准，采用定向翻盖，避免芯片放置槽内的接触端子受损，采用槽孔，便于电子芯片的拿取，采用防护外外壳与防尘内衬的组合使用，实用性较强，带来更好的使用前景。

A Quality Detection Device for Electronic Chip

The utility model discloses an electronic chip quality detection device, which comprises a fuselage and a connecting line. The outer surface of the fuselage is provided with a protective shell, and an input panel is embedded near the right side of the fuselage. The front outer surface of the input panel is parallel and equidistant, and a plurality of keys are arranged. The front end face of the fuselage is near the lower left corner, and a switch key is arranged on the fuselage. A detection button is arranged on one side of the switch key at the front end. One end of the fuselage is connected with a test seat through a connecting wire, and a chip placement slot is arranged at the middle position of the upper end face of the test seat. The utility model relates to an electronic chip quality detection device, which has simple detection steps and accurate detection results. The directional flip cap is adopted to avoid the damage of contact terminals in the slot where the chip is placed. The slot hole is adopted to facilitate the acquisition of the electronic chip, and the combination of the protective outer shell and dust-proof inner lining is adopted, which has strong practicability and brings better application prospects.

【技术实现步骤摘要】
一种电子芯片质量检测装置
本技术涉及芯片检测装置领域，特别涉及一种电子芯片质量检测装置。
技术介绍
芯片检测装置是一款检测芯片的工具，通过键盘输入被检测芯片的型号，例如被检测芯片为74LS04，输入04即可，然后按下确定键，系统便可检测出该芯片；现有的芯片检测装置在使用时存在一定的弊端，检测座无翻盖设计，接触端子外露，容易受损导致无法检测，无槽孔设计，不便于电子芯片的拿取，给芯片检测装置的使用带来了一定的影响，为此，我们提出一种电子芯片质量检测装置。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种电子芯片质量检测装置，可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种电子芯片质量检测装置，包括机身与连接线，所述机身的外表面设置有防护外壳，且机身的前端面靠近右侧处嵌设有输入面板，所述输入面板的前端外表面平行等距设置有多个按键，所述机身的前端面靠近左下角拐角处设置有开关键，且机身的前端面位于开关键的一侧设置有检测按钮，所述机身的一端通过连接线连接有测试座，所述测试座上端面中间位置处开设有芯片放置槽，且测试座的上端面位于芯片放置槽的四角边沿处均开设有槽孔，所述测试座后端面活动安装有翻盖，且测试座与翻盖的连接处设置有定向轴，所述防护外壳的两外侧位于底端处焊接有防滑底座，且防护外壳的两侧靠近防滑底座处均开设有两个螺丝孔，所述防护外壳的内表面设置有防尘内衬，所述机身的后端面位于右侧处设置有散热扇，且机身的后端面位于左上角拐角处设置有电源接口，所述机身的后端面位于底端中间位置处设置有数据接口与检测接口，所述机身的内部设置有单片机，且机身的内部位于单片机的左侧分别设置有键盘输入模块与芯片检测模块，所述机身的内部位于单片机的右侧设置有显示模块，且机身的内部靠近单片机的下方一侧设置有电源模块。优选的，所述测试座通过连接线与机身电性连接，且测试座通过定向轴与翻盖活动连接。优选的，所述翻盖的内侧面位于顶端处固定安装有卡扣，所述测试座上开设有扣槽。优选的，所述芯片放置槽的底部平行等距设置有多个接触端子，且芯片放置槽的四周内壁上贴设有防护膜。优选的，所述机身的前端面位于检测按钮的上方两侧均设置有数字显示屏，且机身与防护外壳固定连接。优选的，所述电源接口为三孔插座，所述检测接口为圆形接口。与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：该电子芯片质量检测装置，与检测座组合使用，检测步骤简单，检测结果精准，且该检测座采用定向翻盖，不用时盖上翻盖，可保护芯片放置槽内的接触端子受损，保障其正常使用，槽孔的设计，便于电子芯片的拿取，给使用带来便利，防护外壳与防尘内衬的组合使用，既对设备起到防护作用，又起到防尘效果，实用性较强，整个装置结构简单，操作方便，使用的效果相对于传统方式更好。附图说明图1为本技术一种电子芯片质量检测装置的整体结构示意图；图2为本技术一种电子芯片质量检测装置的图1中机身的局部后视放大图；图3为本技术一种电子芯片质量检测装置的图1中防护外壳的局部放大视图；图4为本技术一种电子芯片质量检测装置的图1中测试座的局部放大视图。图5为本技术一种电子芯片质量检测装置的图1中机身的局部内部结构视图。图6为本技术一种电子芯片质量检测装置的检测原理图。图中：1、机身；2、检测按钮；3、输入面板；4、按键；5、开关键；6、防护外壳；7、连接线；8、测试座；9、电源接口；10、数据接口；11、检测接口；12、散热扇；13、螺丝孔；14、防滑底座；15、防尘内衬；16、翻盖；17、槽孔；18、定向轴；19、芯片放置槽；20、键盘输入模块；21、芯片检测模块；22、电源模块；23、单片机；24、显示模块。具体实施方式为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。如图1-6所示，一种电子芯片质量检测装置，包括机身1与连接线7，机身1的外表面设置有防护外壳6，且机身1的前端面靠近右侧处嵌设有输入面板3，输入面板3的前端外表面平行等距设置有多个按键4，机身1的前端面靠近左下角拐角处设置有开关键5，且机身1的前端面位于开关键5的一侧设置有检测按钮2，机身1的一端通过连接线7连接有测试座8，测试座8上端面中间位置处开设有芯片放置槽19，且测试座8的上端面位于芯片放置槽19的四角边沿处均开设有槽孔17，测试座8后端面活动安装有翻盖16，且测试座8与翻盖16的连接处设置有定向轴18，防护外壳6的两外侧位于底端处焊接有防滑底座14，且防护外壳6的两侧靠近防滑底座14处均开设有两个螺丝孔13，防护外壳6的内表面设置有防尘内衬15，机身1的后端面位于右侧处设置有散热扇12，且机身1的后端面位于左上角拐角处设置有电源接口9，机身1的后端面位于底端中间位置处设置有数据接口10与检测接口11，机身1的内部设置有单片机23，且机身1的内部位于单片机23的左侧分别设置有键盘输入模块20与芯片检测模块21，机身1的内部位于单片机23的右侧设置有显示模块24，且机身1的内部靠近单片机23的下方一侧设置有电源模块22；测试座8通过连接线7与机身1电性连接，且测试座8通过定向轴18与翻盖16活动连接；翻盖16的内侧面位于顶端处固定安装有卡扣，测试座8上开设有扣槽；芯片放置槽19的底部平行等距设置有多个接触端子，且芯片放置槽19的四周内壁上贴设有防护膜；机身1的前端面位于检测按钮2的上方两侧均设置有数字显示屏，且机身1与防护外壳6固定连接；电源接口9为三孔插座，检测接口11为圆形接口。需要说明的是，本技术为一种电子芯片质量检测装置，在使用时，将电源线插在机身1后端的电源接口9上，其次将测试座8上的连接线7插在机身1上的检测接口11上，按下开关键5此时检测设备处于待机状态，打开测试座8上的翻盖16，将需要检测的电子芯片放在芯片放置槽19内，在输入面板3上通过按键4输入电子芯片的型号后，按下检测按钮2，此时检测装置内部的键盘输入模块20将具体的电子芯片的型号信息传递给单片机23，单片机23的型号为AT89S52，作为核心控制器控制芯片检测模块21对电子芯片进行检测，并处理芯片检测模块21采集来的数据，通过真值表的比较判断被测芯片的好坏，最后通过显示模块24将被测电子芯片的好坏以逻辑符号的形式显示在数字显示屏上，完成检测作业，防护外壳6对机身1起到防护作用，避免外界对测试装置的破坏，散热扇12对机身1内部件的运行起到散热作用，延长检测设备的使用寿命，槽孔17的设计，便于检测芯片的拿取，给使用带来便利，定向轴18对翻盖16的开启起到定位作用，防尘内衬15设置于防护外壳6的内表面，可有效防止机身1内部进入灰尘，防滑底座14对整个检测设备起到支撑作用，较为实用。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下，本技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子芯片质量检测装置，包括机身(1)与连接线(7)，其特征在于：所述机身(1)的外表面设置有防护外壳(6)，且机身(1)的前端面靠近右侧处嵌设有输入面板(3)，所述输入面板(3)的前端外表面平行等距设置有多个按键(4)，所述机身(1)的前端面靠近左下角拐角处设置有开关键(5)，且机身(1)的前端面位于开关键(5)的一侧设置有检测按钮(2)，所述机身(1)的一端通过连接线(7)连接有测试座(8)，所述测试座(8)上端面中间位置处开设有芯片放置槽(19)，且测试座(8)的上端面位于芯片放置槽(19)的四角边沿处均开设有槽孔(17)，所述测试座(8)后端面活动安装有翻盖(16)，且测试座(8)与翻盖(16)的连接处设置有定向轴(18)，所述防护外壳(6)的两外侧位于底端处焊接有防滑底座(14)，且防护外壳(6)的两侧靠近防滑底座(14)处均开设有两个螺丝孔(13)，所述防护外壳(6)的内表面设置有防尘内衬(15)，所述机身(1)的后端面位于右侧处设置有散热扇(12)，且机身(1)的后端面位于左上角拐角处设置有电源接口(9)，所述机身(1)的后端面位于底端中间位置处设置有数据接口(10)与检测接口(11)，所述机身(1)的内部设置有单片机(23)，且机身(1)的内部位于单片机(23)的左侧分别设置有键盘输入模块(20)与芯片检测模块(21)，所述机身(1)的内部位于单片机(23)的右侧设置有显示模块(24)，且机身(1)的内部靠近单片机(23)的下方一侧设置有电源模块(22)。...

【技术特征摘要】
1.一种电子芯片质量检测装置，包括机身(1)与连接线(7)，其特征在于：所述机身(1)的外表面设置有防护外壳(6)，且机身(1)的前端面靠近右侧处嵌设有输入面板(3)，所述输入面板(3)的前端外表面平行等距设置有多个按键(4)，所述机身(1)的前端面靠近左下角拐角处设置有开关键(5)，且机身(1)的前端面位于开关键(5)的一侧设置有检测按钮(2)，所述机身(1)的一端通过连接线(7)连接有测试座(8)，所述测试座(8)上端面中间位置处开设有芯片放置槽(19)，且测试座(8)的上端面位于芯片放置槽(19)的四角边沿处均开设有槽孔(17)，所述测试座(8)后端面活动安装有翻盖(16)，且测试座(8)与翻盖(16)的连接处设置有定向轴(18)，所述防护外壳(6)的两外侧位于底端处焊接有防滑底座(14)，且防护外壳(6)的两侧靠近防滑底座(14)处均开设有两个螺丝孔(13)，所述防护外壳(6)的内表面设置有防尘内衬(15)，所述机身(1)的后端面位于右侧处设置有散热扇(12)，且机身(1)的后端面位于左上角拐角处设置有电源接口(9)，所述机身(1)的后端面位于底端中间位置处设置有数据接口(10)与检测接口(11)，所述机身(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘海媚，
申请(专利权)人：深圳亚瑟科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44