【技术实现步骤摘要】
一种最优H矩阵生成方法及装置
本专利技术涉及数据处理
,具体涉及一种最优H矩阵生成方法及装置。
技术介绍
数据流在写入某些存储设备(如RAM,eDRAM等),并且从存储设备读出的过程中,其中的数据位可能发生错误,此时需要纠错码ECC(ErrorCheckingCorrection)技术来检测并纠正数据位错误,汉明码作为一种ECC纠错编码,是广泛地应用于通信和计算机存储系统的纠检错控制中。目前最主流的汉明校验是指纠正单个错误并且检查两个错误的SEC-DED码(single-error-correctinganddouble-error-detecting)。高端的工作站或者服务器中都会采用汉明纠检错模块来保证数据的正确性,从而提升整机的稳定性。在实现汉明码纠检错误的过程中,需要通过H矩阵(也叫做监督矩阵,)作为指导来针对待校验数据生成汉明校验码、综合位以及翻转位,最后通过这些信息进行纠错或者检错的功能,也就是说,影响汉明纠检错误性能最关键的因素是H矩阵的生成规则和选取策略。对最优H矩阵的选取主要需要考虑如下三个问题:第一,最基本的是需要H矩阵对于传输的数据支持 ...
【技术保护点】
1.一种最优H矩阵生成方法,其特征在于,包括:根据预设约束条件构建n*n基础矩阵;以所述基础矩阵的每一行向量为单位进行循环移位,生成(n‑1)个扩展矩阵;根据所述基础矩阵及扩展矩阵生成目标H矩阵。
【技术特征摘要】
1.一种最优H矩阵生成方法,其特征在于,包括:根据预设约束条件构建n*n基础矩阵;以所述基础矩阵的每一行向量为单位进行循环移位,生成(n-1)个扩展矩阵;根据所述基础矩阵及扩展矩阵生成目标H矩阵。2.根据权利要求1所述的最优H矩阵生成方法,其特征在于,所述预设约束条件包括:所述基础矩阵的每列中有奇数个1;所述基础矩阵中的任意两列都不相同;所述基础矩阵的校验位所在的列仅有一个1。3.根据权利要求1所述的最优H矩阵生成方法,其特征在于,所述以所述基础矩阵的每一行向量为单位进行循环移位,包括;依次将第n行行向量移位至第1行,其余行向量向下移位;将每次移位构成一个所述扩展矩阵,直至第1行行向量移至最后一行,构成第(n-1)个行向量。4.根据权利要求1所述的最优H矩阵生成方法,其特征在于,所述根据所述基础矩阵及扩展矩阵生成目标H矩阵,包括:将所述基础矩阵、第1个至第(n-1)个扩展矩阵的第n行行向量依次堆叠,构成所述目标H矩阵的第n行行向量,生成所述目标H矩阵。5.一种最优H矩阵生成装置,其特征在于,包括:基础矩阵构建模块,用于根据预设约束条件构建n*n基础矩阵;扩展矩阵生成模块,用于以所述基础矩阵的每一行向量为单位进行循环移位,生成(n-1)个扩展矩阵;目标矩阵生成模块,用...
【专利技术属性】
技术研发人员:张兴革,冯春阳,刘刚,彭琅,黄晶,王俊杰,王鹿,邹孝杰,
申请(专利权)人:苏州中晟宏芯信息科技有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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