检测精度可调的电流测试电路制造技术

本发明专利技术公开了一种电流检测精度可调的电路，包括：可编程控制器、电流精度控制电路及运算放大电路，其中，电流精度控制电路包括放大倍数控制电路和电流采样电路。放大倍数控制电路的第一端与可编程控制器的IO接口连接，其第二端与运算放大电路的第一输入端连接。电流采样电路的第一端与可编程控制器的IO接口连接，其第二端与运算放大电路的第二输入端连接。运算放大电路的输出端与可编程控制器的AD转换接口连接。本发明专利技术的有益效果：电流检测精度可调，检测精度高；可对摄像头模组在工作状态、待机状态及掉电状态时进行切换测试，且切换灵活；结构简单，电流检测范围宽，且检测效率高。

Current Test Circuit with Adjustable Detection Accuracy

【技术实现步骤摘要】
检测精度可调的电流测试电路
本专利技术涉及手机摄像头模组电流检测的
，特别涉及一种检测精度可调的电流测试电路。
技术介绍
手机属于移动设备，使用电池进行供电，对功耗的要求非常苛刻，手机内部器件工作时的电流大小直接影响着功耗及电池使用的时长，因此，在手机摄像头模组的测试中，需要对摄像头模组的工作状态、待机状态、掉电状态的电流进行测试。目前，关于手机摄像头模组电流检测电路的检测精度不高、无法满足对摄像头模组在工作状态、待机状态及掉电状态的电流进行精确测试，且不能灵活切换测试电路，以对摄像头模组在工作状态、待机状态及掉电状态时进行测试。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本专利技术的主要目的是提供一种检测精度可调的电流测试电路，旨在解决现有的手机摄像头模组电流检测电路的检测精度不高，且不能灵活切换的问题。为实现上述目的，本专利技术提出的检测精度可调的电流测试电路，包括：可编程控制器、电流精度控制电路及运算放大电路，其中，电流精度控制电路包括放大倍数控制电路和电流采样电路。放大倍数控制电路的第一端与可编程控制器的IO接口连接，其第二端与运算放大电路的第一输入端连接。电流采样电路的第一端与可编程控制器的IO接口连接，其第二端与运算放大电路的第二输入端连接。运算放大电路的输出端与可编程控制器的AD转换接口连接。放大倍数控制电路包括：第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3。第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的漏极互连，第一MOS管Q1的源极与第一电阻R1的第一端连接，第二MOS管Q2的源极与第二电阻R2的第一端连接，第三MOS管Q3的源极与第三电阻R3的第一端连接，第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3的第二端互连。第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的栅极均与可编程控制的IO接口连接。运算放大电路包括：第一运算放大器U1、第二运算放大器U2及第三运算放大器U3。第一运算放大器U1的反向端与第一MOS管Q1的漏极、第二MOS管Q2的漏极、第三MOS管Q3的漏极及第四电阻R4的第一端连接。第一运算放大器U1的同向端与电流采样电路连接。第一运算放大器U1的输出端与第四电阻R4的第二端及第五电阻R5的第一端连接。第二运算放大器U2的反向端与第一电阻R1的第二端、第二电阻R2的第二端、第三电阻R3的第二端及第六电阻R6的第一端连接。第二运算放大器U2的同向端与电流采样电路连接。第二运算放大器U2的输出端与第六电阻R6的第二端及第八电阻R8的第一端连接。第三运算放大器U3的反向端与第五电阻R5的第二端及第九电阻R9的第一端连接。第三运算放大器U3的同向端与第八电阻R8的第二端及第十电阻R10的第一端连接，第十电阻R10的第二端接地。第三运算放大器U3的输出端与第九电阻R9的第二端及可编程控制器的AD转换接口连接。电流采样电路包括：第四MOS管Q4、第五MOS管Q5、第六MOS管Q6、第七MOS管Q7、第八MOS管Q8及第九MOS管Q9。第四MOS管Q4、第五MOS管Q5及第六MOS管Q6的漏极互连并与待测摄像头模组的供电电源连接。第四MOS管Q4的源极与第七MOS管Q7的漏极及第十一电阻R11的第一端连接，第五MOS管Q5的源极与第八MOS管Q8的漏极及第十二电阻R12的第一端连接，第六MOS管Q6的源极与第九MOS管Q9的漏极及第十三电阻R13的第一端连接，第十一电阻R11、第十二电阻R12及第十三电阻R13的第二端均与第二运算放大器U2的同向端连接。第四MOS管Q4的栅极与第七MOS管Q7的栅极互连，并与可编程控制器的IO接口连接。第五MOS管Q5的栅极与第八MOS管Q8的栅极互连，并与可编程控制器的IO接口连接。第六MOS管Q6的栅极与第九MOS管Q9的栅极互连，并与可编程控制器的IO接口连接。第七MOS管Q7、第八MOS管Q8及第九MOS管Q9的源极互连，并与第一运算放大器U1的同向端连接。优选地，第一运算放大器U1的同向端与第二运算放大器U2的同向端之间依次串连接有第一电容C1及第七电阻R7。优选地，第一运算放大器U1的同向端连接有第一二极管D1和第二二极管D2，第一二极管D1与第二二极管D2的正向端互连，且第一二极管D1的反向端接外部的限幅电压，第二二极管D2的反向端接地。第二运算放大器U2的同向端连接有第三二极管D3和第四二极管D4，第三二极管D3与第四二极管D4的正向端互连，且第三二极管D3的反向端接外部的限幅电压，第四二极管D4的反向端接地。优选地，可编程控制器为单片机。与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：电流检测精度可调，检测精度高；可对摄像头模组在工作状态、待机状态及掉电状态时进行切换测试，且切换灵活；结构简单，电流检测范围宽，且检测效率高。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本专利技术检测精度可调的电流测试电路一实施例的工作原理图；图2为本专利技术一实施例中放大倍数控制电路与运算放大电路的连接结构图；图3为本专利技术一实施例中电流采样电路的工作原理图；图4为本专利技术一实施例中两MOS管组成的一组MOS管开关的工作原理示意图；本专利技术目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式本专利技术提出一种检测精度可调的电流测试电路。参照图1-3，图1为本专利技术检测精度可调的电流测试电路一实施例的工作原理图，图2为本专利技术一实施例中放大倍数控制电路与运算放大电路的连接结构图，图3为本专利技术一实施例中电流采样电路的工作原理图。如图1所示，在本专利技术实施例中，该检测精度可调的电流测试电路，包括：可编程控制器100、电流精度控制电路及运算放大电路400，其中，电流精度控制电路包括放大倍数控制电路200和电流采样电路300。放大倍数控制电路200的第一端与可编程控制器100的IO接口连接，其第二端与运算放大电路400的第一输入端连接。电流采样电路300的第一端与可编程控制器100的IO接口连接，其第二端与运算放大电路400的第二输入端连接。运算放大电路400的输出端与可编程控制器100的AD转换接口连接。如图2所示，放大倍数控制电路200包括：第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3。第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的漏极互连，第一MOS管Q1的源极与第一电阻R1的第一端连接，第二MOS管Q2的源极与第二电阻R2的第一端连接，第三MOS管Q3的源极与第三电阻R3的第一端连接，第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3的第二端互连。第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的栅极均与可编程控制的IO接口连接。其中，第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3的阻值不同，组成阻值不同的三个比例电阻，用于控制所述运算放大电路400的放大倍数。工作时，可根据要测试的电流档位不同，通过可编程控制器100控制对应MOS管的导通，并选择对应的比例电阻，从而实现对待测电流放大倍数的控制。如图2所示，运算放本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测精度可调的电流测试电路，其特征在于，包括：可编程控制器、电流精度控制电路及运算放大电路，其中，所述电流精度控制电路包括放大倍数控制电路和电流采样电路；所述放大倍数控制电路的第一端与所述可编程控制器的IO接口连接，其第二端与所述运算放大电路的第一输入端连接；所述电流采样电路的第一端与所述可编程控制器的IO接口连接，其第二端与所述运算放大电路的第二输入端连接；所述运算放大电路的输出端与所述可编程控制器的AD转换接口连接；所述放大倍数控制电路包括：第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3；所述第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的漏极互连，所述第一MOS管Q1的源极与第一电阻R1的第一端连接，所述第二MOS管Q2的源极与第二电阻R2的第一端连接，所述第三MOS管Q3的源极与第三电阻R3的第一端连接，所述第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3的第二端互连；所述第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的栅极均与所述可编程控制的IO接口连接；所述运算放大电路包括：第一运算放大器U1、第二运算放大器U2及第三运算放大器U3；所述第一运算放大器U1的反向端与所述第一MOS管Q1的漏极、第二MOS管Q2的漏极、第三MOS管Q3的漏极及第四电阻R4的第一端连接；所述第一运算放大器U1的同向端与所述电流采样电路连接；所述第一运算放大器U1的输出端与第四电阻R4的第二端及第五电阻R5的第一端连接；所述第二运算放大器U2的反向端与所述第一电阻R1的第二端、第二电阻R2的第二端、第三电阻R3的第二端及第六电阻R6的第一端连接；所述第二运算放大器U2的同向端与所述电流采样电路连接；所述第二运算放大器U2的输出端与第六电阻R6的第二端及第八电阻R8的第一端连接；所述第三运算放大器U3的反向端与第五电阻R5的第二端及第九电阻R9的第一端连接；所述第三运算放大器U3的同向端与第八电阻R8的第二端及第十电阻R10的第一端连接，所述第十电阻R10的第二端接地；所述第三运算放大器U3的输出端与所述第九电阻R9的第二端及可编程控制器的AD转换接口连接；所述电流采样电路包括：第四MOS管Q4、第五MOS管Q5、第六MOS管Q6、第七MOS管Q7、第八MOS管Q8及第九MOS管Q9；所述第四MOS管Q4、第五MOS管Q5及第六MOS管Q6的漏极互连并与待测摄像头模组的供电电源连接；所述第四MOS管Q4的源极与第七MOS管Q7的漏极及第十一电阻R11的第一端连接，所述第五MOS管Q5的源极与第八MOS管Q8的漏极及第十二电阻R12的第一端连接，所述第六MOS管Q6的源极与第九MOS管Q9的漏极及第十三电阻R13的第一端连接，所述第十一电阻R11、第十二电阻R12及第十三电阻R13的第二端均与所述第二运算放大器U2同向端连接；所述第四MOS管Q4的栅极与所述第七MOS管Q7的栅极互连，并与所述可编程控制器的IO接口连接；所述第五MOS管Q5的栅极与所述第八MOS管Q8的栅极互连，并与所述可编程控制器的IO接口连接；所述第六MOS管Q6的栅极与所述第九MOS管Q9的栅极互连，并与所述可编程控制器的IO接口连接；所述第七MOS管Q7、第八MOS管Q8及第九MOS管Q9的源极互连，并与所述第一运算放大器U1同向端连接。...

【技术特征摘要】
1.一种检测精度可调的电流测试电路，其特征在于，包括：可编程控制器、电流精度控制电路及运算放大电路，其中，所述电流精度控制电路包括放大倍数控制电路和电流采样电路；所述放大倍数控制电路的第一端与所述可编程控制器的IO接口连接，其第二端与所述运算放大电路的第一输入端连接；所述电流采样电路的第一端与所述可编程控制器的IO接口连接，其第二端与所述运算放大电路的第二输入端连接；所述运算放大电路的输出端与所述可编程控制器的AD转换接口连接；所述放大倍数控制电路包括：第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3；所述第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的漏极互连，所述第一MOS管Q1的源极与第一电阻R1的第一端连接，所述第二MOS管Q2的源极与第二电阻R2的第一端连接，所述第三MOS管Q3的源极与第三电阻R3的第一端连接，所述第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3的第二端互连；所述第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的栅极均与所述可编程控制的IO接口连接；所述运算放大电路包括：第一运算放大器U1、第二运算放大器U2及第三运算放大器U3；所述第一运算放大器U1的反向端与所述第一MOS管Q1的漏极、第二MOS管Q2的漏极、第三MOS管Q3的漏极及第四电阻R4的第一端连接；所述第一运算放大器U1的同向端与所述电流采样电路连接；所述第一运算放大器U1的输出端与第四电阻R4的第二端及第五电阻R5的第一端连接；所述第二运算放大器U2的反向端与所述第一电阻R1的第二端、第二电阻R2的第二端、第三电阻R3的第二端及第六电阻R6的第一端连接；所述第二运算放大器U2的同向端与所述电流采样电路连接；所述第二运算放大器U2的输出端与第六电阻R6的第二端及第八电阻R8的第一端连接；所述第三运算放大器U3的反向端与第五电阻R5的第二端及第九电阻R9的第一端连接；所述第三运算放大器U3的同向端与第八电阻R8的第二端及第十电阻R10的第一端连接，所述第十电阻R10的第二端接地；所述第三运算放大器U3的输出端与所述第九...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋思远，
申请(专利权)人：深圳市度信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44