透射比标准量具、透射比测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种透射比标准量具及透射比测量装置，该透射比标准量具包括：一固定件和一个或多个遮光体，所述遮光体为扇形结构；所述遮光体设置在所述固定件上，通过旋转所述遮光体将接收的连续光调制成相应频率的光，根据所述调制的相应频率的光计算透射比及不确定度。通过在固定件上相间设置至少一个超精密加工的遮光体，设定遮光体的占比提高透射比的测量上限，大幅提升了透射比测量装置的透射比量值校准时的测量范围，同时大幅减小透射比测量装置透射比量值的测量结果不确定度，大幅提升了透射比测量装置透射比分辨率的校准能力。

Transmittance Standard Measuring Instrument and Transmittance Measuring Device

【技术实现步骤摘要】
透射比标准量具、透射比测量装置
本专利技术涉及光学计量
，尤其涉及一种透射比标准量具及透射比测量装置。
技术介绍
透射比是光学计量
非常重要的光学参数，是评价光学性能的重要参数，常应用于光学元件、光学薄膜、能见度测量仪上。随着科学技术的不断进步与发展，激光技术和光学薄膜技术得到迅速的发展，对光学元件的透射比要求越来越高。常见测量光学元件透射比的方法是采用分光光度法进行测量，分光光度法是在特定波长处或一定波长范围内光的透射比，对该物质进行定性或定量分析。分光光度计是光学计量
常用于测量光学元件等介质光谱透射比的装置。随着对光学元件的透射比要求越来越高，对类似透射比测量仪器的高透射比参数进行高准确度定标和实时校准也提出更高的要求。目前采用透射比较高的滤光片来校准和/或测量分光光度计或透射比测量仪或能见度测量仪的透射比量值，因滤光片材料和表面反射的局限性，对于透射比大于0.970的高透射比测量缺乏有效手段来进行和保证高透射比这项参数测量的准确度或/和小的测量结果不确定度。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种透射比标准量具及透射比测量装置，用于解决现有技术中高透射比量值测量结果不确定度大的问题。本专利技术实施例提供一种透射比标准量具，包括：一固定件和一个或多个遮光体，所述遮光体为扇形结构；所述遮光体设置在所述固定件上，通过旋转所述遮光体将接收的连续光调制成相应频率的光，根据所述调制的相应频率的光计算透射比及不确定度。较佳地，所述遮光体为中心对称的扇形结构，通过遮光体中心点固定在所述固定件上。优选地，所述滤光为体椭圆锥体或菱形锥体或梯形锥体，相间设置在所述固定体上，所述遮光体的最大有效遮光面积与最小有效遮光面积不相等。优选地，所述遮光体的有效遮光面积由所述遮光体的面积与所述标准量具面积的占比计算所得，或根据所述遮光体的扇形圆心角占比计算所得。优选地，当所述遮光体的有效遮光面积为最大有效遮光面积时，所述透射比标准量具可测量的透射比为第一透射比。优选地，当所述遮光体的有效遮光面积为最小有效遮光面积时，所述透射比标准量具可测量的透射比为第二透射比。优选地，当所述遮光体与空气相间设置时，所述遮光体的有效遮光面积占比越小，所述透射比标准量具可测量的透射比越高。优选地，本专利技术实施例还提供一种透射比测量装置，包括：光源发射器，设置在遮光器的前方，用于发射连续光；遮光器，所述遮光器上述任一标准量具；光电探测器，设置在遮光器的后侧，用于接收遮光器调制后相应频率的光以输出光电信号；信号处理器，所述信号处理器基于所述光电探测器输出的光电信号计算透射比和/或能见度及其测量结果不确定度。优选地，所述装置还包括：光电探测器，设置在所述遮光器的后侧，用于接收透过所述遮光器的脉冲光能量以输出光电信号，所述信号处理器基于所述光电信号计算透射比和/或能见度。优选地，所述光源发射器可以为可见光发射器，也可以为紫外辐射发射器或红外辐射发射器。本专利技术有益效果：本专利技术实施例提供的透射比标准量具及透射比测量装置，通过在固定件上相间设置至少一个扇形遮光体，通过调节遮光体的有效遮光面积占比提高透射比的测量上限，大幅提升了透射比测量装置的测量范围，同时大幅减小透射比的测量不确定度，大幅提升了透射比分辨率的校准能力，并在透射比需求不同的应用场景下，通过旋转遮光体改变有效遮光面积，即可实现测量不同透射比的需求。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1为本专利技术实施例提供的一种透射比标准量具的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的又一种透射比标准量具的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的另一种透射比标准量具的结构示意图；图3a为本专利技术实施例提供的一种透射比标准量具的遮光体的横截面示意图；图3b为本专利技术实施例提供的一种透射比标准量具的又一遮光体的横截面示意图；图4a为本专利技术实施例提供的一种透射比标准量具的遮光体的横截面示意图；图4b为本专利技术实施例提供的一种透射比标准量具的又一遮光体的横截面示意图；图5为本专利技术实施例提供一种透射比测量装置的结构示意图。具体实施方式本专利技术实施例提供的一种透射比标准量具及透射比测量装置，用于解决现有技术中透射比测量装置的高透射比量值无法校准，透射比测量不确定度大的问题。以下结合说明书附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术，并且在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。本专利技术实施例一提供的一种透射比标准量具的结构示意图。本专利技术实施例一提供的透射比标准量具，以便提升透射比的测量范围，以及减小透射比量值测量结果不确定度。该透射比标准量具包括：一固定件和一个或多个遮光体，所述遮光体为扇形结构；所述遮光体设置在所述固定件上，通过旋转所述遮光体将接收的连续光调制成相应频率的光，根据所述调制的相应频率的光计算透射比及其测量结果不确定度。本专利技术实施例中，透射比标准量具可以仅包括一个遮光体，如图1所示，图1为本专利技术实施例提供的一种透射比标准量具的遮光体的结构示意图，该遮光体为扇形结构的遮光体。当然，本专利技术实施例中，透射比标准量具也可以包括多个遮光体，如图2所示，透射比标准量具的遮光体为两个扇形结构，通过遮光体中心点对称固定在固定件上。如图3所示，本专利技术实施例中，另一种标准量具的结构示意图，该标准量具包括固定件和3个扇形结构的遮光体。进一步地，本专利技术实施例中，透射比标准量具的遮光体也为锥体，该锥体从外围向圆心逐渐由粗变细。可选地，本专利技术实施例中，该标准量具的遮光体可以为梯形锥体，该遮光体的横截面为梯形，如图3a所示。可选地，本专利技术实施例中，该标准量具的遮光体为矩形锥体，该遮光体的横截面为矩形，如图3b所示。锥体锥体优选地，如图4a所示，透射比标准量具的遮光体为椭圆锥体结构的遮光体，该标准量具的遮光体的横截面为椭圆形，所述椭圆锥体遮光体从外围向圆心逐渐由粗变细；如图4b所示，透射比标准量具的遮光体为菱形锥体结构的遮光体，该标准量具的遮光体的横截面为菱形，该菱形锥体遮光体从外围向圆心逐渐由粗变细。若透射比标准量具包括多个遮光体，则可以相间设置在固定体上，其中，透射比标准量具的遮光体的最大有效遮光面积与最小有效遮光面积不相等，即最大有效遮光面积大于最小有效遮光面积。可选的，本专利技术实施例中，透射比标准量具的遮光体的有效遮光面积由遮光体和标准量具的占比计算所得，或者，若透射比标准量具的遮光体为扇形遮光体，则透射比标准量具的遮光体的有效遮光面积可以由遮光体的扇形圆心角占比计算所得。较佳的，本专利技术实施例中，当遮光体为椭圆锥体或菱形锥体，该遮光体横截面的长轴/长对角线与连续光垂直时为最大有效遮光面积，该遮光体横截面的短轴/短对角线与连续光垂直时为最小有效遮光面积。当遮光体的有效遮光面积为最大有效遮光面积时，该透射比标准量具可用于测量的透射比为第一透射比；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种透射比标准量具，其特征在于，包括：一固定件和一个或多个遮光体，所述遮光体为扇形结构；所述遮光体设置在所述固定件上，通过旋转所述遮光体将接收的连续光调制成相应频率的光，根据所述调制的相应频率的光计算透射比和/或能见度及其测量结果的不确定度。

【技术特征摘要】
1.一种透射比标准量具，其特征在于，包括：一固定件和一个或多个遮光体，所述遮光体为扇形结构；所述遮光体设置在所述固定件上，通过旋转所述遮光体将接收的连续光调制成相应频率的光，根据所述调制的相应频率的光计算透射比和/或能见度及其测量结果的不确定度。2.根据权利要求1所述的标准量具，其特征在于，所述遮光体为中心对称的扇形结构，通过遮光体中心点固定在所述固定件上。3.根据权利要求1所述的标准量具，其特征在于，所述遮光体为椭圆锥体或菱形锥体或梯形锥体，相间设置在所述固定体上，所述遮光体的最大有效遮光面积与最小有效遮光面积不相等。4.根据权利要求3所述的标准量具，其特征在于，所述遮光体的有效遮光面积由所述遮光体与所述标准量具的占比计算所得，或根据所述遮光体的扇形圆心角占比计算所得。5.根据权利要求4所述的标准量具，其特征在于，当所述遮光体的有效遮光面积为最大有效遮光面积时，所述透射比标准量具可测量的透射比为第一透射比。6.根据权利要求5所述的标准量具，其特征在于，当...

【专利技术属性】
技术研发人员：李奕，林延东，张帆，孙若端，徐楠，张晓颖，毕磊，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，陕西省计量科学研究院，江苏省计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11