一种强抗干扰单键触摸检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种强抗干扰单键触摸检测电路，包括主芯片，在主芯片内设有依次连接的振荡器、数字处理器模块和结果输出模块，所述振荡器连接有位于主芯片外部的芯片外部触摸点电容C1，所述振荡器还连接有位于主芯片内部的芯片内部参考电容C2；通过利用本实用新型专利技术来实现的抗干扰技术，引入芯片内部参考电容C2，用于检测内部噪声，先检测触摸点电容的变化值，再检测一个内部电容的变化值，用内部电容变化值补偿触摸点电容变化值，再判断是否为有效触摸；在实际产品应用中，完全抑制了电源电压波动噪声和温度变化噪声，改善了系统对噪声的敏感性，使得单键触摸检测技术应用到更多的领域。

A Strong Anti-interference Single-key Touch Detection Circuit

【技术实现步骤摘要】
一种强抗干扰单键触摸检测电路
本技术涉及抗干扰
，具体是一种强抗干扰单键触摸检测电路。
技术介绍
当前单键触摸检测技术，主要应用于台灯、小家电、家装开关等领域，取代传统的机械开关。单键触摸检测的基本原理是系统检测触摸点的电容值大小，通过电容值变化判断是否触摸有效。系统对触摸点进行电容值检测时，通常受到噪声干扰，影响检测结果。干扰噪声通常有电源电压波动噪声、温度变化噪声、以及外部噪声等。这些噪声的存在，极大的影响了触摸检测结果的准确性，限制了触摸技术的推广和应用。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种强抗干扰单键触摸检测电路，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种强抗干扰单键触摸检测电路，包括主芯片，在主芯片内设有依次连接的振荡器、数字处理器模块和结果输出模块，所述振荡器连接有位于主芯片外部的芯片外部触摸点电容C1，所述振荡器还连接有位于主芯片内部的芯片内部参考电容C2；所述外部触摸点电容C1和芯片内部参考电容C2另一端均连接接地线路；所述芯片内部参考电容C2的寄生电容值范围为1pF~30pF；所述振荡器型号为SG-8018，其频率输出范围在0.67MHz-170MHz。作为本技术进一步的方案：所述主芯片内设置双振荡器，两个振荡器（可以是同一个）分别与数字处理器模块相连接，且外部触摸点电容C1和芯片内部参考电容C2分别连接不同的振荡器(也可以是相同的振荡器)。与现有技术相比，本技术的有益效果是：通过利用本专利技术来实现的抗干扰技术，引入芯片内部参考电容C2，用于检测内部噪声，使用时先检测触摸点电容的变化值，再检测一个内部电容的变化值，用内部电容变化值补偿触摸点电容变化值，再判断是否为有效触摸；在实际产品应用中，完全抑制了电源电压波动噪声和温度变化噪声，改善了系统对噪声的敏感性，使得单键触摸检测技术应用到更多的领域。附图说明图1为本技术的连接示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。实施例1：请参阅图1，一种强抗干扰单键触摸检测电路，包括主芯片，在主芯片内设有依次连接的振荡器、数字处理器模块和结果输出模块，所述振荡器连接有位于主芯片外部的芯片，所述振荡器还连接有位于主芯片内部的芯片内部参考电容C2；所述外部触摸点电容C1和芯片内部参考电容C2另一端均连接接地线路；所述芯片内部参考电容C2的寄生电容值范围为1pF~30pF；所述振荡器型号为SG-8018，其频率输出范围在0.67MHz-170MHz。常规单键触摸检测原理是，振荡器用恒定电流给芯片外部触摸点电容C1充电放电，产生时钟，时钟的频率大小和芯片外部触摸点电容C1成反比，当有人体触碰触摸点，芯片外部触摸点电容C1电容值会变大，从而时钟频率会变小；当频率变化量达到一定量值时，数字处理器模块判定触摸有效。然而，当有噪声干扰时，芯片外部触摸点电容C1电容值没有变化，而时钟频率却产生了变化，比如电源电压变化、温度变化，引起恒定电流变化，从而产生时钟频率变化，此时数字处理器判定结果会出错。而在本设计中，由于增加了芯片内部参考电容C2，芯片外部触摸点电容C1大小和芯片内部参考电容C2相当。触摸检测判断时，芯片内部参考电容C2和芯片外部触摸点电容C1交叉检测，即芯片内部参考电容C2形成一个时钟频率，芯片外部触摸点电容C1形成一个时钟频率。芯片内部参考电容C2电容值大小不受外界干扰，当芯片内部参考电容C2产生的时钟频率大小变化时，即可判断内部有噪声干扰，此时，有两种处理办法：1）禁止触摸有效，2）将芯片外部触摸点电容C1检测到的时钟变化值减去芯片内部参考电容C2时钟的变化值，再判断触摸是否有效；此种方法能够有效去除内部噪声干扰。实施例2：与实施例1的区别在于，在主芯片内设置双振荡器，两个振荡器分别与数字处理器模块相连接，且外部触摸点电容C1和芯片内部参考电容C2分别连接不同的振荡器，这样就能使测试电容与比较电容进行同步判断，提高同步率。对于本领域技术人员而言，显然本技术不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本技术。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种强抗干扰单键触摸检测电路，包括主芯片，在主芯片内设有依次连接的振荡器、数字处理器模块和结果输出模块，所述振荡器连接有位于主芯片外部的芯片外部触摸点电容C1，其特征在于，所述振荡器还连接有位于主芯片内部的芯片内部参考电容C2。

【技术特征摘要】
1.一种强抗干扰单键触摸检测电路，包括主芯片，在主芯片内设有依次连接的振荡器、数字处理器模块和结果输出模块，所述振荡器连接有位于主芯片外部的芯片外部触摸点电容C1，其特征在于，所述振荡器还连接有位于主芯片内部的芯片内部参考电容C2。2.根据权利要求1所述的一种强抗干扰单键触摸检测电路，其特征在于，所述外部触摸点电容C1和芯片内部参考电容C2另一端均连接接地线路。3.根据权利要求1所述的一种强抗干扰单键触摸检测电路，其特征在于，所述芯片内部参考电容...

【专利技术属性】
技术研发人员：白云亮，
申请(专利权)人：深圳市力上科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44