一种用于气固流化环境的新型采样装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于气固流化环境的新型采样装置。所述气固环境的采样装置包括采样装置、校正装置、密封装置、定位装置和测量装置。所述采样装置由信号接口、手柄、采样杆构成。所述校正装置由校正圈、校正探针构成。所述密封装置是密封胶塞。所述定位装置是定位圈。所述测量装置由测量筒盖和测量筒构成，测量筒采用透明玻璃材料并标记刻度，初始刻度为零刻度，刻度由测量筒盖向测量筒底部增大。采样装置的手柄下方设有校正圈，校正圈上设有两枚校正探针，校正探针垂直于校正圈端面安装。测量筒上方设有测量筒盖，测量筒盖与采样杆之间通过密封胶塞固定。采样杆上设有定位圈，调整定位圈初始位置使右端面对应测量筒的零刻度线。

【技术实现步骤摘要】
一种用于气固流化环境的新型采样装置
本技术涉及一种采样装置，特别涉及一种用于气固流化环境的新型采样装置。
技术介绍
在化工生产和气固流态化实验研究的过程中，我们通常需要检测不同高度截面、不同半径截面的颗粒浓度及颗粒速度，以便对设备中不同空间点的流场进行分析，以及研究颗粒的运行轨迹等。在实验过程中，需要使用光纤探头伸入设备进行采样来完成颗粒速度及颗粒浓度的检测，但在检测过程中无法准确地控制采样杆伸入被测设备的深度，导致获取的某一截面的颗粒浓度和颗粒速度不精确，从而影响了实验结果的可靠性。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术提供了一种用于气固流化环境的新型采样装置，采样装置带有密封胶塞，使采样杆和测量筒盖更好地贴合，使采样杆在伸缩过程中保持水平。测量筒采用透明材料制作，并在其表面标记刻度，在实验过程中水平移动采样杆时可通过固定在采样杆上的定位圈所对应的刻度来确定采样杆进入被测设备截面的插入深度，从而测得不同半径截面的颗粒浓度和颗粒速度。测量筒的筒底开口半径大于被测设备的测量孔半径，使实验过程中测量筒的筒底可紧密贴合被测设备的外壁面，采样杆可自由伸入测量孔中。其技术方案是：包括采样装置、校正装置、密封装置、定位装置和测量装置。所述采样装置由信号接口、手柄、采样杆构成。所述校正装置由校正圈、校正探针构成。所述密封装置是密封胶塞。所述定位装置是定位圈。所述测量装置由测量筒盖和测量筒构成，测量筒采用透明材料并标记刻度，初始刻度为零刻度，刻度由测量筒盖向测量筒底部增大。所述的校正圈设置在采样装置的手柄下方，校正圈上设有两枚校正探针，校正探针垂直于校正圈端面安装，用于校正采样杆端面两个正方形采样孔相对于被测设备中气流方向的角度，以测量被测设备中气流的切向速度和轴向速度。所述的密封胶塞采用阶梯状结构，更好地贴合采样杆和测量筒盖，使采样杆保持水平方向的伸缩，同时防止在实验过程中从被测设备的测量孔进入测量筒的固体颗粒泄漏。所述的测量筒采用透明玻璃材料制作并在其表面标记刻度。所述的定位圈右端面的初始位置对应测量筒的零刻度线。本技术的有益效果是：通过在测量筒上设置刻度，可以准确读取采样杆插入被测设备的深度，获取不同半径截面的颗粒浓度和颗粒速度。测量筒盖与采样杆之间带有密封胶塞，可以避免固体颗粒的泄漏，还能使采样杆保持水平方向的伸缩。测量筒采用透明玻璃材质，通过定位圈右端面与刻度的对应关系，可以有效地控制采样杆的插入深度。两枚校正探针所在的平面垂直或平行于地面以调整采样杆端面的两个正方形采样孔的相对于被测设备中气流方向的角度来采集切向速度或轴向速度，提高了实验数据的准确性。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是本技术的测量筒示意图；图3是本技术的采样杆端面示意图。图中，1、信号接口；2、手柄；3、校正圈；4、校正探针；5、采样杆；6、密封胶塞；7、测量筒盖；8、定位圈；9、测量筒；10、采样孔。具体实施方式为了更好理解本技术
技术实现思路
，下面提供具体实施例，并结合附图对本专利技术做进一步的说明。本技术提供了一种用于气固流化环境的新型采样装置，如图1所示的装置，该装置包括信号接口1、手柄2、校正圈3、校正探针4、采样杆5、密封胶塞6、测量筒盖7、定位圈8、测量筒9、采样孔10。采样装置的手柄2下方设有校正圈3，校正圈3上设有两枚校正探针4，校正探针4垂直于校正圈3端面安装,两枚校正探针4所在的平面垂直或平行于地面以用于校正采样杆端面两个正方形采样孔相对于被测设备中气流方向的角度，以测量被测设备中气流的切向速度和轴向速度。另外，密封胶塞6采用阶梯状结构，更好地贴合采样杆5和测量筒盖7，使采样杆5保持水平方向的伸缩，同时避免在实验过程中从被测设备的测量孔进入测量筒9的固体颗粒泄漏。本技术的测量筒9采用透明玻璃材料制作并在其表面标记刻度，初始刻度为零刻度，刻度由测量筒盖向测量筒底部增大，定位圈8右端面的初始位置对应测量筒9的零刻度线。通过采样杆5上的定位圈8和测量筒9外壁刻度可以准确读取5采样杆插入被测设备的深度，获取不同半径截面的颗粒浓度和颗粒速度。在实验过程中，测量筒9的长度大于被测设备截面的半径，测量筒9的筒底开口半径大于被测设备的测量孔半径，使实验过程中测量筒9的筒底可紧密贴合被测设备的外壁面，采样杆5可自由伸入测量孔中，通过采样杆5上的定位圈8对应的测量筒9的刻度以确定采样杆插入被测设备的深度。以上所述，仅是本技术的较佳实施例，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本适应新型的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于气固流化环境的新型采样装置，其特征是：包括采样装置、校正装置、密封装置、定位装置和测量装置，所述采样装置由信号接口、手柄、采样杆构成，所述校正装置由校正圈、校正探针构成，所述密封装置是密封胶塞，所述定位装置是定位圈，所述测量装置由测量筒盖和测量筒构成，采样装置的手柄下方设有校正圈，校正圈上设有两枚校正探针，测量筒上方设有测量筒盖，测量筒盖与采样杆之间通过密封胶塞固定，采样杆上设有定位圈，调整定位圈初始位置右端面对应测量筒的零刻度线。

【技术特征摘要】
1.一种用于气固流化环境的新型采样装置，其特征是：包括采样装置、校正装置、密封装置、定位装置和测量装置，所述采样装置由信号接口、手柄、采样杆构成，所述校正装置由校正圈、校正探针构成，所述密封装置是密封胶塞，所述定位装置是定位圈，所述测量装置由测量筒盖和测量筒构成，采样装置的手柄下方设有校正圈，校正圈上设有两枚校正探针，测量筒上方设有测量筒盖，测量筒盖与采样杆之间通过密封胶塞固定，采样杆上设有定位圈，调整定位圈初始位置右端面对应测量筒的零刻度线。2.根据权利要求1所述的一种用于气固流化环境的新型采样装置，其特征在于：所述的两枚校正探针垂直于校正圈端面安...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘昶，李安俊，朱丽云，王振波，孟凡志，宫宁，霍建伟，陈禹希，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：新型
国别省市：山东,37