发光装置的亮度补偿方法制造方法及图纸

本发明专利技术提出一种发光装置的亮度补偿方法。发光装置具有多个发光元件。本发明专利技术的亮度补偿方法包括以下步骤：取得这些发光元件中至少其中一个亮度异常发光元件的位置，以及改变亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度，以对亮度异常发光元件进行亮度补偿。

Brightness Compensation Method of Light Emitting Device

【技术实现步骤摘要】
发光装置的亮度补偿方法
本专利技术涉及一种亮度补偿方法，特别涉及一种发光装置的亮度补偿方法。
技术介绍
由次毫米发光二极管(MiniLED)或微发光二极管(MicroLED，μLED)所组成的次毫米发光二极管阵列(MiniLEDArray)或微发光二极管阵列(MicroLEDArray)装置，例如MiniLED显示器或μLED显示器，相比于传统液晶显示器而言，其因无需额外的背光光源而更有助于达成轻量化及薄型化等目的。然而，对于次毫米发光二极管或微发光二极管的发光装置而言，由于次毫米发光二极管或微发光二极管的边长尺寸相当小(例如小于200微米或更小)，当发现故障而产生亮度异常时，要对这么小尺寸的发光二极管进行修补或更换，基本上相当困难。
技术实现思路
本专利技术的目的为提供一种发光装置的亮度补偿方法，可以具有较低的修补困难度，而且可以达到亮度补偿的效果。本专利技术提出一种发光装置的亮度补偿方法。发光装置具有多个发光元件。亮度补偿方法包括以下步骤：取得这些发光元件中至少其中一个亮度异常发光元件的位置；以及改变亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度，以对亮度异常发光元件进行亮度补偿。在一个实施例中，亮度异常发光元件的位置对应为暗点或亮点。在一个实施例中，在取得亮度异常发光元件的位置的步骤之前，进一步包括：以至少一个预设灰阶值点亮发光装置。在一个实施例中，在以预设灰阶值点亮发光装置的步骤之后，进一步包括：提取这些发光元件的影像，以判断亮度异常发光元件的位置。在一个实施例中，在以预设灰阶值点亮发光装置的步骤之后，进一步包括：量测这些发光元件的电压或电流值，以判断亮度异常发光元件的位置。在一个实施例中，在对亮度异常发光元件进行亮度补偿的步骤中，改变亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度峰值或占空比(dutycycle)。在一个实施例中，在距离亮度异常发光元件第一距离有N个邻近发光元件，且N个邻近发光元件与亮度异常发光元件发出相同颜色的光线，其中，进行补偿亮度异常发光元件的邻近发光元件则有M个，M小于或等于N，且M、N分别为大于或等于1的正整数。在一个实施例中，当亮度异常发光元件的亮度L1与正常亮度L的差值为(L1-L)时，各进行补偿亮度异常发光元件的M个邻近发光元件的发光亮度介于L-(L1-L)与L之间。在一个实施例中，在距离亮度异常发光元件第二距离进一步具有P个邻近发光元件，且P个邻近发光元件与亮度异常发光元件发出相同颜色的光线，其中，进行补偿亮度异常发光元件的邻近发光元件则有Q个，Q小于或等于P，且P、Q为大于或等于1的正整数。在一个实施例中，当亮度异常发光元件的亮度L2与正常亮度L的差值为(L2-L)时，各进行补偿的亮度异常发光元件的Q个邻近发光元件的发光亮度介于L-(L2-L)与L之间。在一个实施例中，在对亮度异常发光元件进行亮度补偿的步骤之前，进一步包括：去除至少部分的亮度异常发光元件与至少一个邻近发光元件之间的混光防止层。在一个实施例中，发光元件可以为次毫米发光二极管或微发光二极管。如上所述，在本专利技术的发光装置的亮度补偿方法中，先取得这些发光元件中至少其中一个亮度异常发光元件的位置后，再改变亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度，以对亮度异常发光元件进行亮度补偿。由此，本专利技术并不对亮度异常发光元件直接进行修补或更换，而是利用邻近正常的发光元件对亮度异常发光元件进行亮度修补，因此修补的困难度相当低，而且可以达到亮度补偿的效果。附图说明图1为本专利技术优选实施例的一种发光装置的亮度补偿方法的流程步骤图。图2为一个实施例的发光装置的示意图。图3为本专利技术优选实施例的发光装置的亮度补偿方法的另一流程步骤图。图4与图5分别为不同实施例的发光装置的示意图。具体实施方式以下将参照相关附图，说明根据本专利技术优选实施例的发光装置的亮度补偿方法，其中相同的元件将以相同的附图标记加以说明。本专利技术的发光装置例如但不限于为显示装置或背光模块。图1为本专利技术优选实施例的一种发光装置的亮度补偿方法的流程步骤图，而图2为一个实施例的发光装置D的示意图。请参照图1并配合图2所示，发光装置D具有多个发光元件。其中，发光元件可以为次毫米发光二极管(MiniLED)或微发光二极管(μLED)。上述所谓的“次毫米”发光二极管的边长尺寸可以例如大于100μm且小于等于200μm，而“微”发光二极管的边长尺寸可以例如小于等于100μm。本实施例的发光装置D是以μLED显示装置为例，因此，发光元件为μLED，且其边长尺寸例如是以50μm为例。在本实施例中，发光装置D(μLED显示装置)可以具有多个像素Y(如图2中虚线长方形所示)，这些像素Y具有可以发出同一种颜色的多个发光元件(微发光二极管，未绘示)。其中，每一个像素Y可以例如对应有至少一个微发光二极管。在一些实施例中，发光装置D(μLED显示装置)可以为单色的显示器，因此，所有的像素均具有相同颜色；在一些实施例中，发光装置D(μLED显示装置)的像素可以显示有三种颜色，例如红色(R)、绿色(G)与蓝色(B)；或是四种颜色，例如红色、绿色、蓝色与青色(C)或黄色(Y)或白色(W)，或其他，并不限制。上述的像素排列方式可以为直条式(Stripe)、三角形式(Delta)或马赛克式(Mosaic)。如图2所示，本实施例的发光装置D(μLED显示装置)的像素排列是以直条式为例，并具有可以显示三种颜色(R、G、B)的多个像素为例(像素Y为其中一种颜色)。本专利技术的亮度补偿方法可以对每一种颜色的像素(发光元件)各别做检测与补偿。以下，是以某一颜色的像素Y发光元件说明其亮度补偿过程。在图2的发光装置D中，每一个像素Y可以例如对应有一个微发光二极管。本实施例的正常亮度的微发光二极管可以对应以像素Y来表示，而亮度异常微发光二极管可以对应以像素X来表示。以下的说明中，“微发光二极管的位置”也等同于“像素的位置”。请再参照图1所示，发光装置的亮度补偿方法可以包括步骤S01为：取得这些发光元件中至少其中一个亮度异常发光元件的位置。这里所谓“亮度异常发光元件”的位置可以对应为暗点或亮点。换言之，亮度异常发光元件有两种情况，在以相同的预设灰阶值驱动同一种颜色的发光元件时，暗点指的是其亮度比正常的亮度低，而亮点指的是其亮度比正常的亮度高，两种均是本专利技术所述的亮度异常。在实际操作时，若以相同的预设灰阶值驱动同一种颜色的发光元件(微发光二极管)发光时，不同的发光元件的亮度本身就会有所差异，因此，可以例如以人眼来识别亮度异常发光元件的位置，或者也可以定义亮度和同一颜色发光元件的平均亮度差异超过例如10％则视为异常的发光元件。在上述步骤S01中，需先取得一个亮度异常发光元件的位置(即像素X的位置)，才能对亮度异常发光元件(像素X)进行亮度补偿。因此，请先参照图3所示，其为本专利技术优选实施例的发光装置的亮度补偿方法的另一流程步骤图。在图3中，除了图1的步骤S01与步骤S02，在取得一个亮度异常发光元件位置的步骤S01之前，进一步可以包含两步骤：即步骤R01与步骤R02，或者步骤R01与步骤R03，又或者，包含三个步骤：步骤R01、步骤R02与步骤R03。步骤R01为：以至少一个预设灰阶值点亮发光装置D。具体来说，在本实施例中，需以某一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光装置的亮度补偿方法，所述发光装置具有多个发光元件，所述亮度补偿方法包括以下步骤：取得所述发光元件中至少其中一个亮度异常发光元件的位置；以及改变所述亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度，以对所述亮度异常发光元件进行亮度补偿。

【技术特征摘要】
2017.10.27 TW 1061372141.一种发光装置的亮度补偿方法，所述发光装置具有多个发光元件，所述亮度补偿方法包括以下步骤：取得所述发光元件中至少其中一个亮度异常发光元件的位置；以及改变所述亮度异常发光元件的至少一个邻近发光元件的亮度，以对所述亮度异常发光元件进行亮度补偿。2.根据权利要求1所述的亮度补偿方法，其中所述亮度异常发光元件的所述位置对应为暗点或亮点。3.根据权利要求1所述的亮度补偿方法，其中在取得亮度异常发光元件的所述位置的步骤之前，进一步包括：以至少一个预设灰阶值点亮所述发光装置。4.根据权利要求3所述的亮度补偿方法，其中在以所述预设灰阶值点亮所述发光装置的步骤之后，进一步包括：提取所述发光元件的影像，以判断亮度异常发光元件的所述位置。5.根据权利要求3所述的亮度补偿方法，其中在以所述预设灰阶值点亮所述发光装置的步骤之后，进一步包括：测量所述发光元件的电压或电流值，以判断亮度异常发光元件的所述位置。6.根据权利要求1所述的亮度补偿方法，其中在对所述亮度异常发光元件进行亮度补偿的步骤中，改变所述亮度异常发光元件的所述至少一个邻近发光元件的亮度峰值或占空比。7.根据权利要求1所述的亮度补偿方法，其中于距离所述亮度异常发光元件第一距离有N个所述邻近发...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈显德，
申请(专利权)人：优显科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71